テクノアルファ

品川区,  東京 
Japan
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  • 小間番号1520


パワーデバイスで必要とされる全ての電気特性検査に1台で対応可能なテストシステムを紹介します。ご来場、お待ちしております。

ブースでは、SPEA社製パワーデバイス用電気特性検査システム DOT800Tを紹介します。DOT800Tは、パワーデバイスで必要とされる全ての電気特性検査に1台で対応するテスターです。アプリケーションとしてはウェハ、ディスクリート(Si、SiC、GaN)、 IPM、DBC、AMB、IGBTモジュールに対応し、全てのパワーデバイス・アプリケーションに対応した高電圧・ 高電流出力モジュールを選択可能です。

メーカーであるSPEA社はイタリアに本社があり、テスタ、コンタクトユニット(プローブ)、ソフトウェア、 アプリケーション開発全てをパッケージングしたターンキー・ソ リューションを提供しています。

また、当社パワー半導体製造プロセスの後工程で使用されるワイヤボンダやリフロー装置などの半導体製造装置や、エレクトロニクスメーカー向けの材料、大学・研究所等向けの研究開発用の小型の機器ならびに、液晶関連の部品、材料及び装置等の仕入れ・販売を行っているほか、顧客の要望に応じた商品の開発、大学との産学協同にも取り組んでいます。

ブースではパワーデバイス用電気特性検査システムの他にも、当社取り扱い製品に関するお問い合わせ・ご質問に対応いたします。お気軽にご相談ください。

皆様のご来場を心よりお待ちしております。


 出展製品

  • SPEA DOT800T
    SPEA社製パワーデバイス用電気特性検査システム DOT800Tは、パワーデバイスに必要な全ての電気特性検査を1台で対応するオールインワンテスタです。ウェーハレベルから最終製品テストまで、あらゆるパワーデバイス・アプリケーションでのISO、AC、DCテストがこの1台のテスタで実施可能です。...

  • DOT800Tは、従来のシリコンデバイスだけでなく、窒化ガリウムおよびシリコンカーバイド技術のテストにも対応しており、高電圧・高電流出力モジュール、高周波および低電流測定機能で、それらの性能範囲をカバーします。品質と信頼性を保証するために、完全で正確な動的テスト、静的テスト、および絶縁テストシーケンスを使用して、実際の利用条件下での正しいデバイス動作が検証されます。 これら全ての機能が、大量生産環境向けに設計され、高スループットのモジュール式で構成可能なテスターに搭載されています。

    • パワーデバイスに必要な全ての電気特性検査を1台で対応
    • ウェハ、ディスクリート(Si、SiC、GaN)、IPM、DBC、AMB、IGBTモジュールに対応
    • 全てのパワーデバイス・アプリケーションに対応した高電圧・高電流出力モジュールを選択可能
    • 25nH以下の寄生インダクタンス(配線インダクタンス)、過電圧は常にブレークダウン電圧以下
    • マルチ・コアテスト構造により、ISO、DC、ACの個別テストステーションで並列、非同期テストモードに対応

    パワーデバイス用電気特性検査システムDOT800Tはマルチコア構造で、1〜6個の独立したテストコアを装備しています。専用のステーションでISOテスト、ACテスト、DCテストを実行でき、それぞれに専用の独立したコントローラーがあります。1つのシステムで、6つの強力なテスターの機能と効果を得ることができます。
    各コアは、特定のテスト要件と操作フローに従って、AC、DC、またはISOテストステーションに割り当てることができます。構成は拡張性があり現場でアップグレード可能であるため、テスターのセットアップをさまざまなデバイス要件に適合させることができます。各テストコアコントローラがテストリソース、計測器接続、およびテストプログラムの実行を管理するため、さまざまな異なるテストプログラムを確実に並列にも非同期モードでも実行する事が可能です。