プローブカード、テストソケット、テスタ、ウェーハプローバ等、最新のテストソリューションをご紹介いたします。
ぜひ当社ブースへお越しください。
・ SOCやAIプロセッサ等のロジックデバイスに適したプローブカード「MEMS-V」と「MEMS-SP」
・ 1枚で2,500DUT、250,000ピンまでの針立てが可能なメモリデバイス向け「U-Probe」
・ 共通プラットフォームとアプリケーションモジュールを自由に組み合わせられる半導体テスタ
・ 研究開発から量産まで、様々なニーズに適したウェーハプローバ
・ 高周波デバイスや小型パッケージの測定に適した「J-Contacts」
・ 接触安定性が高く、製品寿命の長い「BeeContacts」