ブルカージャパン ナノ表面計測事業部ブースでは皆様の課題解決に直結する各種計測ソリューションをご提案致します。
サブナノスケールの計測技術の世界標準
製品ラインナップ一覧
■半導体向け全自動原子間力顕微鏡 ■半導体／産業用Ｘ線計測装置 ■半導体フォトマスクリペア装置 ■半導体向けナノインデンター（微小押し込み・硬さ計） ■半導体向け全自動白色干渉計 ■卓上CMPプロセス評価装置 ■ナノスケール赤外分光分析装置（半導体向け欠陥分析）