マーポス

大田区,  東京都 
Japan
https://www.marposs.com/jpn/
  • 小間番号2105


非接触式厚さ測定ゲージ、クロマティック共焦点および干渉法技術に基づくソリューションを中心にご提案いたします。

マーポス株式会社は、世界のものづくりのパートナーを目指すイタリアのマーポスグループの日本法人として1970年に設立されました。
製造工程における機械加工中、加工後に使用する精密測定、検査及びプロセス管理システムを自動車・半導体・バイオメディカルなどさまざまな産業界へ提供しています。

展示品
・非接触式厚さ測定ゲージ(インターフェロメトリ技術)
・非接触式距離/厚さ/膜厚測定機(クロマティックコンフォーカル技術)
・接触式/非接触式ハイブリッドアプリケーション 他

Exhibitor’s TechSPOT(出展者セミナー)@東4ホール主催者室
・12月14日(木)10:30 ~ 11:20 ー 最先端の半導体製品 実現への解決策!ナノレベルの厚さ測定と形状検査の新提案

エンジニアが技術的なご相談やテストのご要望を承ります。ブースへのご訪問お待ち申し上げております。


 出展製品

  • NCG
    干渉テクノロジーを利用した非接触厚さ測定ゲージです。光波が測定対象ワークの異なる表面の接合面で反射し、戻された干渉によって層の厚さを計算します。...

  • さまざまなタイプのワーク、ガラス、プラスチック、シリコンウェハーの厚さを加工中に制御することを目的とした製品です。赤外線光源により、不透明な物質でも測定できます。

    NCGは高速処理ゲージでいかなるマシンにも接続でき、ワークの厚さを正確かつ迅速に制御できます。技術データの指定限度内であれば、ドライ環境やウェット環境でもフィクスチャーまたはマシン内で使用可能です。

  • P3CF
    共焦点技術を採用したP3CFは、基準面からワークの表面までを、距離として厚さを非接触測定します。接触式プローブと光学式プローブを組み合わせたハイブリッド測定として構成することも可能です。...

  • 接触式ゲージと非接触式ゲージを1つのアンプに接続して使用することが可能です。(それぞれ最大2つ接続可能)
    接触式ゲージを基準面、非接触式ゲージをワーク面にすることで、ワークを傷つけることなく段差測定が可能です。
    フットプリントとコストを削減することが可能となり、ゲージの組み合わせにより様々なアプリケーションに適用できます。
  • STIL ZENITH コントローラー
    クロマティックコンフォーカル技術を使用したコントローラーの新たな標準となる製品です。非常に高い分解能で反射面などあらゆるタイプの表面や材質の距離、厚さを測定できます。...

  • ZENITHコントローラーは多様なSTILポイントセンサーヘッドと併用することにより、卓越した測定性能(ナノメートルの精度)を発揮します。 堅牢性と信頼性を備えた製品として工業環境や研究室の環境での使用に適しています。 5000Hzの最大測定周波数を備え、さまざまなアプリケーションや透明、不透明、光沢、拡散などあらゆるタイプの表面反射率に対応するソリューションとして真価を発揮します。