堀場製作所

京都市南区吉祥院宮の東町,  京都府 
Japan
http://www.horiba.com/jp/semiconductor/
  • 小間番号4320

分析×制御でつくる、持続可能な未来

HORIBAは、持続可能な社会の実現に向けた、先端材料・半導体分野への革新的なソリューションを提案しています。半導体製造プロセスにおける制御とモニタリングを中心として、先端材料の研究開発の最先端ソリューションの提供から、排ガスや廃液監視などのファシリティの管理に至るまで、多彩なアプリケーションでお客様のオペレーションをサポートします。


 出展製品

  • レティクル/マスク異物検査装置 PD10-EX
    異物検出・除去を1台で完結、半導体製造プロセスの効率化・歩留まり向上を徹底追求...

  • 半導体製造の露光工程に欠かせない異物検査装置のPDシリーズは、1984年の発売以来、お客様のニーズに応えながら進化を続け、今年で40年の節目を迎えました。

    新製品PD10-EXには、好評をいただいている従来機PD10をベースに異物除去機能を搭載し、検出から除去まで1台で完結することが可能となりました。さらに、レティクル/マスクの自動搬送に対応するユニットを自社開発し、半導体製造プロセスの効率化と歩留まり向上に貢献します。

  • AMC*モニタリングシステム *Airborne Molecular Contamination
    電子デバイス産業クリーンルーム内の分子状汚染物質を連続監視...

  • 生産工場内に空気中の分子状汚染物質がppbレベルの極めて低い濃度であっても、半導体製造における製品品質に大きく影響します。AMCモニタリングシステムは、分析技術者のスキルに頼ることなく多点の連続自動測定が可能です。
  • 走査型プローブ顕微鏡(SPM)-ラマン分光複合装置
    1台で同一箇所の物理的・化学的特性を複合的に分析可能...

  • 原子間力顕微鏡 (AFM) とラマン/フォトルミネセンス分光装置を統合し、微細部の同一箇所の物理的および化学的特性の測定を可能にします。またサンプルの移動に伴う装置の調整時間を削減でき、研究効率向上にも貢献します。

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