Semight Instruments

Suzhou,  Jiangsu Province 
China
http://www.semight.com
  • 小間番号6231


A leading provider of global testing instrument & equipment.

Semight is a leading provider of global high-end testing instrument and equipment. Our company supports a wide range of products covering fields from R&D to high volume manufacturing in optical network test, optical chip test, electronic measurement and power semiconductor test.

Semight’s testing instruments include High-Speed Bit Error Ratio Tester, Network Traffic Analyzer, Broadband Sampling Oscilloscope, High-Precision Wavelength Meter and Digital Source Measure Unit. In addition, our company delivers Optoelectronic Hybrid ATE, Laser Chip Burn-in System, Laser Chip Tester, Silicon Photonics Wafer Tester, Power Chip Tester, Wafer Level Burn-In System and Wafer Level Reliability Test System to global customers.

Visit www.semight.com for more information.


 出展製品

  • SiC KGD Die Handler PB6600
    PB6600 KGDシステムはターレット式プラドフォームをベースに世界TOPレベルのUPHを達成しました。お客様のニーズにコミットしたソリューションをご提案し、高いテスト性能にて日本のお客様から高い評価を頂いております。...

    • Strong expandability

      The handler with transport part (PB6600) is separated from the test part
    • Six parallel tests

      Support up to 6 test stations, different test stations support different test conditions and items
    • Dynamic and static test

      Satic test 2000V/600A ,
      Dnamic test 1200V/2000A
    • Accurate test results

      Room temperature ~ 200 ℃,
      accuracy<±3°C,resolution:0.1°C
    • Hard docking

      Stray inductance of the dynamic test system≤50nH
    • Nitrogen pressure test

      The sealed cavity design is adopted for the probe card, with the nitrogen pressure monitoring function, which can maintain pressure and prevent arcing;
    • UPH capability >1400pcs

      Single test station test time≤1s
  • Wafer Level Burn-In System WLBI3800
    WLBI3800FAはパワー半導体向けのウエハレベルバーンインシステムです。最先端技術を凝縮し、一度に3枚のウエハHTGBとHTRBテストを独立バーンインテストさせます。完全自動化されたロード/アンロードで開発され、2、3、4、6、8インチのウエハウェーハに対応しています。デュアルカセット設計によりシームレスなエージングが可能です。また、エージング条件を自動で切り替えることができ、各製品のVthテストを実施できます。...

    • Automated Loading and Unloading

      Automatically switche between HTGB and HTRB
    • High Precision Positioning

      Probe mark repositioning accuracy reaches ±25μm
    • Data Traceability

      Support map data binding for tracing and recording each test data
    • Flexible Burn-in Plans

      Burn-in plans can be flexibly configured to meet varying wafer burn-in requirements
    • High Precision Leakage Current Testing

      Maximum precision leakage current resolution up to 0.1nA
    • Multi-Mode Burn in

      Automatically switches between HTGB and HTRB 
    • Integrated Testing Functions

      Integrates Vth parameter testing
      Support high-density probe cards and high-voltage chucks
      Support up to 2112 dies simultaneously
    • Temperature Control

      Temperature uniformity ≤±3℃, accuracy ≤1℃, and resolution of 0.1℃
  • High Voltage Parametric Test System WAT6300
    Semightの WAT6300はシリアル高電圧半導体パラメータテストシステムとしてリリースいたしました。垂直型および汎用型の高電圧テストを選択できるように対応し、高速かつ正確な高低圧直流測定や容量測定を行います。垂直型テストシステムでは低電圧低漏れ電流マトリクスとCHUCKへの単一出力の垂直型高電圧マトリクスが内蔵され、システムは3500Vの高電圧使用条件下で最大24チャネルの出力に拡張しました。600V利用条件を達成。...

    • Self-developed hardware resources

      Self-developed SMU & HV-SMU, PGU, Low-leakage Switch Matrix,
      HV Switch Matrix
      Stable supply chain, short lead time
    • 3500V high voltage

      Meet very high voltage test for SiC, GaN
    • Flexible configuration of Pin number

      Support 48 pin full kelvin pins
    • High precision

      System leakage current < 1pA
      Extremely low current measurement
    • SECS/GEM compliance

      Easy integration to customer EAP or factory automation
    • Built-in Maintenance software

      CAL/DIAG/PV
      Fast troubleshooting and diagnostic of hardware problem
    • 48pin 230mm-diamter probe card

      Protect customer investment on probe card, low migration cost to new tester
    • Compatible with mainstream probers

      TEL P8XL/P12/P12XL/Precio XL, TSK UF200/UF3000/UF3000EX, etc.
  • Wafer Level Reliability Test System WLR0010
    SemightのWLR0010 Multi-siteウェーハレベル信頼性試験システムはJEDEC信頼性試験基準に基づいて開発された信頼性試験システムです。主にテスターとプローブステーションで構成され、TDDB、HCI、NBTIなどの機能試験を対応。試験システムの対応温度範囲は最高200℃まで達成。同時にアルゴリズムモデルを使用してデータを分析し、製品のプロセス技術の欠陥を分析することが可能です。システムの各チャネルには独立した過電流保護機能が装備されており、デバイスの安全性を確保します。...

    • Custom Semi-automatic Probe Station

      Supports 4-12inch wafers.
    • Multi-site Testing Capability

      Can test up to 16 sites simultaneously
    • Nitrogen Protection

      Platform unificationPrevents wafer oxidation (non-pressurized)
    • Real-time curve display

      Real-Time Wafer Map and Test Curve Display
    • Semight Instruments high-precision source meter

      TDDB, HCI, NBTI, HTGB, Vth, and other reliability test modes
    • Self-developed SMU

      Adopt Semight high-precision source meter
  • Single-Channel High-Voltage Precision SMU S3030F
    SemightのS3030Fはコンパクトサイズにて単一チャネルの高電圧・高電力電源/測定ユニットです。電圧と電流の同時出力および測定を対応。最大±3500V、±120mA(直流)、10 GΩ、180Wの電力出力を提供、パワー半導体特性、GaNやSiCの特性評価、複合材料、高電圧漏れ電流などの試験および研究分野で広く利用されています。S3030Fは従来のSMU SCPIコマンドに対応しており、テストコードの移行はスムーズで素早いです。...

    • High range

      Range:±3500 V、±120 mA(DC)、180 W
    • High resolution

      The minimum measurement resolution can reach 1 fA/100 μV
    • High sampling rate

      Supports up to 1M ADC sampling rate
    • Threshold trigger

      Hardware high-speed IO, capable of threshold triggering, enabling efficient interaction between output measurement values and user systems