エスペック

大阪市北区天神橋,  大阪府 
Japan
http://www.espec.co.jp
  • 小間番号1211

半導体は、電子機器・自動車・生成AI などの先端技術に欠かせないものであり、高い信頼性と高機能が求められています。

さらに、次世代半導体の高集積化により温度・電気的特性評価が重要となります。

エスペックでは、次世代半導体の実用化に向けた試験課題に最適な試験装置をご提案いたします。


 出展製品

  • エレクトロケミカルマイグレーション評価システム
    高温高湿環境と通電により絶縁不良を加速させ、抵抗値変化を測定することで絶縁劣化を評価します。パソコンによる自動計測、データ収録およびデータ処理のシステム化によって、より正確な接続信頼性評価が可能です。...

  • ・国際標準対応の計測器による高精度な測定

    ・ストレス定電圧(ストレス電圧・測定電圧)は、100V仕様とオプションの300V、500V仕様をご用意 ※1000V、2500Vの高電圧にもカスタマイズで対応可能

    ・独自の瞬断検出回路により、瞬時のマイグレーション現象を検知

    ・コンデンサ絶縁劣化特性の自動評価が可能

  • SiC/IGBT対応パワーサイクル通電試験装置
    パワー半導体は、エネルギーの効率化から従来のシリコン(Si)よりも低導通損失、高速スイッチング特性を持つシリコンカーバイド(SiC)を用いて小型化を可能にしています。一方、小型化は単位面積・体積当たりの放熱量が増加するため熱管理を難しくしています。このため次世代パワー半導体デバイスを搭載した電力変換システムの小型化にとって、熱設計が重要な要素となってきています。...

  • 従来の試験規格に沿ったショートパワーサイクルからロングパワーサイクル試験と次世代パワー半導体をセラミック基板へ実装したパワーモジュールの信頼性を評価する技術として過渡熱抵抗測定を機能追加しました。

    ・解析機能:構造関数 算出手順(発明技術:特許2019-127344号)

    ・目的:初期状態から経時変化による容量と抵抗成分の変化を捉える

    ・手法:冷却法による過渡熱抵抗測定

    ・効用:構造部の放熱までの経路の劣化箇所を見つけることが可能

  • 恒温恒湿器 プラチナスJシリーズ
    消費電力を大幅に削減、豊富なオプションによりお客様のご要望に合わせて装置のカスタマイズが可能。省エネとハイパフォーマンスを両立した恒温恒湿器。...

  • ・温湿度範囲:-40℃~+100℃/20%rh~98%rh (型式:PL)

    ・Smart R&D(冷凍&除湿)システムにより、試験条件でメイン・サブの冷凍を切り替え、効率よく運転することで、消費電力を大幅に低減

    ・長期連続運転には給水タンクの追加や水漏れ対策のオプションもご用意

  • スポット冷却加熱装置
    試料を直接冷却・加熱し、チャンバーレスで温度特性評価が可能。先端のアタッチメントを交換することで温度環境下での半導体・電子部品の各種評価試験や材料試験の効率化に優れた試験装置。 ...

  • ・吹出温度制御範囲:-40℃~+180℃

    ・安定時温度変動:(先端ヒータータイプ)±1.0℃  (背面ヒータータイプ)±0.5℃

    ・温度変化速度(上昇:-29℃⇒169℃、下降:+169℃⇒-29℃)

     (先端ヒータータイプ)100℃/分

     (背面ヒータータイプ)10℃/分

    ・外寸:W560×H1376×D684mm

  • 卓上型無風恒温槽 ワンデバイスチャンバー
    AC100Vで使用可能、屈折率の低い観測窓を採用した無風恒温槽。半導体や実装基板の温度特性評価・熱解析の検証に最適。 ...

  • ・無風状態での槽内均一化と素早い温度変化で試験効率の向上を実現(温度範囲:-30℃~+130℃)

    ・卓上型で省スペースでの使用が可能(試験槽外法:W272×H130×D232mm+コントローラー:W220×H135×D320mm)

    ・低振動、配線短縮による観察・計測品質の向上

    ・観測窓内へのドライエアー配管を標準装備し、低温試験時の窓ガラスの曇りを防止