キーサイト・テクノロジー

八王子市,  東京都 
Japan
https://www.keysight.com
  • 小間番号3239


半導体設計から評価・製造までソリューションを展示しています。

キーサイトの展示ブースでは、チップレット設計者向けの強力なツール「W3650B Chiplet PHY Designer(新製品)」、パワーデバイスの特性評価を行う「B1506A Power Device Analyzer / Curve Tracer」、高精度な信号解析を可能にする汎用オシロ「InfiniiVision HD3 Series Oscilloscopes(新製品)」、業界最高の性能を誇る「PNA Network Analyzers」、およびワイヤボンディング欠陥を正確に特定する「Q3800A Electrical Structural Tester(新製品)」といった最新技術を駆使した製品が展示され、各製品が持つ先進的な機能と高い性能により、半導体の設計・解析・テストの各分野での効率化と精度向上を実現します。ぜひブースにお立ち寄りいただき、これらの革新的なソリューションをご体感ください。


 出展製品

  • W3650B Chiplet PHY Designer(新製品)
    Chiplet PHY Designerは、チップレット設計者がD2D PHY (D2D: Die to Die PHY) からD2D PHYまでシステムレベルでチップレットをモデル化および解析するのを支援する製品ソリューションです。...

  • W3650B Chiplet PHY Designer は以下を含みます。

    • Chiplet PHY Designer
    • Chiplet PHY Simulator
    • Via Designer
    • Controlled Impedance Line Designer (CILD)
    • EM Design that enables the creation and import of parameterized 3D components into ADS

    W3650B Chiplet PHY Designer は以下を含むスペシャルバンドルもご用意しています。

    • Simulate UCIe
    • Measure VTF
    • Analyze forward clocking
  • InfiniiVision HD3 シリーズ オシロスコープ(新製品)
    InfiniiVision HD3シリーズ・オシロスコープは、高性能モデルで培ってきた低ノイズ・フロント エンドと新開発の14ビットADCにより、微小信号をこれまで以上に正確に捕捉します。...

  • デジタルデバッグを行う際に、カスタムASIC(アプリケーション専用集積回路)を搭載したポータブルオシロスコープが便利です。このオシロスコープは、他の汎用的な12ビットオシロスコープに比べて4倍の垂直分解能と1/2のノイズ・フロアを実現しているので、ノイズの中に埋もれた微小な信号を捉え、わずかな信号の不具合や発生頻度の低いグリッチのような信号の異常を捉えることができます。これにより設計のトラブルシューティングを行い、製品の品質を確保することができます。

    • 14ビットのアナログ/デジタル・コンバータ(ADC)により、垂直分解能を4倍に向上
    • 50 µVRMSのノイズ・フロアでより小さな信号を検出
    • 妥協のない130万波形/秒の更新レートで発生頻度の低い異常信号を検出
    • 100Mポイントのロングメモリにより、より高速なサンプリング・レートでより長時間キャプチャ
    • 新しいGUIにより最大4つの独立した信号を表示し、スケーリングを個別に制御。
    • ゾーン・トリガで画面上にボックスを描くだけ、信号を瞬時に分離 。
    • フォルトハンター機能により、信号の特性解析、エラーの検出、自動保存が可能。
    • 高速フーリエ変換、ヒストグラム、ボードプロットによる高度な解析。
  • S8050 Electrical Structural Tester(新製品)
    キーサイトのElectrical Structural Testerは、ワイヤボンディングの欠陥を正確に特定するためのキャパシティブベースのテストソリューションです。高度な Part Average Test(PAT)解析を活用し、既知の良品から基準を確立することで、IC(集積回路)内の近接ショートなどの偏差を迅速に検出します。この機能により、製品品質管理が強化され、製造効率が大幅に向上します。...

  • [新技術] 微小容量測定によるICパッケージ潜在不良検出

    ボンディングワイヤの近接ショート検出

    ■ 歩留まり98.5%以下のロット割合を11%から1%に低減

    ボンディングワイヤやリードフレームの近接ショート不良や金属小辺の混入は、ICテスタやX線検査だけでは検出が難しく、ICの初期不良の原因となります。キーサイト独自のキャパシティブテストは、導入が容易な電気検査でありながら、高感度で検出できます。実際、導入ラインでは、歩留まり98.5%を下回るロットの割合を、9か月間で11%から1%までに削減できました。
     

    ■ 電気的測定だから、数秒で欠陥検出

    X線のように撮像、判定しませんので、短時間で検査できます。また、検査システムは、比較的小規模であり、既存のテスタに搭載も可能です。
     

    ■ センサとワイヤ間容量を測り、欠陥検出

    キーサイト のVTEPを応用したキャパシティブテストでは、IC表面に近づけたセンサと、ICパッケージ内のワイヤ部分との間に発生する微小な容量を測定し、欠陥を検出します。例えば、ワイヤがたわむ、ワイヤが近接すると、センサ・ワイヤ間の距離やワイヤ面積に変化が生じるため、容量にも微量な変化が生じます。この僅かな変化を捉え、欠陥を検出します。
  • B1506A 回路デザイン用パワーデバイス・アナライザ/カーブトレーサー
    Keysight B1506A 回路デザイン用パワーデバイス・アナライザ/カーブトレーサーは、パワーエレクトロニクス回路設計者が用途に適したパワーデバイスを選択して、パワーエレクトロニクス製品の価値を最大限に高めることができる完全なソリューションです。 ブレークダウン電圧やオン抵抗などのIVパラメータだけでなく、3端子FETのキャパシタンス、ゲート電荷、パワー損失など、関連するすべてのデバイスパラメータをさまざまな動作条件で評価できます。...

  • B1506A共通の特長

    • 最大3 kV/1500 Aの広い動作範囲
    • 完全に自動化された高速温度テスト(-50 °C~+250 °C)
    • パワーデバイス(半導体およびコンポーネント)のデータシートの自動作成
    • 自動記録機能によるデータ損失の防止

    B1506A IVパッケージの特長

    • パッケージデバイスとオンウエハーデバイスの完全に自動化された高速IV測定(Ron、BV、リーケージ、Vth、Vsatなど)
    • IVパルス幅が狭いので(最小10 μs)、デバイスの自己発熱を防いで、実際のデバイス性能を評価することが可能
    • オシロスコープ表示(タイムドメイン表示)では実際の電圧/電流のパルス波形をモニターできるので、確度の高い測定を実現可能
    • スケーラブルな構成で、CV/Qg測定機能を追加したり、電流範囲を20 Aから500 A、1500 Aに拡張可能

    B1506Aフルパッケージの特長

    • IVパッケージのすべての機能
    • パッケージデバイスのトランジスタの入力/出力/逆伝達キャパシタンス(Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres)およびゲート抵抗(Rg)を測定可能(3 kV)
    • パッケージデバイスのゲート電荷(Qg)曲線測定
    • パワー損失(伝導/ドライブ/スイッチング損失)の計算

    B1506Aは、広い電圧/電流範囲(3 kV/1500 A)、広い温度測定範囲(-50 °C~+250 °C)、高速パルス機能、サブnAレベルの電流測定分解能など、基準に満たないデバイスを実際の回路動作条件で特定するのに役立つ機能を備えています。 独自のソフトウェアインタフェースを採用しているため、正式なトレーニングを受けなくても、使い慣れたデータシートのフォーマットでデバイスの特性を簡単に評価できます。 テストフィクスチャ内に統合されたスイッチング回路は、テストの完全な自動化をサポートし、高電圧テストと大電流テストの自動切り替えや、IV測定とCV測定の自動切り替えを行うことができます。

    さらに、独自のプラグイン・スタイルのデバイス・テスト・フィクスチャ・ソケット・アダプタにより、ケーブル接続の必要性をなくし、人為的なエラーを低減します。 B1506Aは、温度特性評価の完全な自動化もサポートしています。 これは、内蔵のサーモストリーム制御機能または温度プレートのいずれかを使用して行うことができます。 DUTがB1506Aの測定リソースに近接しているため、恒温槽までケーブルを延長した場合に発生する大きな寄生成分が存在しません。

    このため、最大1500 Aの超大電流でも発振することなく、低温および高温の両方で正確に評価することができます。このようなB1506Aの機能は、最終製品の価値を最大限に高め、製品開発サイクルを加速し、パワーエレクトロニクス回路のデザインに大変革をもたらします。

    IVパッケージ(H20、H50、H70)の価格は従来のカーブトレーサーの価格と同等ですが、B1506Aでは、高度な機能が追加されています。 また、B1506A IVパッケージ(H20、H50、H70)はアップグレード可能で、電流範囲を拡張したり、CV/Qg測定機能(オプションH21、H51、H71)を追加することもできます。

    B1506A IVパッケージ

    • B1506A-H20 20 A/3 kV IV測定
    • B1506A-H50 500 A/3 kV IV測定
    • B1506A-H70 1500 A/3 kV IV測定

    B1506Aフルパッケージ

    • B1506A-H21 20 A/3 kV IV/C-V/ゲート電荷測定
    • B1506A-H51 500 A/3 kV IV/C-V/ゲート電荷測定
    • B1506A-H71 1500 A/3 kV IV/C-V/ゲート電荷測定
  • PNAシリーズ ネットワークアナライザ
    半導体向け、基板・材料・部品評価に最適な業界最高性能のネットワークアナライザ...

    • 世界中の70%以上のエンジニアリングチームから信頼をいただいています

      研究開発( R&D)において、キーサイトのベクトル・ネットワーク・アナライザ(VNA)は、測定インテグリティーを提供し、理解を深めてより優れた設計を実現するのに役立ちます。生産ラインでは、費用対効果の高いベクトル・ネットワーク・アナライザがパーツを競争力のあるコンポーネントに変換するために必要なスループットと再現性を提供します。 すべてのキーサイトのベクトル・ネットワーク・アナライザは、線形/非線形デバイスの特性評価に関するキーサイトの専門知識を結集した究極のアナライザです。 ベンチ、ラック、屋外いずれでも、より正確な測定を実現可能にします。

    • 業界最高性能のマイクロ波ネットワーク・アナライザで、最も困難な測定の問題を解決可能。
    • 最小の不確かさと最高の安定度でSパラメータを測定可能。
    • アプリケーションによるセットアップの簡素化により、コンポーネントを効率的に特性評価可能
    • 5G/6G /半導体パッケージ向け、基板・アンテナ用素材評価に最適
    • 誰でも簡単に、高精度な誘電率・導電率測定が可能

    • 最大~330GHzまでミリ波帯における素材評価が可能