ケミトックス

大田区,  東京都 
Japan
http://www.chemitox.co.jp/
  • 小間番号3641

株式会社ケミトックスは設立50年の実績を持つ、第三者試験機関です。
プラスチック材料の物性評価をはじめ、パワーデバイス・プリント配線板信頼性評価
鉄道車両・航空機用火災・毒性試験、太陽電池評価試験サービスを提供しています。
各種半導体製品を始めとして、産業機器・電気自動車(EV)関連製品の小型化・低発熱化のキーデバイスであるパワーデバイスに要求される信頼性は一層厳しくなっています。
ケミトックスは、過渡熱抵抗測定およびパワーサイクル試験を初め、熱衝撃試験など、パワーデバイス評価に欠かせない試験項目について、
日本で初めてISO/IEC 17025の認定を取得し、信頼性のある試験サービスを提供しております。

★米国A2LAのISO/IEC 17025認証試験機関

★パワーデバイス向けパワーサイクル試験

★材料評価用パワーデバイス試作・評価

★Max300℃・エレベータ式熱衝撃試験

★コネクタ・電子部品・プリント配線板の各種信頼性試験

★各種基板・材料およびパワーデバイスの熱抵抗評価


 出展製品

  • プリント配線板 信頼性試験
    ケミトックスでは一般的な信頼性試験を網羅しており、各種規格に基づいた試験の他に、お客様のご要望に応じたカスタマイズによる試験も可能です。また、試験サンプルの作製や試験後サンプルの故障解析にも対応しております。...

  • 製品を出荷するまでには各段階で多種多様な試験が行われます。中でも、製品の寿命や故障率を確認するために行われる試験が信頼性試験です。信頼性試験を行うことで、製品が設計目標通りの寿命になっているか、市場の要求品質を満足しているかどうかを評価します。品質要求は日に日に厳しくなってきており、市場に出す前の評価が最も重要とされています。

    ケミトックスでは、マイグレーション試験やHAST/PCT試験、熱衝撃試験、耐電圧/絶縁破壊試験、絶縁抵抗試験、耐屈曲性/耐折性試験などの一般的な信頼性試験を網羅しており、IPC、JEITA、JIS、JPCAをはじめとする各種規格に基づいた試験の他に、お客様のご要望に応じたカスタマイズによる試験も可能です。また、試験サンプルの作製も承っており、試験の提案からサンプル作製、試験実施、試験後の評価・故障解析に至るまでトータルサポートいたします。

  • マイグレーション試験・HAST/PCT・逆バイアス試験・V-t試験
    最大3,000 Vまで出力可能なバイアステスタやAC/DC10,000 Vまで印加可能な耐電圧試験機を多数保有しております。国内でもトップクラスの試験能力を有しており迅速な対応が可能です。...

  • 【マイグレーション試験(高温高湿バイアス試験)】

    プリント配線板に対し、高温高湿環境下で連続的な 電圧印加を行い、絶縁材料の劣化やそれに伴うイオンマイグレーション現象の発生を確認することで、絶縁信頼性の評価を行います。昨今の電気自動車や自動運転システムの開発の普及に伴い配線のファインパターン化が進み、マイグレーションに関して厳しい品質基準が要求されています。 ケミトックスでは、最大 3,000 V まで電圧印加可能なマイグレーションテスタを保有しております。マイグレーションテスタは微小電流の測定が常時可能で、絶縁劣化挙動も詳細にモニタすることができます。弊社の保有 ch 数は 700ch 以上と国内でもトップクラスの試験能力を有しております。試験目的に合わせて幅広い印加電圧を選択可能で、同時に多数のサンプルで試験実施できます。

    【HAST/PCT】

    HAST (High Accelerated Stress Test):不飽和プレッシャークッカー試験と PCT (Pressure Cooker Test):プレッシャークッカー試験は、プリント配線板や小型電子機器の標準的な信頼性評価試験方法です。高温高湿に加え、通常の使用環境よりも高い水蒸気圧の雰囲気に曝すことにより、試料内部への水分の浸透を促進し、加速試験を行うことができます。HASTは、不飽和加圧水蒸気状態にサンプルを曝し、PCTは、飽和加圧水蒸気(100%RH)状態にサンプルを曝します。PCTはサンプル表面に結露を生じさせるため濡れ性試験ともいわれ、HASTよりもさらに高加速で特性劣化を施すことができます。

    【逆バイアス試験】

    パワーデバイスのコレクタ(C)~エミッタ(E) もしくはドレイン(D)~ソース(S)に、特定環境下において高電圧を印加することで、ゲート絶縁膜やパッケージ等の絶縁性能を評価します。高温下で行う「高温逆バイアス試験」と、高温高湿下で行う「高温高湿逆バイアス試験」があります。 

    【V-t(Voltage-time)試験】

    複数の印加電圧(Voltage)に対し、絶縁破壊が生じる時間(time)をそれぞれ測定し、絶縁性能の時間依存性である V-t 特性を取得することで、市場における絶縁材料の寿命を推定することができます。プリント配線板やパワーデバイス等の電気機器に使用される絶縁材料の耐久性評価に用いられる試験です。AC/DC10,000 Vまで試験を実施することが可能です。

  • 熱衝撃試験・温湿度サイクル試験
    熱衝撃試験は、サンプルを短時間で高温と低温に交互にさらし温度差による負荷を与えることにより、温度変化に対する耐久性を評価します。「エレベータ式」、「ダンパー式」、「急速温度変化チャンバー」の各種試験装置を取り揃えています。 温湿度サイクル試験は、湿度制御をしながら高温と低温を繰り返すことにより、実環境に近い温度変化及び湿度の耐性を評価することが可能です。 サンプル作製や故障解析を行うことも可能です。...

  • 【熱衝撃試験】

    サンプルを短時間で高温と低温に交互にさらし温度差による負荷を与えることにより、温度変化に対する耐久性を評価します。「エレベータ式」は十数秒という非常に速い温度移行に対応することが可能です。「ダンパー式」は最高温度 300℃まで対応可能で、次世代 SiC パワーデバイスの耐熱要求の指標として将来的に要求される最大 300℃の評価が可能です。「急速温度変化チャンバー」は、試験温度を厳密に制御しながら試験を実施することが可能です。温度移行時間の厳密な制御が求められる、AQG324やJEDEC規格に対応しています。
    試験後の故障解析を行うことも可能です。

    【温湿度サイクル試験】

    湿度制御をしながら高温と低温を繰り返すことにより、実環境に近い温度変化及び湿度の耐性を評価することが可能です。試験前後および試験中の各種評価も併せて実施することも可能です。

  • 熱抵抗測定(JPCA/JEDEC/ASTM)
    プリント配線板、パワーデバイスの熱抵抗を測定いたします。パワーデバイスの部材メーカー様向けには部材単体から評価用デバイスの作成から測定まで行うサービスも提供しております。また、ASTM規格を参照した方法でTIM材単体の熱抵抗/熱伝導率の測定も可能です。...

  • 【JEDEC規格に準拠した過渡熱抵抗測定】

    パワーデバイスの  K-factor を事前に測定し、パワーデバイスに加熱用電流を通電、その後測定用の微小電流に切り替えることで冷却過程のジャンクション温度を測定します。 さらに測定結果を解析することで、パワーデバイス全体及び各構成部材の熱抵抗値も 評価することができます。グリースの有無の2パターンの測定結果からJEDEC JESD51-14 準拠の θjc(ジャンクションからデバイスケースまでの熱抵抗)の測定が可能です。

    【ASTM規格を参考にしたTIM材の熱抵抗/熱伝導率測定】

    TIMを介してデバイスをコールドプレート上に設置し、ジャンクションからコールドプレートまでの熱抵抗を、様々なTIMの厚みに対してT3STER搭載のパワーサイクル試験機を用いて測定します。測定結果を、横軸:TIMの厚み、縦軸:熱抵抗としたグラフにプロットし、解析を行うことでTIM単体の熱伝導率を算出します。

    【JPCA規格に準拠した定常熱抵抗測定】

    プリント配線板などの測定対象に測温機能付きの発熱TEGチップを貼り付け、TEGチップに規格既定の電力を印加し発熱させ、環境温度との温度差を測定することで測定対象の熱抵抗を測定します。空冷環境下で測定することで面内方向への放熱の熱抵抗を、水冷ブロック状にサンプルを固定して測定することでTEGチップから水冷ブロックへと向かう厚み方向の熱抵抗がそれぞれ測定できます。

  • パワーサイクル試験
    パワーデバイスに電力をON/OFFと周期的に加えた場合の、電気的あるいは発熱―冷却の繰り返し耐久性を評価します。過渡熱抵抗測定機構(T3STER)を組み込んでおり、チップ-基板-メタルベース板間のはんだ接合部、ワイヤ接合部断線などの故障現象を非破壊で検出します。...

  • 電気自動車(EV)普及の動きが活発化する中、信頼性評価および品質水準はより厳しいものとなってきております。モジュールは従来のSiだけでなく、次世代パワー半導体のSiC、GaN、Ga2O3、そしてダイヤモンドが研究・開発され、パワーサイクル試験による評価は欠かせないものとなっております。弊社パワーサイクル試験機は、TO247パッケージやケース型のシリコン(Si)、シリコンカーバイド(SiC)、窒化ガリウム(GaN)、酸化ガリウム(Ga2O3)などの半導体チップが搭載されたパワーデバイスを始めとし、PCU(パワーコントロールユニット)や直接冷却型のデバイスにも対応可能です。

    【装置スペック】

    MAX1800A/測定可能ch数:12ch/測定可能電圧:12V ×2台

    MAX2400A/測定可能ch数:16ch/測定可能電圧:12V ×2台

    合計4台の試験機を保有しております。

    【対応規格例】

    AQG-324、IEC60749-34、JEITA ED-4701/600