タカノ

千代田区神田須田町,  東京都 
Japan
https://www.takano-net.co.jp/portal/field/image_inspection/
  • 小間番号5221


出展内容をご覧いただきまして、誠にありがとうございます。

1987年に独自ブランドの画像処理検査装置を発売して以来、機能向上と用途の拡大を図り、ウェーハ検査装置、フィルム検査装置、ICパッケージ検査システム、FPD検査装置などの製品をラインナップ。様々な業界の品質管理にソリューションを提供しています。


 出展製品

  • 表面異物検査 WMシリーズ (CE・FDA対応,SEMI準拠)
    ノンパターンウェーハ上のパーティクルを高感度で検出可能な ハイコストパフォーマンス装置...

  • 半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせない検査システムです。
    ナノレベルのパーティクル(異物)を検出することが可能で、国内外にて数多く使用していただいております。光源には半導体レーザーを使用しており、ランニングコストの軽減になります。
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  • ウェーハ外観検査装置 Viシリーズ
    様々な検査にて柔軟に対応可能なハイコストパフォーマンス装置...

  • ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、5種類のラインナップからご提案できます。
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  • 全面膜ムラ検査装置 Thinspector
    1スキャンでウェーハ全面の膜厚測定、ムラ検査を高速に行い、抜けのない膜厚管理を行うことができます。...

  • 1スキャンでウェーハ全面の膜厚測定、ムラ検査を高速に行い、抜けのない膜厚管理を行うことができます。

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  • 全面高さ検査装置 ALTAX
    全面高さ・マイクロバンプ検査装置...

  • 半導体ウェーハやBGA、CSPなどのパッケージ基板に形成されたバンプの高さ、径およびコプラナリティを新型検査ユニット“Mervel”にて高速かつ高精度に測定します。
    独自に改良を重ねた光学系とデータ処理方法(Time Delay Scanning)の採用により、これまでの光切断方式にない高精度測定が可能となりました。
    ※ラインアップ:

    ・パッケージ向け ALTAX FS3/FS6:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/
    ・ウェーハ向け ALTAX 300EX:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax-300ex/

  • フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ
    高速度フィルム外観検査装置...

  • Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。
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