弊社ブースでは、材料、部品、半導体デバイスなどのあらゆる研究／開発フェーズにおけるオン・ウェハ特性評価や信頼性試験、不良解析などの作業効率化と導入コストの低減へのソリューションとともに、量産テストに貢献するソリューションをご提案します。
展示ブースでご紹介する製品／ソリューション
煩雑になりがちな配線もワンボックスで解決！パラメトリック・カーブ・トレーサ PCTシリーズ
お客様のご要件に合わせて、ケースレーのハイパワーSMUとソフトウェアを組み合わせ、半導体パラメータ・アナライザを構築するセットです。プローバ環境でのハイパワー・デバイス・テストや、製品化されたパッケージ・デバイスの真の実力値を貴社ラボ内で測定することが可能です。また、統合環境ソフトウェアACSを使えば、IV/CV/Pulseなど各種測定が簡単に実行できます。さらに煩雑になりがちな接続も、専用フィクスチャ・ボックスを使うことで、安全性・拡張性を担保しながら、デバイス試験を確実に実施できます。
【展示製品】制御ソフトウェアACS、各種SMU、テスト・フィクスチャ・ボックスなど
お客様のニーズに合わせてカスタム可能 信頼性試験システムなど
スイッチと測定器を組み合わせた多点測定システムを展示します。100箇所以上の測定点を巡回し経時変化を記録できます。電圧・電流・抵抗・温度データなどに対応し環境の情報と対象物の特性を逐次記録できるシステムです。 またSMUによるストレス印加や恒温槽と組み合わせることで、高効率な並列信頼性試験装置 "Shared-Stressテスト・システム" を実現しています。ご要望に応じた様々なカスタム機能を実装し、高並列の長時間ストレス試験システムが多数稼動中です。
【展示製品】自動特性評価ソフトウェア（ACS）、2636B型2chシステム・ソースメータなど
材料、半導体デバイス評価に最適！究極の半導体パラメータ・アナライザ
最先端半導体デバイスの評価に最適な半導体パラメータ・アナライザ4200Aを最新バージョンのClariusソフトウェアと共に展示致します。高感度IV測定、インピーダンス測定、超速IV測定のモジュールとそれらをシームレスで切り替える自動切り替えスイッチをサポートし、半導体デバイスの評価アプリケーションはもちろん、パワー半導体、ナノデバイス、先端材料評価に至るまで幅広い測定アプリケーションをカバーしています。
【展示製品】半導体パラメータ・アナライザ4200A-SCS、マルチスイッチ4200A-CVIV、4225-RPMなど
基本計測器を素早く統合！自動測定ソリューション
KickStartソフトウェアは、テスト・ベンチでよく利用される様々な基本測定器であるデータロガー、オシロスコープ、デジタル・マルチメータ、電源、SMU、任意波形/ファンクション・ジェネレータを素早く統合できます。展示ブースでは、テストのセットアップとデータの素早い視覚化や、オシロ+AFGなど、異なる計測器を組み合わせた自動計測デモをご紹介します。
【展示製品】バッテリ・シミュレータ2281S-20-6、データロガーDAQ6510、SMU2461、2シリーズMSOオシロスコープ、任意波形ファンクション・ジェネレータAFG30000シリーズなど
GaN,SiC波形の可視化／ダブル・パルス・テスト
パワーデバイスのスイッチング・パラメータ解析をするためのダブル・パルス・テスト・ソリューションを紹介します。展示では業界初であるRFアイソレーション技術を用いた新製品【TICPシリーズ IsoVu RFアイソレーション型電流シャント・プローブ】を使ったテスト構成をご覧いただけます。最高1GHzの周波数帯域と、高速で変化するコモンモード電圧に対応可能で、SiC/GaNなどを使用するパワーデバイスの測定に最適なプローブです。
【展示製品】IsoVuRFアイソレーション型電流シャント・プローブ、IsoVuアイソレーション絶縁プローブ、4シリーズB MSOオシロスコープ、高電圧差動プローブ（TMDP0200/THDP0200）、電流プローブTCP0020、任意波形/ファンクション・ジェネレータAFG31102、電源など