東海大学　土屋秀和研究室

平塚市,  神奈川県 
Japan
https://www.u-tokai.ac.jp/
  • 小間番号7753

メモリテストに着目したバウンダリスキャンテスタの開発及びバウンダリスキャンの教育事例について紹介します。

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208 装置、テスト
  • プリント基板/ワイヤボード（PCBまたはPWB)テスト、リペア
  • メモリテスト装置
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