日本セミラボ

横浜市港北区,  神奈川県 
Japan
http://www.semilab-j.jp
  • 小間番号5806

今年は”新製品”を含め32製品の装置をご紹介いたします。 是非!!日本セミラボへお立ち寄りください

日本セミラボ株式会社
For All Your Metrology Needs
※半導体検査測定装置の販売及び技術サービスをご提供しています。
・ キャリア ライフタイム測定装置 ・ Epi（エピ）膜厚測定装置 ・ パワーデバイス ・ COMS イメージャー
・ 分光エリプソメーター ・ キャリア移動度測定装置 ・ 量子ドット ・ メモリー
・ 結晶欠陥検査装置 ・ DLTSシステム ・ NAND ・ 抵抗率
・ トレンチ溝評価装置 ・ 結晶欠陥可視化装置 ・ SAWフィルタ ・ BAWフィルタ
・ 全自動拡がり抵抗測定装置 ・ イオン注入プロセスモニター

Categories

203 装置、検査及び測定
  • CV(キャパシタンス-電圧）プローブシステム
  • ウェーハ：基板測定/トポロジ/ナノトポグラフィ/平坦度測定/結晶方位
  • ストレス：屈折率/反射率及び伝導率測定
  • パーテクルモニター/分析器－気体、液体
  • 分光計：フーリエ変換赤外分光（FTIR)/減衰全反射FTIR(ATR-FTIR)/オージェ電子(AES)/SIMS
  • 抵抗率測定/4端子法/シート抵抗
  • 欠陥/パーテクル/バンプ/汚染検出、評価、検査
  • 膜厚：厚さ/均一性測定/エリプソメーター
  • 表面測定
  • 顕微鏡：原子間力顕微鏡（AFM)
    • 208 装置、テスト
  • 不良解析装置
  • 光学テスト装置
    • 402 太陽光発電システム
  • 測定及び管理技術
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