日本マイクロニクス

武蔵野市吉祥寺本町, 東京都
Japan
https://www.mjc.co.jp

プローブカード、テストソケット、テスタ、ウェーハプローバ等、最新のテストソリューションをご紹介いたします。

ぜひ当社ブースへお越しください。

Probe Card

実機展示：U-Probe / MEMS-V / MEMS-SP... More Info Less Info

・ SOCやAIプロセッサ等のロジックデバイスに適したプローブカード「MEMS-V」と「MEMS-SP」
・ 1枚で2,500DUT、100,000ピン以上の針立ても可能なメモリデバイス向け「U-Probe」

Tester

実機展示：半導体テスタ... More Info Less Info

・必要なテスト・モジュールを自由に組み合わせられる半導体テスタ

Wafer Prober

Wafer Prober... More Info Less Info

研究開発から量産まで、様々なニーズに適したウェーハプローバ

Test Sockets

実機展示：J-Contacts / Bee Contacts... More Info Less Info

・高周波デバイスや小型パッケージの測定に適した「J-Contacts」

・接触安定性が高く、製品寿命の長い「BeeContacts」