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ITOCHU Machine-Technos

  • Booth: 6807

伊藤忠マシンテクノスブースにおいては、前工程から後工程までの製造装置、各種検査装置の実機およびパネル展示を致します。

【製造装置】

1)熱処理装置(韓国 ZEUS社製) (パネル展示)

  ・パワー半導体向けのRTP(6"/8")

  ・独自の技術による急速熱処理が可能 (≤ 200℃/秒 )

  ・ウエハのストレスを最小限にする両面加熱や、特許取得のランプ・アレイによる最適な温度制御機能があり、温度を均一に保つ性能に長けております。

  ・Si、SiC、GaN等パワー半導体向けに特化した処理装置です。

【検査装置】

1)ウェハ膜厚・表面粗さ・ウェハ厚み・ウェハ反り・歪み計測装置 (ドイツ Sentronics社製) (実機展示)

  ・装置1台に8種類の複数の検査センサーの搭載可能な統合検査装置です。

  ・高タクトを実現します。(膜厚1,000点:100WPHを実現)

  ・抜き取りから全数検査まで幅広い用途に適した装置です。

2)ウェハ欠陥検査装置 (アテル社製) (パネル展示)

  ・ウェハ薄型工程に適した、ウェハ裏面専用の自動欠陥検査装置(AOI装置)

  ・薄型ウェハ、反ウェハの適したマニュアル用のマクロミクロ外観検査装置

  ・ウェハ裏面の欠陥情報を元に、表面のチップIDのOK,NG情報とのマージ機能を有しています。

  ・KRFファイルおよび各種チップデータとの取り込みが可能です。

3)マクロ欠陥検出センサー (オプティテック社製) (実機展示)

  ・目視検査では検出出来ないナノレベルの表面欠陥、目視検査の可視化が可能なセンサーです。

  ・搬送ローダーとのドッキングが可能になります。

4)AFM(韓国 Park systems社製)(パネル展示)

  ・Park NX-Waferは、半導体業界における最先端の自動AFMシステムです。

  ・ウエハファブリケーションの包括的な検査、欠陥レビュー、CMPプロファイリングを提供します。 

【梱包装置】

1)自動梱包装置(台湾 Easy Field社製)(パネル展示)

  ・FOUPやFOSBの梱包を完全自動化した装置です。(8"/12")

  ・梱包時にカセットの各種検査も可能です。

  ・ラベル印字/貼り付け、N2パージ対応

【発電システム】

1)燃料電池 (アメリカ Bloom Energy社製)(パネル展示)

  ・都市ガス、天然ガス、バイオガスを水素と反応させて電気を生み出します。

  ・非常時に重要電源を守るBCP対策として

  ・24時間365日電力を生成出来ます。

  ・CO2排出量20~50%削減可能

  ・1年以内に据付・稼働

是非、伊藤忠マシンテクノス株式会社 ブース (小間番号6807)にお立ち寄り頂きますようよろしくお願い申し上げます。


 Press Releases

  • (20241023)
  • (20241023)
  • (20241023)

 Products

  • ウェハ多機能測定装置 SemDex A(ドイツ:Sentronics社)
    ウェハ単層及び多層厚さ・反り・歪み・粗さ・膜厚などの完全自動化・高精度測定機...

  • ウエハの厚み・反り・歪みだけでなく、基板層の厚さ・TTV・積層ウエハの全体厚さ・ウエハ反り・歪み・平坦性は、単一の測定ランにおいて sub-µm精度で測定可能で、1台の機械で以上の項目をすべて測定することができます。

    また、検査ステージが豊富で全自動用搬送機を追加することもできます。センサーを使用して測定しているので完全に非接触で測定が可能です。

  • ウェハ欠陥検査装置 ED-Scope(日本:オプティテック社)
    特殊な画像処理により今まで見えていなかった欠陥もくっきりと見えるように!...

  • 独自の光学系技術と画像処理技術を用いて短時間で欠陥を検出することができます。例えば、今まで目視では検査が困難であったシリコンウェハ表面膜や基板上に生じる欠陥、 スクラッチ・クラック・ディンプル・ウォーターマーク、スリップ、 ソーマーク・ボイド・異物などを誰でも簡単且つ定量的に目視検査・評価することが可能になります。

    またSiCやGaN等の化合物ウェハや貼り合わせウェハの内部欠陥の観察にもご活用いただける装置となっております。

  • マクロミクロ検査装置(日本:アテル社)
    顕微鏡によるミクロ検査、チルトドライブによるマクロ検査が1台になったハイブリッド装置。...

  • •顕微鏡メーカー品各種搭載可能(エビデント、ニコン、キーエンスなど)

    •線幅測⾧機能、BOXマーク検査、PAD針痕検査が可能(オプション)

    •薄型ウェハ搬送、非接触搬送に対応

    •インキングマーカー、レーザーマーカー搭載可能(オプション)

  • AFM測定システム NX-Wafer(韓国:Park Systems社)
    低ノイズ、高スループットの原子間力プロファイラ 自動欠陥レビュー機能付きのウェハ用AFM...

  • 自動AFM計測システム  ウェハファブの検査と分析、ベアウェハと基板の自動欠陥レビュー、 CMPプロファイル測定を提供します。サブオングストロームの高さ精度でナノスケール表面分解能を持ち、チップのシャープネスを維持しています。自動チップ交換器、ライブモニタリング、 リファレンスマークなしのターゲット位置決め、自動分析などの自動システム機能も備えております。

  • ガラスコア基板用TGV(台湾:E&R社)
    レーザーおよびプラズマの自動化 処理装置...

  • レーザーソリューション マーキング ウエハ、パッケージ(パネル/シート/サブストレートチップ)など 様々な材料を取り扱った実績があり、トータルソリューションをカスタマイズして提供します。

    例→マシニング加工、レーザー穴あけ、レーザー切断、レーザースクライビング、 レーザー溝入れソリューション等

    プラズマソリューション プラズマクリーナー・ダイシング等