日本マイクロニクス

武蔵野市吉祥寺本町, 東京都
Japan
https://www.mjc.co.jp

プローブカード、テストソケット、テスタ、ウェーハプローバ等、最新のテストソリューションをご紹介いたします。

ぜひ当社ブースへお越しください！

Probe Card

半導体製造工程のウェーハ検査で使用される検査器具で、配線基板とプローブで構成されています。プローブカードのプローブがウェーハ上に形成されたICチップの微細な端子に接触することで、テスタからの電気信号を伝えます。... More Info Less Info

高密度化・高速化・効率化と、進化し続ける半導体集積回路のテスティングにおいて、計測信頼性の鍵を握るのがプローブカードです。お客さまのニーズ、テスト環境に合せた各種プローブカードを、常に最高レベルの品質でご提供します。

Test Sockets

最終検査工程において、パッケージされたデバイスをテストするための治具です。ウェーハ検査に使用されるプローブカードと同様、デバイスとテスタを繋ぐ大事な役目を果たしています。... More Info Less Info

携帯電話・モバイル機器をはじめとする通信・ネットワーク用LSIの高機能化に合わせ、高周波・高性能のデバイスに適した ”J-Contacts” と、接触安定性に優れた独自構造のスプリングプローブ”BeeContacts” をご用意しています。

Wafer Prober

ウェーハ検査工程でウェーハ上に形成されたICチップの電極に、ポジショナーに装着したプローブを接触させ電気的な特性を確認する装置です。... More Info Less Info

当社のプローバは、デバイス開発や不良解析用として大学の研究室や半導体メーカーなど、様々な研究開発の場で使用されています。

Tester

ウェーハ検査工程やパッケージ後の最終検査工程でデバイスの良否判定をおこなう装置です。... More Info Less Info

テスト環境や予算に応じ、ご要望に合わせて機能を絞り込んだコストパフォーマンスの高い専用テスタ/テストシステム開発を承ります。

SEMI Japan Customer Service