当社の半導体製造装置と測定技術を融合させた製品のご紹介はもちろんの事、半導体製造装置メーカーの皆様に向けて、パーツ測定に最適な精密測定機器をご提案いたします。
今回は半導体基板(ウェーハ測定)にフォーカスし、当社非接触計測製品の3D白色干渉顕微鏡Opt-scopeや、新製品非接触変位検出器ACCHROSによるソリューション事例をご紹介いたします。
【実機展示製品】
■非接触三次元表面粗さ・形状測定機: Opt-scope R NEX SD23
■表面粗さ・輪郭形状測定機: SURFCOM NEX 001