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レーザーテック

横浜市港北区,  神奈川県 
Japan
https://www.lasertec.co.jp
  • 小間番号S1423


レーザーテックは、光を用いた独自の最先端技術で検査・計測ソリューションを開発、提供しています。

当社ブースでは、High NA対応アクティニックEUVパターンマスク欠陥検査装置「ACTIS A200HiT」およびEUVリソグラフィ全般の幅広いラインナップ、主力のマスク、マスクブランクス欠陥検査装置、ウェハ関連検査装置をご紹介いたします。


 出展製品

  • 新製品 アクティニックEUVパターンマスク欠陥検査装置 ACTIS A200HiT シリーズ
    光学設計の最適化と検査システムを刷新し、スループットを大幅に向上させるとともに、ウェハファブで発生する全ての転写性欠陥を検出する感度を実現しました。...

  • 【用 途】 

    ・ ウェハファブにおけるEUVマスクの受入検査       

    ・ ウェハファブにおけるEUVマスクの定期的な品質確認検査                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                   

    【特 長】                                                                   

    ・ ACTIS A150の3倍の検査速度を達成             

    ・ ウェハファブにてEUVマスク運用中に発生する転写性欠陥を検出

  • 新製品 マスクブランクス欠陥検査/レビュー装置MAGICSシリーズM9750/M9751
    次世代の最先端半導体マスク用ブランクス欠陥検査/レビュー装置 従来モデルに比べて高感度・高スループット化を実現...

  • 【用 途】 

    ・ EUVマスクブランクスやサブストレート上の微小欠陥の検査

    ・ 検査と同時のインスタント欠陥レビューおよび高倍率欠陥レビュー

    ・ 微小欠陥のサイジング

    ・ 高精度な欠陥座標の出力

    【特 長】                                                                   

    ・ 次世代半導体向け高品質EUVマスクブランクス欠陥検査に有効な高検出感度と、量産工場での出荷・受入検査に適した高スループットを両立     

    ・業界標準機MAGICSの基幹技術をベースとし、検査光学系を刷新するとともにマスクパターン検査装置で培った高速検査回路技術を採用 

    ・サブストレートや最先端半導体用マスクブランクス各層の欠陥検出感度を飛躍的に向上させ、高品質なブランクスの選別が可能

    ・EUVマスク製造時の欠陥ミチゲーションに必要な高精度な欠陥座標を出力

    ・M9751はライン&スペースのモニターパターン検査に対応し、マスクショップでの各種プロセス管理に有効