パワーデバイス、電子部品の信頼性評価課題をワンストップで解決できる評価装置、テスト実施支援サービスを提供いたします。
Si/SiCパワーデバイスのMOSFET・IGBT信頼性試験装置(AQG324、AEC-Q101等に対応）及び FPGA・DSP・VLSI用評価装置をご紹介します。
また、これらのテスト実施を支援するサービスもご提案します。
■出展内容
・IGBT、SICモジュール等のパワーデバイス信頼性評価用試験装置
(AQG324、AEC-Q101等各種信頼性規格に定義の試験規格対応)
・FPGA、DSP、VLSI用評価装置、コンデンサ評価用テストシステム等
■出展製品、サービスの特徴
・高温高湿、静的、動的試験を含めた、JEDEC規格(JESD51-1)及びAQG324規格準拠。
LT4ヶ月、数量評価におけるコストメリットを確保した製品ラインナップ。
・動的高温高湿試験において、AQG324等各種規格に求められる数量評価の容易性
・各種試験装置販売をベースとした、一部カスタマイズから導入までのワンストップサービス
・パワー半導体パッケージ技術開発の検証、フィードバックにお役に立てるパワー半導体信頼性
テスト実施支援サービス (ご相談からテストの実施、結果分析まで対応)
出展製品