日本電子

千代田区大手町2-1-1,  東京都 
Japan
http://www.jeol.co.jp
  • 小間番号S1204

半導体試料観察に優れたFE-SEM「JSM-IT810」および「JSM-IT710HR」によるファンクションデモを実施します。ブース内では、「JSM-IT810」に関するショートプレゼンテーションも行います。あわせて、理科学・計測機器や電子ビーム描画装置などの装置紹介、ならびにそれらの機器を用いたデータ解析事例のご紹介を行います。


 出展製品

  • JSM-IT810 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
    JSM-IT810は、次世代型電子光学制御システム"Neo Engine"と、ZeromagやEDSインテグレーションなどの高い操作性を実現する"SEM Center"を搭載しています。さらに自動観察・分析機能"Neo Action"や自動校正機能は労働力不足の解消に貢献します。...

  • ・電子光学系として「Neo Engine(ネオエンジン)」という次世代電子光学制御システムを搭載。
    ・操作性・解析効率を向上させる自動観察・分析機能「Neo Action」および自動校正機能「SEM自動調整パッケージ」を搭載。
    ・“Live-3D”機能:多分割半導体型BSE(後方散乱電子)検出器を用し、リアルタイムに試料表面形状(凹凸・深さ情報)を3D再構築しながら観察可能。
    ・EDS(エネルギー分散型X線分析装置)とSEM観察の統合操作が可能。点、面、MAP、線などの分析を観察画面から直接予約して実行可。
    ・レンズ/対物系に“ハイブリッドレンズ〈HL〉”、“スーパー・ハイブリッドレンズ〈SHL〉”、あるいはセミインレンズ〈SIL〉が選択可能なラインアップ。用途(高分解能観察、磁性材料、絶縁材料など)に応じた設計。

  • JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡
    ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHR*シリーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上により、見えたその先をさらに探求したくなる装置です。...

  • ・ショットキー型電界放出(FE:Field Emission)電子銃を搭載。高分解能観察と大電流運転の両立を実現。

    ・自動機能を強化:ビーム軸合わせ、フォーカス、非点収差補正などが自動で行えることで、操作者の負担を軽減

    ・新しい検出器系の採用:

     ・多分割(4方向)後方散乱電子検出器(Backscattered Electron Detector)による “Live 3D”機能:観察中にリアルタイムで凹凸・深さ情報を伴った3D像構築が可能。

     ・低真空ハイブリッド二次電子検出器(LHSED): 低真空時でも凹凸像・発光情報(カソードルミネセンス)など豊富な信号を取得。

    ・ナビゲーション/観察効率向上機能:

     ・“Zeromag”機能:光学像からSEM像へシームレスに移行、視野探しを効率化。

     ・自動化ワークフロー “Simple SEM/EDS”:予め条件を登録すれば、SEM像取得・EDS分析を自動化可能。

     ・大面積光学像取得によるステージナビゲーション(LSシステム): 従来比約5倍の視野エリア取得を実現し、広範囲探索が容易。

    ・低真空運転・絶縁試料対応:低真空モードでの観察・分析が可能なので、導電コーティングなしでも観察できるケースがあります。