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Semight Instruments

蘇州市,  Jiangsu Province 
China
http://www.semight.com
  • 小間番号W3232


Semightは2017年に設立され、ハイエンドな測定器および試験装置のグローバルサプライヤーです。

Semightは2017年に設立され、ハイエンドな測定器および試験装置のグローバルサプライヤーです。当社は、研究開発および大量生産向けに、高速通信テスト、光チップテスト、電子測定、パワー半導体テストをカバーする幅広い製品を提供しています。

Semightの測定器には、高速ビット誤り率測定装置、ネットワークトラフィックアナライザ、広帯域サンプリングオシロスコープ、高精度波長計、デジタルソースメジャーユニットが含まれます。さらに、当社は全球の顧客に、光電融合ATE、レーザーチップバーンインシステム、レーザーチップテスター、シリコンフォトニクスウェハテスター、パワー半導体テスター、ウェハレベルバーンインシステムを提供しています。


 出展製品

  • ウェーハレベルバーンインテストシステム
    1.9層構成 2.最大 2000 V 3.HTGB / HTRB 両方に対応 4.1ウェーハあたり 2560 ダイ対応 5.HTRB用Vgs: -30 V ~ 0 V...

  • WLBI3810ウエハレベル老化システムは、高性能な専門の炭化ケイ素ウエハ老化テスト装置であり、同時に9 枚のウエハに対して高温ゲートバイアス(HTGB)老化と高温逆バイアス(HTRB)老化を行うことができます。老化テストの時間範囲は数分から数十時間、さらには数千時間にまで拡張可能で、さまざまな製品の老化ニーズに応えます。装置は自動供給および排出システムを統合しており、さんュアルカセット設計によりシームレスな切り替えをサポートし、老化条件の自動切り替え機能を備えています。各ダイの閾値電圧(Vth)を正確に検出することができます。システムの各チャネルには独立した過電流保護機能があり、測定対象デバイスの安全を確保します。システムはマップデータを生成し、ユーザーが詳細な性能分析と品質管理を行えるようにします。システムはバッチ生産に対して安定した信頼性のある老化テストサポートを提供し、研究開発アプリケーションに対しても柔軟な構成オプションを提供します。

  • SiC KGDテスト・ソーティングシステム
    1.UPH > 4000+,業界トップクラスのUPH 2.自動ソケット交換機構,高効率 3.1200 V / 2000 A ダイナミックテスト 4.200 V / 600 A スタティックテスト...

  • 聯訊儀器 PB6800 KGDテストシステムは、主にパワー半導体のDie-levelの静的および動的テストに使用され、チップの性能仕様に基づいたスクリーニングを行うことで、パッケージング後のモジュールの良品率を向上させることができます。
  • 65GHz サンプリング・オシロスコープ
    データレート:106.25/112 GBaud PAM4、53.125/56 GBaud PAM4...

  • DCA1065 単モード(1250~1600nm 波長)53/56GBdおよび106/112GBd PAM4 信号テストをサポート。システム応答はSIRC(System Impulse Response Correction)によって補正および調整され、異なる速度の信号テストに対応。さらに、最大 64TapsのTDECQ 前方等化器(Feed Forward Equalizer、FFE)による符号間干渉(Inter Symbol interference、ISI)除去もサポート。

  • シリコンフォトニクスウェーハテストシステム
    1.ウェーハサイズ 6 インチ~12インチ 2.垂直およびエッジカップリングに対応 3.温度範囲:25°C~150°C 4.O/O、O/E、E/Eテストを全面的対応...

  • 聯訊儀器 sCT9002は、光学対準能力や耦合速度などの多方面で顕著な向上を実現するために、ソフトウェアとハードウェアシステムの全面的な最適化と統合を行っています。全体システムはモジュール設計を採用しており、光学耦合には光ファイバーまたは光ファイバーアレイを選択でき、垂直耦合とエッジ耦合をサポートしています。並行テストによりテスト時間が大幅に短縮され、テスト効率が効果的に向上しました。sCT9002の高精度で高信頼性の測定結果は、シリコン光ウエハーの研究開発と生産を支えています。
  • CPOテストシステム
    1.OEダイレベルでの光電異面テスト 2.高速光アイパターンおよび高速電気信号テスト 3.マルチダイ並列テスト...

  • 1.OEダイレベルでの光電異面テスト
    2.高速光アイパターンおよび高速電気信号テスト
    3.マルチダイ並列テスト