• 小間番号E6332

弊社ブースでは、材料、部品、半導体デバイスなどのあらゆる研究／開発フェーズにおけるオン・ウェハ特性評価や信頼性試験、不良解析などの作業効率化と導入コストの低減へのソリューションとともに、量産テストに貢献するソリューションをご提案します。

1つのメインフレーム — より多くの選択肢

新しいアプリケーションや要件への対応にあたるエンジニアをサポートするプラットフォーム。

• 1つのメインフレームの中でSMU/PSUモジュールを組み合わせて使用できます。
• ラック/スタック/リンクによりメインフレームを統合し、検証から本番環境までスケールアップできます。

ダウンタイムを最小化

特長

• モジュールの取り外しと交換が簡単
• 独立したスロット電源制御でメインフレームのダウンタイムを回避
• モジュールのみの機器校正で機器のメンテナンス時間を短縮
• 最新のタッチ・スクリーンとWebインタフェースにより、迅速な解析やトラブルシューティングが可能

性能の最適化

• SMUモジュールでは、pAレベルまでの低電流測定においてアプリケーションにフォーカスした高精度を実現
• 新しいクラスのPSUに、オン・インスツルメントのテスト・スクリプト処理（TSP）機能を搭載
• チャンネルあたり50Wを供給可能な電源モジュールで将来のデバイスに対応

スピード、安全性、同期

• このコンパクトな1Uプラットフォームは、高スループットと並列テストに対応した設計で、最大6つの独立したチャンネルと高速な保護機能を提供し、デバイスの安全を守ります。
• 1MSa/sのADCを使用して詳細な波形をキャプチャし、18本のデジタルI/OピンとTSP-Linkを用いて簡単に拡張し、最大32台の計測器とマイクロ秒未満で同期させることができます。
• Webインタフェース、Python、IVIドライバ、TSPスクリプトなど、目的に合った制御方法を選択し、USB3.0とギガビット・イーサネットを利用して、高速で信頼性の高いデータ・ストリーミングを実現できます。