東レエンジニアリング先端半導体MIテクノロジー

横浜市港北区,  神奈川県 
Japan
https://www.toray-eng.co.jp/tasmit/
  • 小間番号E4908

ウェーハやガラス基板の外観検査、ウェーハ重ね合わせ測定でお困りの場合、是非弊社へお立ち寄り下さい。(ブース E4908)

パワーデバイス、高周波フィルター、イメージセンサ、アナログIC、化合物半導体、LED、パネルレベルパッケージ、ガラスインターポーザー、ガラスコア、チップレットなど、様々なデバイスに適応が可能な検査装置・測定装置をラインナップしております。本展示会では、主力製品であるウェーハ外観検査装置 INSPECTRAを中心に、可視光の領域に限らず、赤外光や紫外光の領域でもご活用頂ける検査装置・測定装置、検査ソリューションをご紹介し、御社の検査ニーズに合う最適なソリューションを提案致します。

是非弊社ブース(ブース番号E4908)にお立ち寄りください!