YIK CORPORATION

Seongnam-si, GYeonggi-do, 
Korea (South)
http://yikcorp.com
  • Booth: 2362


Welcome to YIK Coroporation

YIK Corporation, which is to develop and manufacture the memory test system, is recognized as the world-wide technological leading company in the semiconductor wafer test business.
To satisfy the needs of customers in the rapidly changing semiconductor industry, YIKC provides high-performance and cost effective semiconductor testers that are designed to lower the cost of testing various types of memory device such as DRAM and FLASH. Also YIKC has maintained high market share rate in the semiconductor tester business.
In terms of customer satisfaction, YIKC will continue its effort to product quality, and we ask for the continued support and encouragement of our customers


 Press Releases

  • 2014.02.16 Global News Network 'AVING'

    와이아이케이(YIKC)는 12일부터 14일까지 서울 코엑스에서 열린 '세미콘코리아 2014(SEMICON Korea)'에 참가해 반도체 메모리 테스트 시스템 'MT6133'을 선보였다.

    'MT6133'는 현재까지 700여대를 공급한 이력이 있는 와이아이케이의 주력장비로, 기업 관계자는 "자사의 강점은 어플리케이션 제공을 통한 높은 편의성과 업계 내의 오래 경험을 통한 신뢰도, 가격경쟁력이라고 생각한다. 올해는 차세대 High speed tester 개발을 통한 생산성 기여와 더불어 'MT6133'에 대한 성능 향상에 더욱 노력할 계획이다"고 전했다.

    와이아이케이는 1933년 설립된 ANDO 전기주식회사에서 시작돼 2012년 와이아이케이(YIKC)로 사명을 변경한 것으로, 업계 내에서 많은 경험과 노하우, 신뢰도를 갖고 있는 기업이다. 2013년 5월 메모리 테스트 시스템 'MT6133' 국산화 1호기를 출하했으며, 같은 해 10월에 판교에 R&D 센터를 개설한 바 있다.

    올해로 27회째를 맞이하는 국내 최대 규모의 반도체 제조기술전시회인 이번 '세미콘코리아 2014'(www.semiconkorea.org/ko)는 세계 20개국 530개사, 1737 부스가 참가해 마이크로 전자 제조공정 솔루션을 비롯한 최신 공정기술과 장비, 재료 등을 선보이고, 반도체 산업의 현황과 전망을 제시하며, 더불어 국내 유일의 LED 제조기술 전문 전시회인 'LED코리아 2014'가 동시 개최됐다.


 Products

  • MT6133
    This next-generation memory test system for evaluation, analysis and volume
    production offers significantly improved cost performance and is suitable
    for testing all kinds of memory devices on 300 mm wafers. ...

  • Maximum test frequency: 444 MHz/888 Mbps
    Parallel measurement: Max 1536
    Station : 2 Station
    Target devices
    DRAM, NAND Flash, SRAM, PSRAM, NOR Flash and ASIC with memory
  • MT5100
    This system is applied to judge the positive and negative of the product for target device with funtion test. Also this high performance, flexible and easy maintenance system offer a various analysis for the product by using additional utility tool. ...

  • Maximum test frequency: 50 MHz/50 Mbps
    Parallel measurement: 256/Max 1014
    Station : 1 Station
    Target devices
    All Memory Device [DRAM, NAND Flash etc…]
  • MT6135S
    This next-generation memory test system for evaluation, analysis and volume
    production offers significantly improved cost performance and is suitable
    for testing all kinds of memory devices on 300 mm wafers. ...

  • Maximum test frequency: 444 MHz/888 Mbps
    Parallel measurement: Max 1,536
    Station : 1 Station
    Target devices
    DRAM, NAND Flash, SRAM, PSRAM, NOR Flash and ASIC with memory