* Memory Application: NAND Flash, DRAM
* Non-memory Application: CIS (MEMS), SoC (Vertical), DDI, DC Parametric etc.
프로브 카드는 전자 검사 시스템과 반도체 웨이퍼 사이의 인터페이스이다. 프로브 카드는 일반적으로 반도체 웨이퍼가 다이싱(절단) 및 패키징 되기 전, 웨이퍼 레벨에서 허가되는 회로 검증과 테스팅을 위하여, 검사 시스템과 웨이퍼의 회로를 이어주는 전기적 경로를 제공하기 위한 목적으로 제작되는 장치이다.
A probe card is an interface between an electronic test system and a semiconductor wafer. Its purpose is to provide an electrical pathway between a test system and the circuits in a wafer, thereby permitting the testing and validation of the circuits at the wafer level, usually before they are diced and packaged.