Micron Star Technology Limited.

Taipei City,  Xinyi Dist. 
Taiwan
http://www.keybond.com.tw/
  • Booth: I2305
  • - 1st Floor


歡迎來到新磊精密有限公司的攤位-J3239

秉持【誠信】、【創新】、【速效】的原則，至今已成為台灣、香港及中國地區，專業之數位研究儀器系統之代理商。為了提供大家更高品質的產品及服務，我們將延續誠信的原則，熱忱的態度，帶給大家更高品質、更大眾化、更豐富的專業產品。

我司所代理的產品包含以下應用

A. AFM原子力顯微鏡及探針(Olympus, Adama, Rockymountain, Appnano, Mikromash, SCDprobes)

表面形貌分析、粗糙度分析、電性分析、磁性分析、力譜分析

產品連結: http://www.keybond.com.tw/product-category/afmprobes/olympus/

B. NIR/IR 紅外線相機(Hamamatsu, KY-Seies)

Solar Cell 缺陷檢測, Silicon Wafer 缺陷檢測, NIR LED量測，Laser量測等。

產品連結: http://www.pentagontek.com/index.php?route=product/category&path=87

C. 高速攝影機(NAC)

表面電漿氣化觀測，拉線觀測，焊接觀測，

產品連結: http://www.pentagontek.com/index.php?route=product/category&path=90

D. 顯微鏡及同軸光

長度量測，面積量測，角度量測，弧形量測等。

產品連結: http://www.pentagontek.com/index.php?route=product/product&path=134&product_id=216

公司網站: http://www.keybond.com.tw/

 Products

  • 1. OLYMPUS AFM Probe 原子力顯微鏡探針
    適用於各大廠家原子力顯微鏡(Bruker、Asylum Research、Hitachi、Park、JPK...等)。廣泛應用於 半導體廠、LED廠、PCB、IC設計封裝、生物科技等多方面領域。不傷及樣品表面，做到非破壞性檢測，適合用於奈米尺度甚至原子尺度觀測。可達到 形貌、粗糙度、電性、磁性、力學性質、電性、熱能...等多面向量測。...

    • 產品特色:

    • 下針定位最迅速，鳥嘴型探針頭設計
    • 適用於各大廠家原子力顯微鏡(Bruker、Asylum Research、Hitachi、Park、JPK...等)。
    • 廣泛應用於 半導體廠、LED廠、PCB、IC設計封裝、鏡頭廠、生物科技等多方面領域。
    • 不傷及樣品表面，做到非破壞性檢測，適合用於奈米尺度甚至原子尺度觀測。
    • 可達到 形貌、粗糙度、電性、磁性、力學性質、電性、熱能...等多面向量測。

    產品應用:

    • 半導體材料檢測(PN接面、故障點)
    • 氮化矽、InGaAs、PSS、三五族材料等LED基板
    • 鏡頭真圓度
    • 表面形貌、粗糙度、力學性質、奈米刮痕
    • 電性量測(C-AFM、SCM、EFM、KPFM...)
    • 真空環境檢測
    • 材料磁性測量
    • 熱性質變化
    • 生物樣品觀測

    OMCL-AC160TS-R3

    規格: 

    • 共振頻率Frequency : 300 kHz
    • 彈性係數: 26 N/m
    • 鍍層(Tip/Reflex): None/Al
    • 針尖半徑: 7nm

    適用材料: 半導體材料、氮化矽SiC、InGaAs、IC Pattern、三五族材料

    OMCL-AC240TS-R3

    規格: 

    • 共振頻率Frequency : 70 kHz
    • 彈性係數: 2 N/m
    • 鍍層(Tip/Reflex): None/Al
    • 針尖半徑: 7nm

    適用材料: 石墨烯、高分子、軟物質、Hydrogel、細胞

    OMCL-AC200TS-R3

    規格: 

    • 共振頻率Frequency : 150 kHz
    • 彈性係數:  9 N/m
    • 鍍層(Tip/Reflex): None/Al 
    • 針尖半徑: 7nm

    適用材料: 鏡頭廠、玻璃、二氧化矽SiO2

    導電探針 OMCL-AC240TM-R3

    規格: 

    • 共振頻率Frequency : 70 kHz
    • 彈性係數:  2 N/m
    • 鍍層(Tip/Reflex): Pt/Al 
    • 針尖半徑: 15nm

    適用材料: 半導體材料、氮化矽SiC、IC Pattern、三五族材料、鐵電材料

  • 2. Adama AFM Probe 原子力顯微鏡探針
    鑽石AFM探針，使用壽命最長、高解析度、具導電特性。適用於各大廠家原子力顯微鏡(Bruker、Asylum Research、Hitachi、Park、JPK...等)。廣泛應用於 半導體廠、LED廠、PCB、IC設計封裝、生物科技等多方面領域。不傷及樣品表面，做到非破壞性檢測，適合用於奈米尺度甚至原子尺度觀測。可達到 形貌、粗糙度、電性、磁性、力學性質、電性、熱能...等多面向量測。...

    • ​產品特色:

    • 使用壽命最長，比矽探針長10倍以上
    • 高解析度，針尖有 10nm 及 5nm以下兩種
    • 具導電性，可用於C-AFM、SCM、KPFM、EFM...等模式
    • 適用於各大廠家原子力顯微鏡(Bruker、Asylum Research、Hitachi、Park、JPK...等)。
    • 廣泛應用於 半導體廠、LED廠、PCB、IC設計封裝、鏡頭廠、生物科技等多方面領域。
    • 不傷及樣品表面，做到非破壞性檢測，適合用於奈米尺度甚至原子尺度觀測。
    • 可達到 形貌、粗糙度、電性、磁性、力學性質、電性、熱能...等多面向量測。

    產品應用:

    • 半導體材料檢測(PN接面、故障點)
    • 氮化矽、InGaAs、PSS、三五族材料等LED基板
    • 鏡頭真圓度
    • 表面形貌、粗糙度、力學性質、奈米刮痕
    • 電性量測(C-AFM、SCM、EFM、KPFM...)
    • 真空環境檢測
    • 生物樣品觀測

    AD-40-AS

    規格: 

    • 共振頻率Frequency : 180 kHz
    • 彈性係數: 40 N/m
    • 鍍層(Tip/Reflex): Diamond/Au
    • 針尖半徑: 10nm

    適用材料: 半導體材料、氮化矽SiC、InGaAs、IC Pattern、三五族材料

    AD-2.8-AS

    規格: 

    • 共振頻率Frequency : 65 kHz
    • 彈性係數: 2.8 N/m
    • 鍍層(Tip/Reflex): Diamond/Au
    • 針尖半徑: 10nm

    適用材料: 鏡頭廠、石墨烯、高分子、軟物質、Hydrogel、細胞

    AD-40-SS

    規格: 

    • 共振頻率Frequency : 180 kHz
    • 彈性係數: 40 N/m
    • 鍍層(Tip/Reflex): Diamond/Au
    • 針尖半徑: < 5nm

    適用材料: 半導體材料、氮化矽SiC、InGaAs、IC Pattern、三五族材料

    AD-2.8-SS

    規格: 

    • 共振頻率Frequency : 65 kHz
    • 彈性係數: 2.8 N/m
    • 鍍層(Tip/Reflex): Diamond/Au
    • 針尖半徑:  < 5nm

    適用材料: 鏡頭廠、石墨烯、高分子、軟物質、Hydrogel、細胞

  • 3. Hamamatsu InGaAs Camera 近紅外相機
    日本Hamamatu InGaAs Camera近紅外相機。可測得波段950~1700nm。適用於晶圓對位、電路Pattern檢測、LED壞點檢測、光通訊、EL/PL效應...等。適用於半導體廠、LED廠、太陽能模組廠...等產業。支援水冷及氣冷 冷卻系統。...

    • 產品特色:

    • 高靈敏度於950~1700nm
    • 低雜訊、高穩定度
    • 支援水冷及氣冷散熱

    產品應用:

    • 晶圓對位
    • 電路Pattern檢測
    • LED壞點檢測
    • 光通訊
    • EL/PL效應
    • 雷達感測器

    InGaAs camera C12741-11

    規格:

    • Resolution: 640(H)*512(V)
    • Pixel size: 20 um(H)*20 um(V)
    • Spetral Response: 950~1500nm
    • 支援水冷及氣冷 冷卻方式
    • 水冷冷卻系統達 -70°C
    • 支援 SMA、CameraLink 輸出介面

    InGaAs camera C12741-03

    規格:

    • Resolution: 640(H)*512(V)
    • Pixel size: 20 um(H)*20 um(V)
    • Spetral Response: 950~1700nm
    • 支援氣冷 冷卻方式
    • 支援 EIA、USB3.0 輸出介面

    InGaAs camera C12741-10U

    規格:

    • Resolution: 320(H)*256(V)
    • Pixel size: 20 um(H)*20 um(V)
    • Spetral Response: 950~1700nm
    • 支援氣冷 冷卻方式
    • 支援 USB3.0 輸出介面
  • 4. Hamamatsu sCMOS Camera 科研級相機
    日本Hamamatsu sCMOS Camera 科研級相機。適用於LED壞點檢測、光通訊、Light sheet、Raman、單分子螢光...等。適用於半導體廠、LED廠、太陽能模組廠...等產業。支援水冷及氣冷 冷卻系統。高QE值、低雜訊、高靈敏度。...

    • 產品特色:

    • 高靈敏度
    • 低雜訊
    • 高QE值
    • 支援水冷、氣冷 冷卻系統
    • 多種輸出介面

    產品應用:

    • LED壞點檢測
    • 光通訊
    • Super-resolution
    • Light Sheet
    • Raman Spetroscopy
    • Single molecule imaging

    Fusion BT

    規格:

    • Resolution: 2304 * 2304
    • Frame rate: 89.1 fps @2304*2304 (16 bit)
    • Pixel size: 6.5 um * 6.5 um
    • QE: 95% @550nm
    • Readout noise: 0.7 electrons rms (Ultra-quiet Scan)

    ORCA-Flash4.0 V3

    規格:

    • Resolution: 2048 * 2048
    • Frame rate: 100 fps @2048*2048 (CameraLink)
    • Pixel size: 6.5 um * 6.5 um
    • QE: 82% @550nm
    • Readout noise: 1 electrons rms (Standard scan)

    ORCA-spark

    規格:

    • Resolution: 1920 * 1200
    • Frame rate: 64.9 fps @1920*1200
    • Pixel size: 5.86 um * 5.86 um
    • Readout noise: 6.6 electrons rms
  • 5. nac High Speed Camera高速相機/高速攝影機
    日本nac高速相機，廣泛應用於 DIC、車輛撞擊、燃燒試驗、流體變化、摔落測試、運動變化等多方面領域。搭配分析軟體，可達到速度、加速度、場變化...等分析測量。另可配合它牌分析軟體，例:CSI。市場上拍攝速度最快。...

    • 產品特色:

    • 最快拍攝速度，達 220,000FPS
    • 可承受Hi-G變化
    • 具Memory Backup
    • 可外部觸發訊號

    產品應用:

    • 面板閃頻
    • Laser Cutting
    • MIG焊接
    • DIC
    • 車輛撞擊
    • 液面現象
    • 燃燒試驗
    • 摔落測試
    • 運動行為

    nac MEMRECAM ACS-3 M16

    規格:

    • 1280*896 @25,000fps
    • 200,000fps @1280*64

    nac MEMRECAM HX-7s

    規格:

    • 2560*1920 @850fps
    • 200,000 @320*32

    nac MEMRECAM Q1m

    規格:

    • 1280*1024 @2000fps
    • ISO 4000

Categories

203 Equipment, Inspection & Measurement
  • Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection
  • Microscopes: Atomic Force Microscopes (AFM)
  • Microscopes: Optical Microscopes
  • Microscopes: Scanning Electron Microscope (SEM); Focused Ion Beam (FIB), Transmission Electron Micr
    • 401 Sub-systems
  • Cameras - Still; CCD; Video & Monitors
  • Motion control systems; Servo control systems & Components
  • Optics; Lens Products; Auto-Focus Systems
  • Plasma Sources; Controls; Monitoring; Diagnosis

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