產品特色:
- 使用壽命最長,比矽探針長10倍以上
- 高解析度,針尖有 10nm 及 5nm以下兩種
- 具導電性,可用於C-AFM、SCM、KPFM、EFM...等模式
- 適用於各大廠家原子力顯微鏡(Bruker、Asylum Research、Hitachi、Park、JPK...等)。
- 廣泛應用於 半導體廠、LED廠、PCB、IC設計封裝、鏡頭廠、生物科技等多方面領域。
- 不傷及樣品表面,做到非破壞性檢測,適合用於奈米尺度甚至原子尺度觀測。
- 可達到 形貌、粗糙度、電性、磁性、力學性質、電性、熱能...等多面向量測。
產品應用:
- 半導體材料檢測(PN接面、故障點)
- 氮化矽、InGaAs、PSS、三五族材料等LED基板
- 鏡頭真圓度
- 表面形貌、粗糙度、力學性質、奈米刮痕
- 電性量測(C-AFM、SCM、EFM、KPFM...)
- 真空環境檢測
- 生物樣品觀測
AD-40-AS
規格:
- 共振頻率Frequency : 180 kHz
- 彈性係數: 40 N/m
- 鍍層(Tip/Reflex): Diamond/Au
- 針尖半徑: 10nm
適用材料: 半導體材料、氮化矽SiC、InGaAs、IC Pattern、三五族材料
AD-2.8-AS
規格:
- 共振頻率Frequency : 65 kHz
- 彈性係數: 2.8 N/m
- 鍍層(Tip/Reflex): Diamond/Au
- 針尖半徑: 10nm
適用材料: 鏡頭廠、石墨烯、高分子、軟物質、Hydrogel、細胞
AD-40-SS
規格:
- 共振頻率Frequency : 180 kHz
- 彈性係數: 40 N/m
- 鍍層(Tip/Reflex): Diamond/Au
- 針尖半徑: < 5nm
適用材料: 半導體材料、氮化矽SiC、InGaAs、IC Pattern、三五族材料
AD-2.8-SS
規格:
- 共振頻率Frequency : 65 kHz
- 彈性係數: 2.8 N/m
- 鍍層(Tip/Reflex): Diamond/Au
- 針尖半徑: < 5nm
適用材料: 鏡頭廠、石墨烯、高分子、軟物質、Hydrogel、細胞