Sun-Opto Technology Corp.

Hsinchu County,  GA 
Taiwan
http://www.sun-opto.com
  • Booth: N0385
  • - 4th Floor

尚鈦光電科技專長於:平面顯示器、半導體、LED光電…等產業使用之製程設備,材料銷售、與技術服務。我們提供提供的產品與服務包括:

一、無塵室耗材與防靜電材料:無塵紙、無塵筆記本、標籤紙、面板/晶圓/IC chip間隔紙、防靜電護背膜/L型夾文件夾,無塵棉花棒,光電/面板/觸控面板黏塵筆,

        無塵衣/無塵防靜電鞋/安全鞋,晶圓吸筆、無塵室用吸塵器;人員靜電接地監測系統,INTERCEPT防銹防靜電長效型儲存包裝材, 防靜電包裝材/鋁箔隔離袋、

       防靜電光罩盒,半導體光罩/晶圓表面檢查燈

二、全氟化橡膠(FFKM)/氟化橡膠(FKM)密封材料:真空腔體密封材料,濕製程Roller O-ring,過濾Filter Housing O-ring…等各種密封件應用

三、LCD/FPD製程設備:LCD/FPD面板Array乾蝕刻設備、AOI檢查設備,LCD Cassette卡匣清洗設備,LCD面板清洗設備、APR板清洗設備

       超音波濃度即時(In-line)監測設備,實驗室型超音波粘度監測計、In-Line超音波粘度監測

四、靜電消除與靜電監測:Alpha ionizer靜電消除設備、靜電風扇,人員/機台設備靜電接地監測設備,表面阻抗計、高阻抗計,Soft x-ray/VUV ionization靜電消除

      設備行進中人體靜電產生量測試(Human Body Charge Test)

五、無塵室第三方(3rd party)測試服務,生技製藥無塵無菌室、生物安全櫃、手套箱/隔離箱/ Isolator潔淨度測試服務,氣流向/氣流平行度測試,高壓氣體N2/CDA

      Particle潔淨度測試,靜電導電地板表面阻抗值測試

六、電子部品/光學玻璃/精密元件之表面沉降Particles監測,無塵室Particles落塵與潔淨度監測

七   minimal Fab研發/小批量產型半導體製程設備


 Products

  • NRD Alpha Ionizer / 智能靜電消除設備監控系統
    - 次世代Particle free、離子自動平衡式靜電消除設備<br />- 靜電消除器效能即時監測(QMS)系統<br />- Soft X- ray靜電消除設備、導電Teflon Coating塗層<br />- 靜電手環/人員、機台、工作台靜電接地監測/靜電監測門禁系統<br />- 靜電環境稽核與高阻抗、Body Voltage Walking Test靜電測試<br />...

    • Particle free、離子自動平衡式靜電消除設備
    • 靜電消除器效能即時監測(QMS)系統
    • Soft X- ray靜電消除設備、導電Teflon Coating塗層
    • 人員、機台、工作台靜電接地監測/靜電監測門禁系統
    • Body Voltage Walking Test靜電測試
  • 無塵耗材與防靜電產品
    - 無塵紙/導電紙/無塵筆記本與檔案夾/無塵複寫紙/標籤紙/便利貼<br />- 防靜電L型夾與護貝膜/導電紙/防靜電包裝袋<br />- IC晶圓保護間隔紙/玻璃與金屬框墊片<br />- Kimwipe擦拭紙/無塵室手套/防割、耐熱手套<br />- 無塵衣帽鞋/手套/口罩/無塵室吸塵器/晶圓吸筆<br />- 超細無塵擦拭棒BB-014<br />適用於半導體封裝、CMOS sensor、光纖通訊產業<br />Particle粒子去除專用黏筆/黏塵滾輪/Stick Cleaner拋棄式黏棒<br /><br />...

  • 導電紙/無塵筆記本與檔案夾/無塵複寫紙/標籤紙/便利貼

    L型夾與護貝膜/導電紙/防靜電包裝袋

    晶圓保護間隔紙/玻璃與金屬框墊片

    擦拭紙/無塵室手套/防割、耐熱手套

    手套/口罩/無塵室吸塵器/晶圓吸筆

    超細無塵擦拭棒BB-014

    CMOS sensor、光纖通訊產業

    粒子去除專用黏筆/黏塵滾輪/Stick Cleaner拋棄式黏棒

  • 全氟化(FFKM)/氟化橡膠(FKM)密封材料
    - 半導體、玻璃面板製程: 薄膜、蝕刻、濕製程、Pump管線<br />- 優異表面處理、電漿轟擊下,低Particles產生量<br />- 極佳耐電漿能力,依需要選擇: 耐熱性、耐化學藥品性各種材料<br />...

    • 玻璃面板製程: 薄膜、蝕刻、濕製程、Pump管線
    • 電漿轟擊下,低Particles產生量
    • 依需要選擇: 耐熱性、耐化學藥品性各種材料
  • 表面微粒污染檢測-PartSens / 落塵監測-APMON
    - PartSens表面粒子檢測:粒子種類(金屬粒子/非金屬粒子/纖維)<br /> 粒子大小、數量分佈<br />- Particles檢測範圍::5um~3,000um<br />- APMON落塵檢測粒徑範圍:15~1,000um<br />- 取樣檢測時間:每5 分鐘檢測一次<br />- 檢測原理:光學全像技術 (3D Laser Holography)<br />...

    • 表面粒子檢測:粒子種類(金屬粒子/非金屬粒子/纖維)
    • 檢測範圍:5um~3,000um
    • 落塵檢測粒徑範圍:15~1,000um
    • 5 分鐘檢測一次
    • 3D Laser Holography
  • 無塵室第三方 (3rd Party)測試服務-潔淨度&靜電測試
    - 潔淨度測試、濾網洩漏、PAO效率測試、氣流速度、照度、壓差、溫溼度、噪音、地板導電度測試、氣流 <br /> 可視化測試<br />- 無塵操作台、手套箱、晶圓/光罩潔淨度測試<br />...

    • 潔淨度測試、濾網洩漏、PAO效率測試、氣流速度、照度、壓差、溫溼度、噪音、地板導電度測試、氣流可視化測試
    • 無塵操作台、手套箱、晶圓/光罩潔淨度測試
  • 線上(In-Line)濃度計監測系統 / LCD蝕刻與清洗設備
    - LCD卡匣清洗 / APR版清洗設備<br />- LCD乾蝕刻設備(Dry Etching) / AOI面板光學檢查設備<br />- CMP slurry濃度/CMP slurry H2O2濃度監測<br />- 濕製程化學品濃度監測: HF、H2SO4、NH3、H2O2<br /> Stripper :TMAH、TEAH、KOH… <br />...

    • 卡匣清洗 / APR版清洗設備
    • 乾蝕刻設備(Dry Etching) / AOI面板光學檢查設備
    • CMP slurry濃度/CMP slurry H2O2濃度監測、HF、H2SO4、NH3、H2O2    Stripper :TMAH、TEAH、KOH…