XDM Technology Co., Ltd

9F., No. 1, Jinshan 7th St., East Dist.,  Hsinchu City 
Taiwan
http://www.xdmtech.com/
  • Booth: I2700

XDM Technology offers Data application solutions

Overview

Since its establishment in 2005, XDM has been dedicated to providing comprehensive data application solutions to its clients through professional software development and exceptional data integration capabilities. Our services include automated analysis, professional visualization reports, data monitoring and alerts, and precise feature identification. Our goal is to enhance our clients' abilities in data management and application, enabling management to make swift and accurate decisions based on precise data analysis.

Our passion for service and technical expertise quickly gained industry recognition. In 2007, we successfully partnered with United Microelectronics Corporation (UMC), integrating our Vidas product into their EDA platform. This marked the beginning of a close collaboration, continuously advancing together in the field of data analysis technology and services. In recent years, we have garnered the trust of leading companies across various related industries, who have adopted our services and products.

These achievements have not only strengthened our confidence but also inspired us to continuously innovate, developing new technologies and products, and continue leading the industry forward.

  Products

  • Vidas - 大數據智能分析解決方案
    Vidas 提供一個免編程的友善平台，讓工程人員可以進行大數據的查詢、編輯、清洗、統計分析、建立模型等分析行為。提供相當多的功能模組來達成流程化分析，從工程數據分析的需求角度，設計一系列數據處理與分析功能。常應用於大數據分析、統計分析、良率分析、品質分析、分析自動化、報表自動化。

    Vidas 平台特色 :
    1. 友善的數據查詢介面
    2. 清晰的分析流程
    3. 自動發佈報表
    4. 支持二次開發...

    • Vidas 平台特色

    1. 友善的數據查詢介面

    FDQ 提供友善的數據查詢介面，讓工程人員不懂 SQL 也能輕鬆從數據庫查詢需要的數據。

    IT人員能透過 FDQ 設定工具，簡單完成查詢介面設定並輕鬆管理數據權限，減輕 IT 人員對大數據管理的工作量。

    2. 清晰的分析流程

    Workflow mode 的分析流程編輯平台讓工程人員可

    將不同的功能模塊如積木般組合，使分析的想法直接實現於電腦中不需撰寫程式。

    分析流程可被儲存成腳本，實現非 IT 專業人員的自主開發、分析流程的分享與共同編輯、定時執行的分析自動化。

    3. 自動發布報表

    內建文件輸出格式編輯與工作排程功能，方便使用者將分析結果進行輸出格式定義與排程規劃，

    能實現PPT、Excel、HTML、PDF 的文件自動化輸出，也支持 email 寄送。

    工程人員可輕鬆實現日常管理報表或經常性報告的自動化或半自動化，

    提高異常監控頻率、加速異常處理，讓工廠的 PDCA 改善循環得以加速。

    4. 支持二次開發

    Vidas 平台包含針對產業客製化的功能模組，如半導

    體業常用的 Bin Map 、WAT 、均勻性 Map、缺陷 Map、晶圓平坦度、曝光缺陷、LCD 缺陷…等等的分析，

    可根據客戶需求進行配置。原廠也提供專業的功能客製化服務，可大幅提升產業特殊分析的效率。

    Vida s全自動流程分析系統功能模組

    Vidas 提供相當多的功能模組來達成流程化分析，從工程數據分析的需求角度，設計一系列數據處理與分析功能。

    常應用於大數據分析、統計分析、良率分析、品質分析、分析自動化、報表自動化

    相關功能模組 (Module)

    1. 數據處理

    數據處理與清洗是數據分析最讓人痛苦的工作，花費分析中80%的時間並影響著分析的正確性。Data Process 模組中提供了許多方便的功能，

    滿足使用者各種數據處理的需求，例如多檔匯入、數據表自動合併、函數編輯、統計異常值提取、抽樣、邏輯分群…等，大幅提高使用者對於數據處理的效率。

    2. 數據分析與模型

    分析模組分為基礎分析、進階分析與多變數模型等模組。整合式的設計讓使用者能快速上手工程數據分析，

    並提供一般統計軟體沒有的工程指標，實現智能分析提高數據決策的精準度。

    3. 各種圖表分析

    分析的目的是為了說明問題或真因，繪圖是讓數據說話的重要步驟，Vidas 的繪圖模組提供了超過 30 種的工程圖形，

    包含各類趨勢圖、盒鬚圖、常態分布圖、柏拉圖、等高線圖…等等。更具特色的是具備單一設定自動產出 N 張圖與支持產品規格定義…等大數據繪圖的特殊需求。

    4. SPC 離線模擬

    2024年是 SPC 的 100 歲生日!! SPC 堪稱工業革命的重要功臣，因為 SPC 可以預測異常，大幅提升製造業的品質水準。

    Vidas 的 SPC simulation 模組提供各式 SPC 管制圖繪製、管制規則報警模擬以及製程能力分析，使工程人員、品管人員得以高效率地分析歷史數據並推估適當的管制條件。

    5. 分析流程控制

    分析流程控制模組提供使用者各項分析流程化時所需要的控制功能，例如 : 流程決策、腳本傳遞、數據傳遞、LOOP 循環…等。

    讓非 IT 專業的工程人員能夠輕鬆完成複雜的分析串聯邏輯，設計出高效、智能的分析腳本。

  • xDMS - 缺陷分析暨管理解決方案
    xDMS 能將缺陷檢查設備產生的數據進行處理，並提供友善的缺陷分析介面，提高缺陷分析效率。提供完整的缺陷分析功能，實現單一平台的缺陷互動分析，從缺陷數據查詢、缺陷圖瀏覽、缺陷圖分析、缺陷統計分析、缺陷抽樣、缺陷圖疊圖、缺陷照片瀏覽、缺陷圖比較…等。常應用於缺陷數據處理自動化、缺陷數據分析、缺陷管理、缺陷報表自動化。

    xDMS 平台特色 :
    1. 缺陷數據處理自動化
    2. 缺陷互動分析

    產品功能模組:
    1. 缺陷圖分析
    2. 缺陷照片瀏覽
    3. 缺陷照片分類
    4. 缺陷對電測數據疊圖
    5. 缺陷來源分析...

    • xDMS 平台特色

    1. 缺陷數據處理自動化

    AOI 或半導體缺陷檢測機台生成的缺陷數據需要經由系統進行數據文件轉移、數據庫導入等才能進行缺陷分析與檢查。

    xDMS 具備各式缺陷檢測機台的數據處理能力，搭配特殊設計的數據庫結構，實現了高效率的缺陷數據處理自動化。

    2. 缺陷互動分析

    缺陷分析要從缺陷種類與數量的趨勢、缺陷在產品上的分布，缺陷的外觀甚至成分分析結果來進行。

    因此，xDMS 提供了高度互動的分析介面，讓缺陷分析人員可以輕鬆地進行分析，也提供了各式進階的缺陷分析功能，

    例如 : Stack Map、Defect to CP、Defect Zone analysis…等產業應用。

    xDMS 功能模組

    1. 缺陷圖分析

    xDMS 可透過缺陷圖檢視，確認缺陷地理位置分佈趨勢，具備 Defect Class、Size、Zone、Rough Bin 等等不同檢視角度，

    亦可針對缺陷檢視照片，並進行光罩與區域重複性等分析行為。

    2. 缺陷照片瀏覽

    缺陷照片是判定製程殺手的關鍵，透過 Image Browser 可以快速依據產品、製程層別、缺陷類型、生產批號進行照片搜尋，快速確認製程真因。

    3. 缺陷照片分類

    缺陷照片經由人員判斷、歸類照片可作為製程真因參考，快速根據照片進行缺陷分類，可提升工程人員缺陷真因查找的效率。

    4. 缺陷對電測數據疊圖

    缺陷對於良率的影響可透過 Kill Ratio 分析進行缺陷殺傷力層別，xDMS 提供 Defect 與 CP (電測)疊圖並呈現 Kill Ratio 資訊，

    可透過過濾 Defect Code 與 CP Bin Code 進行各種 Defect Kill Ratio 組合分析。

    5. 缺陷來源分析

    Defect 可能經由多道製程產生，確認 Defect 來源是缺陷管理的重要步驟。DSA 提供比對前後層 Defect，

    確認 Adder 與 Hit 比例，是提供找出源頭成因的重要功能。

  • xSPC - 離線分析管理系統
    xSPC 即時同步 Online SPC 數據，支持 SPC 數據長期分析與管理。提供 SPC 日常管理報表訂閱、管制界線試算自動化、製程能力分析管理自動化等功能，大幅提高品管人員的 SPC 管理效率。平台以全新的視角管理 SPC 與製程能力，可優化未來工廠製程監測與管控。應用於晶圓製造、封裝測試、矽晶圓、鋰電池、印刷電路板、光電元件等行業。

    平台特色:
    1. 全新的管制圖視角
    2. 完整的管制圖類型與仿真試算
    3. 完整與靈活的管制規則定義
    4. 敏捷的管理自動化...

    • xSPC 產品特色

    1. 全新的管制圖視角

    一套 xSPC 系統能對接多套 Online SPC 並適用於多條產線與部門，可透過彈性查詢介面快速查找各個產線的標準管制圖。

    圖表具有彈性且多樣的顯示方式。有 (1) 列表模式，結合重要管制圖指標與縮圖，讓管理人員快速進行 SPC 監控狀態查看；

    (2) 多圖並列模式，一個畫面並列多張管制圖，不遺漏管制圖細節兼顧快速查看。

    2. 完整的管制圖類型與仿真試算

    支持製造業常用的管制圖，XBar、R、S、X-MR 等計量型管制圖；P、nP、C、U 等計數型管制圖；EWMA與CUSUM等加權管制圖。

    支持 ISO 規定，管制計畫 (Control Plan) 中的所有管制圖在六個月內必須進行管制界線檢討與更新，xSPC 提供 (1) 誤判比例公式；

    (2) 智能統計公式兩種試算功能，並支持試算後客製化輸出格式，以達成 Online SPC 管制界線批量更新的便利性。

    3. 完整與靈活的管制規則定義

    系統具備彈性的管制規則設定邏輯，可以讓使用者自由定義所需的管制規則。

    亦提供常用的國際標準管制規則如尼爾遜法則(Nelson Rule) 和西屋法則 (WECO Rule)，兼顧使用者設定的方便性與彈性。

    4. 敏捷的管理自動化

    系統提供常用 SPC 管理五大報表 OOC/OOS Summary 異常自動彙總、Process Capability 製程能力自動彙總、

    Alarm History 異常報警紀錄、Event Summary 事件詳細列表、Control Limit Review Summary 管制界線自動檢查。

  • xBit - 記憶體失效特徵分析解決方案
    xBit 採用最新GPU運算技術，解決目前業界普遍的大容量記憶體(DRAM、Flash等等)的 Bit測試數據處理與分析效率問題。並讓Bit失效分析的時效性大幅提升，加速產線良率改善。已成功應用於 SRAM、DRAM 記憶體製造行業

    xBit 產品特色
    1. 出色的 FBM & FSA 分析效率
    2. 記憶體的大數據應用
    3. 記憶體失效晶圓圖與失效分類特徵圖
    4. 晶圓與晶粒的疊圖分析
    5. 記憶體失效特徵實體位置的獲取
    6. 內建強大失效特徵庫
    7. 記憶體佈局定義工具...

    • xBit 記憶體失效特徵分析解決方案

    Memory Failure Feature Analysis Solution

    xBit 採用最新GPU運算技術，解決目前業界普遍的大容量記憶體(DRAM、Flash等等)的 Bit測試數據處理與分析效率問題。並讓Bit失效分析的時效性大幅提升，加速產線良率改善

    • 出色的 FBM & FSA 分析效率

    Excellent FBM & FSA analysis efficiency

    分析效能為坊間產品至少八倍以上，平行運算結合 GPU 將失效特徵分類處理速度達到極限

    • 記憶體的大數據應用

    Big data applications in Memory industry

    xBit 提供檢視晶圓失效圖、失效特徵分類圖等，透過記憶體失效數量的統計，提供失效種類的彙總資訊與圖形特徵，加速產品設計與研發階段的良率的改善。

    xBit 產品特色

    1. 記憶體失效晶圓圖與失效分類特徵圖

    Memory failure wafer map and failure shape classification map

    快速檢視記憶體失效晶圓圖、失效特徵分類圖形，實現記憶體失效類型的分布統計，有效區別產品設計故障特徵。

    2. 晶圓與晶粒的疊圖分析

    Overlay analysis of wafers and dies

    晶圓測試條件之間的疊圖特徵，透過排列組合的顏色顯示，快速區分 Bit 失效特性，有效分析產品異常

    3. 記憶體失效特徵實體位置的獲取

    Acquisition of the physical location of Memory failure characteristics

    取得記憶體失效的實體位置，有效幫助失效真因的查找, 結合 FA 切片測試，減少未來產品良率的損失

    4. 內建強大失效特徵庫

    Built-in powerful failure feature library

    內建超過二十種常見記憶體失效特徵，例如大範圍的 Block Fail，常見的 Bit/Word Line Repeat 與 Single Bit，可由使用者彈性定義參數。

    5. 記憶體佈局定義工具

    Memory layout definition tool

    模擬記憶體之產品佈局定義工具，使用者依規則設置便利, 供系統依據記憶體布局精準運算與呈現。

  • ASSA - 缺陷分佈特徵自動識別解決方案
    ASSA應用AI算法，能時時監控晶圓製造產線上的缺陷分佈特徵，在異常發生的第一時間報警通知工程人員及時處理，減少人員看缺陷圖的壓力。有效防止不良品、問題設備繼續生產，提升良品率與降低成本。已成功應用於晶圓製造行業、矽晶圓行業

    ASSA 產品特色
    1. 內建缺陷分布特徵知識庫
    2. 雷同特徵的海量搜尋
    3. 即時監控預警及檢視

    ASSA 功能模組
    1. 彈性的篩選查詢
    2. 晶圓缺陷圖的互動分析
    3. 內建缺陷特徵庫
    4. 支持多樣化的管理缺陷規則
    5. 缺陷特徵的統計彙總...

    • ASSA 缺陷分佈特徵自動識別解決方案

    Automatic Identification Solution for Defect Distribution Patterns

    ASSA應用AI算法，能時時監控晶圓製造產線上的缺陷分佈特徵，在異常發生的第一時間報警通知工程人員及時處理，減少人員看缺陷圖的壓力。有效防止不良品、問題設備繼續生產，提升良品率與降低成本。已成功應用於晶圓製造行業、矽晶圓行業

    ASSA 產品特色
    1. 內建缺陷分布特徵知識庫

    內建缺陷分布特徵知識庫，不需要用樣本重新訓練模型，實現安裝即用的便利性。亦可采用廠內實際數據來自動定義新特徵，使長期累積下來之知識亦能快速用。

    2. 雷同特徵的海量搜尋

    協助使用者針對數據庫內或本地的檢測檔案，進行特定特徵的即時識別，有利於異常分析時的晶圓挑選或自動偵測上線前的預警模擬。

    3. 即時監控預警及檢視

    針對被識別出具特定缺陷分佈特徵之產品，進行第一時間的預警告知生產者或品管人員，達到品質管制與提升的目的。

    ASSA 功能模組
    1. 彈性的篩選查詢

    提供設定查詢的時間範圍與篩選條件，視情境可決定進一步查詢所需的層級，使用者可直覺地檢視特徵識別後的結果。

    2. 晶圓缺陷圖的互動分析

    提供晶圓缺陷圖之詳細資訊，具備縮放、光罩、輸出等功能，便於使用者進一步確認缺陷特徵問題。

    3. 內建缺陷特徵庫

    超過十種多樣的缺陷特徵庫, 搭配特徵的參數設定, 可建立超過數百種的缺陷特徵. 提供了內建的識別特徵範本，可針對內建特徵的參數進行優化，亦可自行建立新特徵與計算出其參數。

    4. 支持多樣化的管理缺陷規則

    基於已存在的特徵列表，可建立多組規則於特定產品、站點等，以利更精準地將特徵識別應用於線上監控。

    5. 缺陷特徵的統計彙總

    依據使用者所需維度，進行產品、時間段內的識別結果、摘要及彙總資訊，使管理人員更快了解缺陷特徵的失效分布

Categories

603 Simulation, Analysis; Modeling Software
  • Statistical Analysis; Modeling; Cost of Ownership (CoO) Software
    • 701 Manufacturing Services or Consulting
  • Software Programming; Software Development
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