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Micron Star Technology Limited.

Taipei City,  Xinyi Dist. 
Taiwan
http://www.keybond.com.tw/
  • Booth: I2306

歡迎來到新磊精密有限公司的攤位-I2306

Overview

秉持【誠信】、【創新】、【速效】的原則,至今已成為台灣、香港及中國地區,專業之數位研究儀器系統之代理商。為了提供大家更高品質的產品及服務,我們將延續誠信的原則,熱忱的態度,帶給大家更高品質、更大眾化、更豐富的專業產品。

本公司代理產品及相關應用

A. AFM原子力顯微鏡及探針 (Olympus-Pyramid, Adama, Rockymountain, Appnano, Mikromash, SCDprobes)

表面形貌分析、粗糙度分析、電性分析、磁性分析、力譜分析

產品連結: http://www.keybond.com.tw/product-category/afmprobes/olympus/

B. NIR/IR 紅外線相機 (Hamamatsu, KY-Seies)

Solar Cell 缺陷檢測, Silicon Wafer 缺陷檢測, NIR LED量測,Laser量測等。

產品連結: http://www.pentagontek.com/index.php?route=product/category&path=87

C. 高速攝影機 (NAC)

表面電漿氣化觀測,拉線觀測,焊接觀測產品連結: http://www.pentagontek.com/index.php?route=product/category&path=90

D. 顯微鏡及同軸光 (Zeiss)

長度量測,面積量測,角度量測,弧形量測等。

產品連結: http://www.pentagontek.com/index.php?route=product/product&path=134&product_id=216

E. Pyramid series CCD

影像系統解決方案

  • PCB檢測系統:

搭配 Zeiss Stemi 系列立體顯微鏡及 Pentagon IV 4K 相機、專用量測軟體,檢測 PCB、探針卡等電子元件樣品

  • 電路檢測系統:

搭配Zeiss Axioscope系列金相顯微鏡及 Hamamatsu InGaAs 近紅外相機,利用Silicon在短波長紅外波段可完全穿透的特性,來檢測晶片內部的電路

  • 電性檢測系統:

Photon etc. 高階致冷 (Deepli cooled) 紅外相機,其高感光度及低雜訊特性可用來檢測及辨識出電子元件上的電路異常或是失效點

  • 高速影像DIC分析系統:

利用高速影像來量測樣品表面的應力、應變等結構力學的物理量。常見的應用為摔落測試 (Free fall drop test) 和 振動測試 (Vibration test)


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