本公司代理產品及相關應用
A. AFM原子力顯微鏡及探針 (Olympus-Pyramid, Adama, Rockymountain, Appnano, Mikromash, SCDprobes)
表面形貌分析、粗糙度分析、電性分析、磁性分析、力譜分析
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B. NIR/IR 紅外線相機 (Hamamatsu, KY-Seies)
Solar Cell 缺陷檢測, Silicon Wafer 缺陷檢測, NIR LED量測,Laser量測等。
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C. 高速攝影機 (NAC)
表面電漿氣化觀測,拉線觀測,焊接觀測產品連結: http://www.pentagontek.com/index.php?route=product/category&path=90
D. 顯微鏡及同軸光 (Zeiss)
長度量測,面積量測,角度量測,弧形量測等。
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E. Pyramid series CCD
影像系統解決方案
搭配 Zeiss Stemi 系列立體顯微鏡及 Pentagon IV 4K 相機、專用量測軟體,檢測 PCB、探針卡等電子元件樣品
搭配Zeiss Axioscope系列金相顯微鏡及 Hamamatsu InGaAs 近紅外相機,利用Silicon在短波長紅外波段可完全穿透的特性,來檢測晶片內部的電路
Photon etc. 高階致冷 (Deepli cooled) 紅外相機,其高感光度及低雜訊特性可用來檢測及辨識出電子元件上的電路異常或是失效點
利用高速影像來量測樣品表面的應力、應變等結構力學的物理量。常見的應用為摔落測試 (Free fall drop test) 和 振動測試 (Vibration test)
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