Malvern Panalytical

2830 ZT 波長分散式 X 光螢光 (WDXRF) 晶圓分析儀可提供極致的薄膜厚度與組成成分量測效能，其專為半導體和數據儲存產業而設計，可用於判定最大達 300 mm 晶圓範圍內的各層組成成分、厚度、摻雜程度和表面均勻度。

X'Pert³ 系列 XRD 繞射系統將延續發揚 X'Pert 平台的輝煌成果。具備嶄新的嵌入式電子控制平台，加上符合最新、最嚴謹的 X 光安全規範，以及在環境友善和可靠性方面的進展，X'Pert³ 平台已為未來發展做好準備。

世界上最廣泛應用的奈米粒子、膠體及生物分子顆粒尺寸與電荷的測量系統
Zetasizer 系列儀器採用動態光散射(DLS)技術以用於量測直徑從次奈米至幾微米的分散系統粒徑。Zetasizer 系統也同時採用了電泳光散射(ELS)技術以用於分析顆粒的遷移率和電荷( Zeta 電位) ，並採用靜態光散射(SLS)以用於分析溶液中顆粒的分子量。

我們的晶體取向解決方案在設計時考慮了晶錠、晶錠、圓盤和晶圓應用。我們的產品可在各種環境下提供簡單、超快速的晶體取向。
從全自動線上分析到快速品質檢查，我們都能滿足您的需求。

DDCOM: 在輕巧套件中判斷超高速自動化晶體方向

SDCOM: 在輕巧套件中判斷超高速彈性晶體方向

Omega/Theta XRD: 多功能超快晶體取向與高精準度轉移技術

Wefer XRD 200: 快速、精確及完整配備：我們的晶圓端控制

Wafer XRD 300: 您的可整合晶圓方向解決方案

XRD-OEM: 完全自動化的線上方向與晶棒、晶球與晶盤處理

我們高度精確且快速的 XRD 系統Aeris 將讓您驚奇不已。只要不到五分鐘的時間，就能產生精準結果。在過去，如此快速且高品質的數據擷取效能，必須透過體積極其龐大的 XRD 系統才有可能實現。相對於此，Aeris 不僅體積精巧，且功能強大，為同類型產品中首創的設計。本系統具備單步驟樣本裝載機制，並且結合使用者存取權限控制以及可離線設計數據收集程式的功能，實用性高，極度靈活，從初階乃至專業使用者皆能有效運用。
無論您的應用需求重視的是泛用性或特殊專一性，Aeris 都能提供有力支援。