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双程科技股份有限公司

東區,  新竹市 
Taiwan
http://www.se-group.com
  • Booth: P5221

先進設備, 盡在双程! 起源於工程師, 從工程師的角度看見測試需求 歡迎前往Hall 2 ,1 F ;攤位: P5221

Overview

先進設備, 盡在双程!!

起源於工程師,從工程師的角度看見測試需求~~

双程科技~ 以提供客戶更完整的先進設備,及專業的服務為目標來努力

秉持著邁向尖端科技的進步,尋找幫助工程師提供成功研發/檢測的最佳工具

双程科技 成立於1993年,起源於工程師,瞭解工程師的需求---

双程科技 初期以代理頂級半導體探針機台為主,隨著客戶群日益穩固,並且專業能力受到肯定,逐步擴展產品線---由RF/微波, 半導體, 高精度電子學光電產業到最新科技的MEMS, 奈米技術, AI人工智慧, 新能源,5G/6G通訊,以及電子電力發展, 物聯網時代來臨……双程科技 秉持著邁向尖端科技的進步, 尋找幫助工程師成功研發/檢測的最佳工具,双程科技 除了將先進半導體產業設備及應用技術引進, 並提供不定期最新產品資訊,及與設備原廠往來密切的技術交流, 針對客戶的特殊需求及應用, 以專案專案的方式進行深入討論及時反應客戶所需; 為工程師提供業界領先的解決方案, 是双程科技 30年來的使命和榮譽......

◢ 双程提供

  • 晶圓級高精密探針台及周邊相關搭配器件
  • 微納米間距探針, 探卡, 定位器(探針座)
  • PCB信號完整性測試及高頻探針
  • ESD靜電放電測試設備
  • 先進通道模擬器(模擬器)
  • 地面和衛星無線系統射頻鏈路類比
  • 射頻/微波測試夾具, PCB測試夾具
  • 相位雜訊分析儀………

產品應用

  • 自動阻抗調協系統 (Automatic Tuner System)
  • 大功率測試, 半導體電性測量…., TDR/TDT
  • 可靠度測試系統 (Reliability Test System)
  • 故障分析(Failure Analysis)
  • 航空/衛星, 新能源汽車, 光電/光學……等領域

◢ 企業文化

    双程以【讓員工無後顧之憂】為目標:提供員工簡潔、舒適的工作環境, 長期的目標是使 双程 成為【EMPLOY OWNED COMPANY】 人性化的管理, 事前完整, 嚴謹的計畫; 事後客觀, 確實的績效評量打造員工樂於工作的氛圍, 視 双程 為自己的事業, 讓生活與工作取得一個平衡的樂趣。

◢  定位與期許

   双程科技 成立以來,秉著不斷充實專業、為客戶提供更好的產品及服務的使命下穩健而持續地發展。即使面臨全球新冠病毒疫情影響,設備業的寒冬,仍能保持正向的成長從未停下腳步,堅持專業提供給客戶優質的產品與服務;双程長程目標是整合亞洲的行銷服務網,成為亞洲區最佳的專業代理商。

双程科技 關心您的需求


  Press Releases

  • 1160系列 多用途手動探針台

    專為RF/mmWDCCV-IVMEMS探測和高功率應用的可靠和準確的分析而設計

    ◆規格與應用:

    ● 射頻檢測                                        ● 低電流、IV/CV

    ● 故障分析                                        ●  適用於4吋、6吋 、8 吋晶圓 

    ●  X-Y-Z平滑移動                             ● 高頻、高功率 、毫米波、非諧振操作

    ● 支持行業上大多數高倍顯微鏡、單變焦視頻示波器、立體變焦低倍率顯微鏡

     

    Download:1160 DATA SHEET

    堅持超過50年工匠精神 專業 .高品質. 探針台設備製造

    行業應用(半導體、電子、電路板、光子學)

    SE Technologies,  See Your Needs

    歡迎來函/來電谘詢

    [email protected]/ (03)579-9029

  •                             堅持超過50年工匠精神 專業 .高品質. 探針台設備製造

    美國SIGNATONE (辛格列)公司研發生產 的PowerPro系列探針台系統與解決方案,可與各大廠家的大功率測試儀錶及測試機整合做大功率半導體晶圓針測,專有的高壓探針(HVP)和大電流探針(HCP)的設計滿足功率器件特性在晶圓級的挑戰。

    大功率半導體測試探針台

    為電力電子行業提供全方位的大功率探測解決方案

    ■ 手動, 半自動 4寸, 6寸, 8寸, 12寸                                 

    ■ 溫度範圍: 常溫 ~ 200℃, 300℃

    ■ 卡盤(Chuck)承載:

       電壓: 3 KV 三軸, 10 KV雙軸, 20 KV 單芯       電流:100A ~ 500A 脈衝,10A 直流

    ■ 大電壓探針:1KV, 3KV, 10KV , 20KV

    大功率器件測試箱 的主要特性:

    ■ 6個連接器:

       10kV SHV連接器x3   ;  5kV SHV連接器x3

    ■ 200mm x 200mm通用安裝板,帶有256個安裝孔

    ■ 140mm x 140mm 視窗

    ■ 115mm 的夹具寬度

    ■ 高壓電纜與可拆卸的鱷魚夾x3

    ■ 安全鎖一體化

    ■ LED互鎖指示器

    SE Technologies,  See Your Needs

    歡迎來函/來電諮詢

    [email protected]/ (03)579-9029

  • ΩPro診斷性多測試電阻率測量系統

     薄片和體電阻率測量提供了簡單的答案材料薄膜, 電阻率測量, Sic, GaN , 第三代半導體材料分析

    自1968年以來,Lucas-SIGNATONE設計並製造了用於測量半導體片電阻率的四點探測設備,四點探針測量系統已應用於各種材料研究應用,測量各種襯底上的薄膜。

    SIGNATONE ΩPro四點探針電阻率測量系統為薄片和體電阻率測量提供了簡單的答案,為了進行測量,用戶將四點探針頭降低到樣品上,然後搭配選擇軟體中的測試按鈕,電腦自動控製儀器,並逐步通過一些電流設置,以找到準確讀數的理想電流,進行V/I測量並記錄,該系統採用ASTM標準F84-99的雙配置測試方法,以補償探頭間距誤差和靠近導電層邊緣引起的誤差。

    在量測 100 毫米125 毫米150 毫米200 毫米300 毫米的待測樣品時, 可設定自動測量92549或 121 個測試點,

    系統使用四點探針雙架構測試方式並整合了目前最佳的測量儀錶可達到在 1mΩ/ 至 2MΩ/ 間小於 1% 的誤差

    ΩPro電阻率測量系統與SIGNATONE硬體(如:探針台,探針,探針座……)搭配結合應用,以實現所需的測量值。

      ΩPro電阻率測量系統解決方案應用於---

     用共線四點探針測量繪製薄膜的薄層電阻圖

     精密共線四點探針薄膜電阻的溫度係數

     使用2Kelvin probes和精密表面溫度探針的電阻精密溫度係數

     使用Kelvin probes或探針卡對多個電阻器進行標準TCR測試

     精確的電阻測試溫度係數

     使用單個探針對Vander Pau微結構或薄膜進行Vander Pau四點測量

    Download~DATA SHEET

    更多產品資訊--

    歡迎來函/來電諮詢

    [email protected] / +886-3-579-9029

    SE Technologies,  See Your Needs!

  • ESD, TLP和CDM測試設備的設計和製造的領先者

    Grund Technical Solutions (GTS)公司,是業界ESD測試和類比設備的領先設計製造供應商。

    GTS擁有在ESD測試解決方案的設計、開發和製造領域超過50年的經驗。

    擁有成熟的客戶和合作夥伴【技術創新】是GTS的一大特色

    GTS在創新、可靠的產品以及通過與客戶密切合作建立的回應性客戶技術和服務支援方面有著良好的記錄。

    GTS技術人員瞭解ESD測試的當前需求、趨勢和意見,為廣大的ESD工程師作出貢獻。

    Scorpion—新一代CDM測試儀

    ● 具備獨特的高重複性及enclosed air spark穩定的脈衝

    ● 接觸式第一脈衝傳輸

    ● 簡易的設備校準自動Z測量簡化了過程

    ● 柔性測試

    TITAN-HBM16千伏高壓電磁測試

    ● 大電壓範圍  50V 到 16kV

    ● 簡單易用的測試夾具板  帶有48針DIP插座

    ● 符合 ESDA/ JEDEC 要求

    ● 簡易操作、方便安裝

    PurePulse一款靈活高效率ESD測試儀,能夠測試器件和晶圓

    ● 雙針式測試

    ●  模組化設計

    ● 晶圓級測試

    ● 無待測件管腳/焊盤(Pins)數限制

    歡迎來電/來函谘詢 +886-3-579-9029/ [email protected]

    SE TECHNOLOGIES See Your Needs!

  • Robson Technologies, Inc(RTI)專為半導體及高科技行業設計提供定製測試解決方案

    RTI為小型設備(如BGA、LGA、QFN、QFP、WLCSP、CSP、裸晶片等)設計和構建測試通訊端

    擁有各式各樣的測試通訊端來支持用戶指定的測試應用程式,包括ATE,老化,特性描述,設備程式設計,故障分析,生產測試...等等

    IC 晶片測試夾具解決方案

    晶圓級晶片封裝測試--提供高規格定制

    ■ CSP, WLCSP, BGA, PGA, QFN....等封裝裸片, 倒裝晶片, TSSOP, SOIC, 引線框架,多晶片模組(MCM), MEMs設備....

    ■ 通用陣列 IC 測試夾具

    ■ 故障分析和可靠性測試/極細間距: ≤低至0.3mm

    自動曲線追蹤儀  MultiTrace Curve Tracer

    ■ 支持216到625引腳的引腳數

    ■ 光學故障定位

    ■ ESD測試及閂鎖測試

    ■ 開路, 短路漏電測試(OSL)

    ■ PCB中用於背面訪問的開口

    ■ 故障分析和可靠性測試

    定製專屬插座~~歡迎來電/來函谘詢

    SE Technologies,  See Your Needs

    +886-3-579-9029  [email protected]


  Products

  • 半導體電性測量--精密探針台
    探針台是半導體(積體電路,分立器件,光電器件,感測器)行業重要的檢測裝備之一;
    其廣泛應用於複雜,高速器件的精密電氣測量,旨在確保品質及可靠性,並縮減研發時間和器件製造工藝的成本。
    探針台主要用於晶圓製造環節的晶圓檢測,晶片研發和故障分析等應用;
    SIGNATONE 公司為專業.高品質.探針台設備製造商,行業應用---半導體、電子、電路板、光子學
    ...

  • 芯片/封裝/模組測量探針台

    探針台是半導體(積體電路,分立器件,光電器件,感測器)行業重要的檢測裝備之一

    主要用於晶圓製造環節的晶圓檢測,晶片研發和故障分析等應用;

    產品應用:

    ■ 手动, 半自动                                                 ■ 4吋, 6吋, 8吋, 12吋
    ■ 直流参数, 高频参数                                      ■ 高压, 大电流测试, IV, CV测试
    ■ 负载牵引, 噪声参数                                      ■ 失效分析, 可靠性测试

    特征

    ■ 温度范围:-65℃~600℃                  ■ 低漏电: fA
    ■ 频率范围: 直流~太赫兹                 ■ 纳米分辨率探针座

    SE Technologies,  See Your Needs

    歡迎來函/來電谘詢

    [email protected]/ (03)579-9029

  • 四點探針 電阻率測量系統
    應用於各種材料研究應用, 測量各種襯底上的薄膜
    四點探針電阻率測量系統, 提供了簡易且方便測量----
    片電阻率( Sheet Resistivity)與體電阻率(Bulk Resistivity)的有效方法...

  • 四點探針電阻率測量系統, 提供了簡易且方便測量----
    方塊電阻/膜厚/電阻率/電阻溫度係數的有效方法;Van der Pauw 四點測量

    為滿足片、薄膜、太陽能電池和各種應用的研究需求而設計的

    ■ 手動, 半自動                                           

    ■ 可選測量範圍: 1μΩ ~ 10GΩ

    可選溫度範圍: 常溫 ~ 600℃                   

    多種四點探針頭可選用

    可顯示2D及3D阻值分佈圖   

    Kelvin探針或探針卡進行標準TCR測試

    自動定位測量

    索取更多四點探針測量系統產品~~

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    歡迎來函/來電諮詢 

    [email protected]/ (03)579-9029

  • ESD Test Solution
    Grund Technical Solutions (GTS) ~晶圓級廣泛測試需求/創新ESD測試儀,並開創了雙針測試方法。
    超過50年專業經驗在ESD測試和模擬設備的解決方案設計、開發和製造領域
    PurePulse 一款靈活高效率ESD測試儀,能夠測試器件和晶圓
    TITAN-HBM 16千伏高壓電磁測試
    Scorpion—新一代CDM測試儀...

  • Grund Technical Solutions (GTS) ~晶圓級廣泛測試需求/創新ESD測試儀,並開創了雙針測試方法。
    超過50年專業經驗在ESD測試和模擬設備的解決方案設計、開發和製造領域

    ● 人體模型 (HBM)       ● 機器模型 (MM)                          ● 人體-金屬模型 (HMM)

    ● 傳輸線脈衝 (TLP)      ● 超高速傳輸脈衝 (UF-TLP)           ● 靜電放電敏感度試驗 (CDM)

    ● 特快傳輸電線路脈衝, 靜電放電敏感測試 (VF-TLP)

    PurePulse

    一款靈活高效率ESD測試儀,能夠測試器件和晶圓

    ● 雙針式測試       ● 模組化設計

    ● 晶圓級測試       ● 無待測件管腳/焊盤(Pins)數限制

    TITAN-HBM 16千伏高壓電磁測試

    ● 大電壓範圍 50V 到 16kV

    ● 簡單易用的測試夾具板帶有 48DIP插座

    ● 符合 ESDA/ JEDEC 要求

    ● 簡易操作、方便安裝

    Scorpion — 新一代CDM測試儀

    ● 具備獨特的高重複性及enclosed air spark穩定的脈衝

    ● 接觸式第一脈衝傳輸

    ● 簡易的設備校準自動Z測量簡化了過程

    ● 柔性測試

    SE TECHNOLOGIES See Your Needs!

    歡迎來電/來函谘詢 +886-3-579-9029/ [email protected]

  • 信號/電源完整性測試
    GigaTest Labs (GTL)為專業信號完整性測試先驅,以卓越的工程服務於電子行業;
    設計應用於大, 中, 小型測試板, 插座, 連接器和器件封裝上的測量,
    具備完善的精密度和靈活性組合, 與TDR示波器、向量網路分析儀(VNA)或示波器配合使用進行測量,
    驗證和建模的組件, 如連接器, 積體電路封裝, 電路板, 測試插座, 無源器件等
    ...

  • GigaTest Labs (GTL)為專業信號完整性測試先驅,以卓越的工程服務於電子行業;

    設計應用於大, 中, 小型測試板, 插座, 連接器和器件封裝上的測量,
    具備完善的精密度和靈活性組合, 與TDR示波器向量網路分析儀(VNA) 或示波器配合使用進行測量,
    驗證和建模的組件, 如連接器, 積體電路封裝, 電路板, 測試插座, 無源器件等

    ■  高速連接器

    ■  各類電路板

        - 平面, 直立    - 主機板, 子板, 母子板      - 2D, 3D, 立體板, 正交板

    ■  芯片封裝
        - 倒裝芯片, BGA封裝
    ■  故障分析檢測
        - 橋梁式設計探針台, 達到X, Y和Z軸移動
    ■ 可配置多達8個微型定位器 (探針座)

    射頻/微波探針

    ■ 單端探針, 雙探針, 差分探針
    ■ GS/SG/GSG/GSSG/SS
    ■ 16GHz, 18GHz, 20GHz, 30GHz, 40GHz, 65GHz, ......., THz

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    歡迎來函/來電諮詢

    [email protected] / +886-3-579-9029

  • 微米級和奈米級探測
    半導體、薄膜、LED、MEMS、NEMS和光子學測試
    精密工藝四點探針電阻率測量 & 奈米級的探針...

  • 半導體、薄膜、LEDMEMSNEMS和光子學測試

    精密工藝四點探針電阻率測量 & 米級的探針

    微奈米探測

    ■ NEMS/MEMS/Min/Micro LED 探測

    ■ 微奈米級四點探針

       薄膜材料和器件的電阻, 薄片電阻和電阻率

    ■ 定制開發極細間距參數探針卡

    ■ 直流/高頻 DC-40GHz, CV電氣測試

    LiteProber XLP-10單點自動探測系統

    ■ 探針頭Piezo Z 移動範圍: ±6 mm ;  解析度:10 nm

    ■ 再現性(單向/雙向):±50 nm

    ■ 探針頭手動X-Y 移動範圍: ±3 mm/axis 解析度及精度: 10μm

    更多產品訊息

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    歡迎來函/來電諮詢

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  • 測試夾具
    Robson Technologies, Inc (RTI)於1989年開始專為半導體及高科技行業設計提供定制測試解決方案,
    RTI為小型設備(如BGA、LGA、QFN、QFP、WLCSP、CSP、裸晶片等)設計和構建測試通訊端,
    擁有各式各樣的測試通訊端來支持用戶指定的測試應用程式,包括ATE,老化,特性描述,設備程式設計,故障分析,生產測試...等等。
    為不同的應用而開發的帶有不同蓋子的IC插座,定制化不同蓋子的設計,使一個插座適用於不同的應用
    ...

  • IC 晶片測試夾具解決方案
    晶圓級晶片封裝測試--提供高規格定制

    ■ CSP, WLCSP, BGA, PGA, QFN....等封裝裸片, 倒裝晶片, TSSOP, SOIC, 引線框架, 多晶片模組(MCM), MEMs設備....

    ■ 通用陣列 IC 測試夾具

    ■ 故障分析和可靠性測試

    極細間距: ≤低至0.3mm

    Robson Technologies, Inc(RTI)專為半導體及高科技行業設計提供定製測試解決方案

    RTI為小型設備(如BGA、LGA、QFN、QFP、WLCSP、CSP、裸晶片等)設計和構建測試通訊端

    擁有各式各樣的測試通訊端來支持用戶指定的測試應用程式,包括ATE,老化,特性描述,設備程式設計,故障分析,生產測試...等等

    RTI產品應用分類

    ◆半導體行業     ◆醫療器械        ◆新能源汽車     ◆電子製造          物聯網         電信

    定製專屬插座~~歡迎來電/來函谘詢

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