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日本マイクロニクス

武蔵野市吉祥寺本町,  東京都 
Japan
https://www.mjc.co.jp
  • 小間番号1912


プローブカード、テストソケット、テスタ、ウェーハプローバ等、最新のテストソリューションをご紹介いたします。

ぜひ当社ブースへお越しください。


 出展製品

  • Probe Card
    実機展示:U-Probe / MEMS-V / MEMS-SP ...

  • ・ SOCやAIプロセッサ等のロジックデバイスに適したプローブカード「MEMS-V」と「MEMS-SP」

    ・ 1枚で2,500DUT、250,000ピンまでの針立てが可能なメモリデバイス向け「U-Probe」

  • Tester
    実機展示:半導体テスタ ...

  • ・ 共通プラットフォームとアプリケーションモジュールを自由に組み合わせられる半導体テスタ

  • Wafer Prober
    パネル展示...

  • ・ 研究開発から量産まで、様々なニーズに適したウェーハプローバ

  • Test Sockets
    実機展示:J-Contacts / Bee Contacts ...

  • ・ 高周波デバイスや小型パッケージの測定に適した「J-Contacts」

    ・ 接触安定性が高く、製品寿命の長い「BeeContacts」