DOT800Tは、従来のシリコンデバイスだけでなく、窒化ガリウムおよびシリコンカーバイド技術のテストにも対応しており、高電圧・高電流出力モジュール、高周波および低電流測定機能で、それらの性能範囲をカバーします。品質と信頼性を保証するために、完全で正確な動的テスト、静的テスト、および絶縁テストシーケンスを使用して、実際の利用条件下での正しいデバイス動作が検証されます。 これら全ての機能が、大量生産環境向けに設計され、高スループットのモジュール式で構成可能なテスターに搭載されています。
- パワーデバイスに必要な全ての電気特性検査を1台で対応
- ウェハ、ディスクリート（Si、SiC、GaN）、IPM、DBC、AMB、IGBTモジュールに対応
- 全てのパワーデバイス・アプリケーションに対応した高電圧・高電流出力モジュールを選択可能
- 25nH以下の寄生インダクタンス（配線インダクタンス）、過電圧は常にブレークダウン電圧以下
- マルチ・コアテスト構造により、ISO、DC、ACの個別テストステーションで並列、非同期テストモードに対応
パワーデバイス用電気特性検査システムDOT800Tはマルチコア構造で、1〜6個の独立したテストコアを装備しています。専用のステーションでISOテスト、ACテスト、DCテストを実行でき、それぞれに専用の独立したコントローラーがあります。1つのシステムで、6つの強力なテスターの機能と効果を得ることができます。
各コアは、特定のテスト要件と操作フローに従って、AC、DC、またはISOテストステーションに割り当てることができます。構成は拡張性があり現場でアップグレード可能であるため、テスターのセットアップをさまざまなデバイス要件に適合させることができます。各テストコアコントローラがテストリソース、計測器接続、およびテストプログラムの実行を管理するため、さまざまな異なるテストプログラムを確実に並列にも非同期モードでも実行する事が可能です。