Loading...

クロマジャパン

横浜市,  神奈川県 
Japan
http://www.chroma.co.jp
  • 小間番号2115

クロマジャパンにご興味お持ちいただきありがとうございます。是非弊社のブースまで立ち寄りいただき、弊社の製品やソリューションについてお話し出来れば幸いです。

弊社は台湾から始まり、幅広い半導体のポートフォーリオを持ち世界中に信頼できるソリューションを提供しております。ATE、PXIシステムから、ICハンドラーやシステムレベルのテストソリューションに至るまで、半導体テストソリューションに関する製品を持っております。

ATE関連

ATEとPXIのソリューションでは、コンシューマーSOC(MCU、コントローラ、オーディオ、ペリフェラル)、パワーマネージメントIC(レギュレータ、LDO、DC/DC、AC/DC、LEDドライバ)、RF(FEM、コネクティビティ、モバイル)、その他アプリケーション(CIS、光センサ、RFID)をカバーします。

https://www.chromaate.com/jp/products_list/soc_test_system#nav_breadcrumb

ハンドラー関連

また、ハンドラーと自動システムのソリューションでは、温度制御、拡張デバイスのハンドリング技術、ベアダイのハンドリング、CISターンキーソリューション、システムレベルのテストソリューションをカバーします。

https://www.chromaate.com/jp/products_list/ic_pick_place_handler#nav_breadcrumb

光学、ウェーハ関連

その上に、Chromaは電気的および光学的測定において、統合されたメカニズムと温度制御技術で、さまざまな温度条件下でデバイスのエージングと特性テストを提供しています。

https://www.chromaate.com/jp/test_solutions/aoi_solution

問い合わせ先:

クロマジャパン株式会社 営業部

専用フォーム:https://www.chromaate.com/jp/contacts/contact_form


 出展製品

  • In-process ウェーハ検査システム モデル7945
    ダイシング前/後ウェーハに対する、高速ウェーハ、ダイ検査システムであり、同時両面検査が出来る装置となります。...

  • ・ダイシング前後の両面検査
    ・VCSEL、PD、LED、ディスクリートデバイスなどのアプリケーション向け、最適な解像度とアルゴリズムを提供
    ・WPH 6~12ウェーハ / H、0.5μm / ピクセル解像度
    ・ウェーハサイズ:8インチ、検査エリア10インチ
    ・ウェーハタイプ:未切断&切断パターンウェーハ(Change kits付)
  • 高機能SoC/Analogテストシステム モデル3680
    本システムは、高効率測定/多数個同時並列測定により、開発現場及び量産現場の生産性向上に寄与します。 また、高速/高精度/高信頼性及び、使いやすい操作環境で、各種民生用デバイス/高機能マイクロプロセッサ(MCU)/アナログデバイス/SOC測定のサポートをします。...

  • Chroma最新3680テストシステムは、デバイスの幅広い機能及び、様々なテスト要求に応えられる、柔軟なシステム構成を準備しています。 テストヘッドにいろいろな測定機能基板を、実装できるスロットを、24か所準備しています。
    デジタル測定として、最大2048ピン/測定速度1Gbps/ベクタメモリ容量256MW/総合タイミング精度±150psの高精度高速を実現できます。
    また、アナログ測定として、HDADDA2(高速ADC/DAC測定機能)/HDVI(高電圧測定機能)/HDAVO(高周波測定機能)/400MspsAWG(任意波形発生機能)、250MspsDIG(デジタイザ機能)/高精度高周波測定用24ビットAWG&DIGのオプションをそろえています。

    • デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由)
    • 最大1Gbpsのデータレート
    • 最大 2048 サイトの並列テスト
    • 最大2048デジタルI/Oピン
    • 最大256 MWパターンメモリ(512MWオプション) 
    • 最大64チャンネルPMU(高精度DC測定) 
    • タイミング測定/DC測定(PPMU)/周波数測定を全ピン装備
    • 最大8G/スキャン  (16Gオプション)
    • タイミングエッジ精度 (EPA) : ±150ps
    • 最大128チャンネル DPS(デバイス電源)
    • HDADDA2(デジタイザ/任意波形発生)オプション
    • 高電力HCDPSアナログオプション
    • 高周波測定HDAVOオプション
    • 多チャンネルHDVIアナログオプション*
    • 多チャンネルHDRF オプション*
    • ダイレクトプロービングシステム*
    • マルチドメインファンクション*
    • OS : Microsoft Windows® 10
    • プログラム言語 : C#.NET and GUI
    • オペレーションシステム : CRISPro, 
    • 他社テスタからのプログラムサポート
    • 他社テスタのテストボードサポート
    • 標準仕様STDFサポート
    • 全機能をテストヘッドに実装
    • 省スペース、空冷システム
  • 低高温フルレンジコントロールICハンドラ モデル3110-FT
    高機能化に伴う膨大な測定、及び微細化による超高速I/Fで、ATEで完全な不良検出が難しくなっています。これらの解決手段として、システムレベルテストSystem Level Test (SLT) ソリューションとして提案いたします。...

  • 設定可能温度 -40~125℃
    FT試験及びSLT試験対応
    測定可能パッケージ寸法 3x3 mm~45x45 mm
    コンタクト圧制御可能範囲 1~10 kg (オプション)
    分類トレイ最大4分類(ソフトウエア分類上限なし)
    リモートコントロール オペレーション
    歩留監視機能搭載
    インテリジェントオートリテスト&オートリトライ機能搭載
    リアルタイム トレイステータス
  • レーザーダイオードウェハプローバ モデル58635
    ISO / IEC規格基準 最大6インチ ウエハーまで対応 温度: -広い温度範囲 -高精度温度制御 QCW&CWSをサポート 機種 LIV-λ test:モデル58635-L Near Field test:モデル58635-N Far-field test:モデル58635-F LIV-λ&NF two-in-one test:58635-LN...

  • The advancement of the photonics device technology continues to enable broader and more demanding applications in the industry. For example, the use of laser diodes and VCSELs has expanded into a variety of consumer products beyond communication applications. To address the increasing test demand for many new device applications, Chroma has developed a series of laser diode wafer testers, the 58635 Series, designed specifically for consumer applications utilizing proprietary photoelectric measurement technologies accumulated over the years.
  • レーザーダイオードバーンイン&信頼性試験システム モデル58604
    最大256個SMUチャンネルの寿命試験用モジュール採用...

  • ■ バーンイン、信頼性&寿命試験に適用
    ■ レーザーダイオードに設定した電流を高安定度供給可能な
    自動電流制御(ACC)モード
    ■ レーザーダイオード電流を自動的に調整し、フィードバック信
    号を維持できるオートパワーコントロールモード(APC)
    ■ 良好で均一性なレーザーダイオードのケース温度管理可能
    ■ 異なる温度と制御モードを採用した動作個別モジュール操
    作搭載
    ■ 異常発生時の保護する個別チャネルをシャットダウン可能
    ■ 通信中断後の自動データ復旧機能

Categories