Loading...

ニデックアドバンステクノロジー

向日市森本町東ノ口,  京都府 
Japan
https://www.nidec.com/jp/nidec-read/
  • 小間番号2718


ご要望に合わせた、最適な検査ソリューションをご提案致します。

「IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査」に加え、CHIPLET対応電気検査システム 「大型個片PKG向け新型電気検査装置」、温度測定プローブカード用「熱電対プローブ」、高周波インピーダンス測定器「ベクトルネットワークアナライザー」を中心とした最先端の検査ソリューションをご要望に合わせてご提案致します。是非ブースへお越しください。


 プレスリリース

  • 今回の展示会では、「IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査」に加え「ニデックSVプローブの各種プローブカード」「半導体ウェハバンプ光学検査システム」を中心とした、最先端の検査ソリューションをご要望に合わせてご提案致します。
    ぜひとも弊社ブースへお越しください。
    ■主な展示内容(プローブカード・ベクトルネットワークアナライザーのみ実機展示)

     ・IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査装置 「NATSシリーズ」

     ・ IGBT/SiC モジュール 動特性検査「PM特性取得波形解析ソフト」

     ・EVモーター(e-Axle)用テストベンチ 「TDASシリーズ」

     ・光学式バンプ外観検査装置 「RSH / RWiシリーズ」

     ・CHIPLET対応電気検査システム 「大型個片向け新型電気検査装置」

     ・半導体PKG OPEN/LEAK電気検査システム 「GATSシリーズ」

     ・高周波インピーダンス測定器 「ベクトルネットワークアナライザー」

     ・静電容量/インピーダンス マルチファンクションテスター 「R-700 シリーズ」

     ・温度測定プローブカード用「熱電対プローブ」

     ・プローブカード