クロマジャパン

・ダイシング前後の両面検査
・VCSEL、PD、LED、ディスクリートデバイスなどのアプリケーション向け、最適な解像度とアルゴリズムを提供
・WPH 6~12ウェーハ / H、0.5μm / ピクセル解像度
・ウェーハサイズ：8インチ、検査エリア10インチ
・ウェーハタイプ：未切断&切断パターンウェーハ（Change kits付）

Chroma最新3680テストシステムは、デバイスの幅広い機能及び、様々なテスト要求に応えられる、柔軟なシステム構成を準備しています。 テストヘッドにいろいろな測定機能基板を、実装できるスロットを、24か所準備しています。
デジタル測定として、最大2048ピン／測定速度１Ｇｂｐｓ／ベクタメモリ容量256ＭＷ／総合タイミング精度±150ｐｓの高精度高速を実現できます。
また、アナログ測定として、ＨＤＡＤＤＡ２（高速ＡＤＣ／ＤＡＣ測定機能）／ＨＤＶＩ（高電圧測定機能）／HＤＡＶＯ（高周波測定機能）／400ＭｓｐｓＡＷＧ（任意波形発生機能）、250ＭｓｐｓＤＩＧ（デジタイザ機能）／高精度高周波測定用24ビットＡＷＧ＆ＤＩＧのオプションをそろえています。

• デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由)
• 最大1Gbpsのデータレート
• 最大 2048 サイトの並列テスト
• 最大2048デジタルI/Oピン
• 最大256 MWパターンメモリ(512MWオプション) 
• 最大64チャンネルPMU(高精度DC測定) 
• タイミング測定/DC測定(PPMU)/周波数測定を全ピン装備
• 最大8G/スキャン  (16Gオプション)
• タイミングエッジ精度 (EPA) : ±150ps
• 最大128チャンネル DPS(デバイス電源)
• HDADDA2(デジタイザ/任意波形発生)オプション
• 高電力HCDPSアナログオプション
• 高周波測定HDAVOオプション
• 多チャンネルHDVIアナログオプション*
• 多チャンネルHDRF オプション*
• ダイレクトプロービングシステム*
• マルチドメインファンクション*
• OS : Microsoft Windows® 10
• プログラム言語 : C#.NET and GUI
• オペレーションシステム : CRISPro, 
• 他社テスタからのプログラムサポート
• 他社テスタのテストボードサポート
• 標準仕様STDFサポート
• 全機能をテストヘッドに実装
• 省スペース、空冷システム

設定可能温度 -40~125℃
FT試験及びSLT試験対応
測定可能パッケージ寸法 3x3 mm~45x45 mm
コンタクト圧制御可能範囲 1~10 kg (オプション)
分類トレイ最大4分類(ソフトウエア分類上限なし)
リモートコントロール オペレーション
歩留監視機能搭載
インテリジェントオートリテスト&オートリトライ機能搭載
リアルタイム トレイステータス

The advancement of the photonics device technology continues to enable broader and more demanding applications in the industry. For example, the use of laser diodes and VCSELs has expanded into a variety of consumer products beyond communication applications. To address the increasing test demand for many new device applications, Chroma has developed a series of laser diode wafer testers, the 58635 Series, designed specifically for consumer applications utilizing proprietary photoelectric measurement technologies accumulated over the years.

■ バーンイン、信頼性＆寿命試験に適用
■ レーザーダイオードに設定した電流を高安定度供給可能な
自動電流制御（ACC）モード
■ レーザーダイオード電流を自動的に調整し、フィードバック信
号を維持できるオートパワーコントロールモード（APC）
■ 良好で均一性なレーザーダイオードのケース温度管理可能
■ 異なる温度と制御モードを採用した動作個別モジュール操
作搭載
■ 異常発生時の保護する個別チャネルをシャットダウン可能
■ 通信中断後の自動データ復旧機能