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アズビル

藤沢市川名,  神奈川県 
Japan
https://www.azbil.com/jp/
  • 小間番号4112


『デポ課題を解決。成膜・エッチングプロセスの進化に貢献』をテーマに、お客様へ 新たな価値 をご紹介、ご体感いただきます。

半導体プロセスは日々進化しており、それに伴い、前工程の成膜・エッチングにおいても、使用されるガスの種類が増加しています。
プロセスガスの種類によっては、この工程で使用する真空計のセンサダイヤフラム上に膜が形成されてしまう、
デポ*1と呼ばれる現象が発生することがあり、ゼロ点がシフトする現象が多く確認されています。
そのため真空計の調整頻度が増え、計画通りに生産できないなど、半導体成膜・エッチング装置のユーザーにとって大きな課題となっています。
今回出展する形 V8では、センサ構造・通路などの全面的な見直しを行っております。
MEMS*2技術を用いてセンサ表面を凸凹に加工し膜の付着を極力分断する凸凹センサの開発や、
従来製品のフラットセンサに対しても応力*3のバランスの改良を施し、センサダイヤフラムの表面をたわみにくくするなどの対策の結果、
デポによるゼロ点シフト量は、当社従来製品であるサファイア隔膜真空計 形 SPGとの比較で1/10と大幅に改善しております。
また、新たに250℃の高温まで使用可能な分離型をラインアップに追加し、成膜工程で使用されるALD*4装置において
プロセスガスの変更に伴う高温環境での使用にも対応できるようになっております。

*1 デポ:デポジションの略語で堆積の意味がある。半導体製造工程では薄膜を生成する成膜工程を指す。
*2 MEMS:Micro Electro Mechanical Systemsの略。微小な電気要素と機械要素を一つのチップに組み込んだ、センサをはじめとする各種デバイス/システム。
*3 応力:外から力を受けたとき、部材内部に発生する内力。
*4 ALD: Atomic Layer Depositionの略。原子層堆積技術を用いた、真空を利用した成膜技術の一つ


 出展製品

  • サファイア隔膜真空計 形V8
    半導体前工程の成膜・エッチング用途で使用される真空計では、デポなどの付着物の影響で、ゼロ点がシフトする現象が多く確認され、ユーザ様の大きな課題となっています。 サファイア真空計 形V8は、MEMS技術を用いてセンサ表面を凸凹に加工し膜の付着を極力分断する凸凹センサの開発や、従来製品のフラットセンサに対しても応力バランスの改良を施し、センサダイヤフラムの表面をたわみにくくするなどの対策の結果、デポによるゼロ点シフト量は、当社従来製品との比較で1/10と大幅に改善しました。 ...

  • 圧力センサ/真空計

    サファイア隔膜真空計 形 V8C/V8S
    形番
    V8C, V8S
    V8.jpg

    受圧部にサファイアを採用。MEMS加工技術を応用し耐デポ性能を改善した隔膜真空計です。

    • 耐デポ性能向上によるダウンタイム低減
    • 250℃まで使用可能、プロセスガスの高温化に対応
    • 小型化によるフットプリント削減
     

    サファイア隔膜真空計 形 V8は、MEMS加工技術を応用したセンサにより、耐デポ性能を改善しました。
    受圧部に高耐食性、高耐熱性であり機械特性にも優れた単結晶サファイアを使用し、形 V8Sでは最高使用温度250℃を実現しました。

    耐デポ性能向上によるダウンタイム低減

    MEMS加工技術を応用し、シフト量を1/10に改善しました。

    応力バランス構造
    感圧部の外周部に厚みを持たせ、
    外周部と中心部にかかる応力バランスを相殺することで、
    感圧部が変形しにくくなりゼロ点シフトを低減

    画像
    V8センサ構造図
    V8センサ構造図

    凸凹センサ
    感圧部表面を凸凹に加工することで、
    付着膜を分断し堆積物の応力影響を低減

    画像
    凸凹センサ

    250℃まで使用可能、プロセスガスの高温化に対応

    形 V8Sでは、基板部分とセンサ部の分離や使用材料の見直しにより最高使用温度250℃を実現しました。

    小型化によるフットプリント削減

    内蔵部品のスペース効率を向上させ、体積は40%減少しました。(当社従来製品比)