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Particle Measuring Systems

川崎市川崎区日進町,  神奈川県 
Japan
https://pmeasuring.jp
  • 小間番号5127

Without measurement there is no control®

Particle Measuring Systems(PMS®)は1972年、世界に先駆けてレーザーダイオードを用いた光学式パーティクルカウンタを製品化しました。それ以来50年以上にわたり、微粒子汚染モニタリング技術の向上に取り組み、効果的な清浄度管理を実現するモニタリング・ソリューションを提供しています。

ナノパーティクル対応製品を展示します。

  • 凝縮型 10nm 気中パーティクルカウンタ: NanoAir™10
  • 超純水用 20nm 液中パーティクルカウンタ: Ultra DI®20 Plus 
  • 薬液用 20nm 液中パーティクルカウンタ: Chem™20 

ご来場をお待ちしております。


 プレスリリース

  • ~ 最先端半導体製造において高度化する清浄度管理に対応する製品を展示 ~

    PMS日本支社は、2024年12月11日(水)~13日(金)に東京ビッグサイトで開催される SEMICON Japan 2024 に出展いたします(小間番号:5127 / 東5ホール、出展者名:Particle Measuring Systems)。

    PMS日本支社は、米国 Particle Measuring Systems® (PMS®) 社の日本拠点として、PMS製品の販売とサービスの提供を行っています。PMSは1972年、世界に先駆けて、レーザーダイオードを用いた光学式パーティクルカウンタを製品化しました。それ以来50年以上にわたり、先進のモニタリング・ソリューションを最先端の電子デバイス製造や無菌医薬品製造などの分野に提供しています。

    本展示会では、ナノパーティクルを検出する以下の製品を展示いたします。

    【SEMICON Japan 2024 および PMS日本支社ブースについて】
    会期:2024年12月11日(水)~13日(金)  10:00~17:00
    会場:東京ビッグサイト(東京都江東区有明3-11-1)
    小間番号:5127(東5ホール )

    SEMICON Japan 2024 公式サイト:展示会 | SEMICON Japan
    出展者リストには、Particle Measuring Systems として登録されています。

    本件に関するお問い合わせ先: [email protected]


 出展製品

  • 凝縮型 10nm 気中パーティクルカウンタ: NanoAir™ 10
    局所クリーン空間の厳しい清浄度管理に対応。コンパクト設計。多様な用途に応える充実したオプション。...

  • NanoAir™ 10 は、より厳しい基準で管理される局所クリーン空間、特にウエハ搬送モジュール (EFEM) 内やプロセス装置内の常時モニタリングに適した凝縮型気中パーティクルカウンタです。流量2.8 LPMで測定し、粒径10 nmの微粒子を検出します。

    NanoAir 10は従来型の扱いやすさを備えた凝縮型パーティクルカウンタです。独自の凝縮制御機構 (特許出願中) により凝縮液は安定した状態に保たれ、24時間/365日フル稼働しても凝縮液の補充は15か月間必要ありません。年次校正の際に補充すれば、モニタリングの中断は最小限にとどまります。また、凝縮の過程で発塵することがないため、高い精度で測定結果が得られます。

    ローカル IPアドレスなど装置の設定情報は、取り外し可能なインターフェースユニットに保存されます。そのため、装置の入れ替えが必要なときには、インターフェースユニットを付け替えるだけでモニタリングを再開できます。

    多彩な入出力ポートを搭載しており、監視制御システムとの融和性が高く、また、アプリケーションに応じて高圧ディフューザ HPD IIIや専用のマニホールド ParticleSeeker™と組み合わせて使用することができます。

  • 超純水用 20nm 液中パーティクルカウンタ:Ultra DI® 20 Plus
    最先端の半導体製造に要求される高品質超純水のモニタリング用。冷却機構が安定した高精度測定を実現。...

  • Ultra DI® 20 Plus は、超純水のインライン・モニタリングに最適化された光学式液中パーティクルカウンタです。流量75 ml/minで測定し、20 nmの微粒子(20 nmのPSL粒子、9 nmのAu粒子)を検出します。

    Ultra DI 20 Plus は冷却機構を搭載しており、装置内部で発生する熱を効率よく外部に放出できるため、安定した精度の高い測定を実現します。信頼性、再現性の高いデータの取得が可能です。また、安定した内部温度は、レーザーを過度な劣化から守ります。メンテナンスとそれにかかるコストを軽減できることもUltra DI 20 Plus の強みです。

  • 薬液用 20nm 液中パーティクルカウンタ: Chem™ 20
    最先端の半導体製造に使用される高純度洗浄液のモニタリング用。幅広い屈折率に対応し、測定方式を問わず安定して高い精度で測定。...

  • Chem 20™ は、最先端の半導体製造において洗浄などに使用される高純度薬液中の不溶性微粒子を常時モニタリングするために開発された、高感度の液中パーティクルカウンタです。超純水用の液中パーティクルカウンタ Ultra DI®シリーズで実績のある光学系をさらに進化させることにより、粒径20 mmの微粒子(20 nmのPSL粒子、9 nmのAu粒子)の検出が、高純度薬液でも可能になりました。

    幅広い屈折率に対応し、測定方式を問わず安定して高い精度で測定します。

    Chem 20は、SLS-20シリンジサンプラを組み合わせることで、バッチ測定にも対応します。