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日邦プレシジョン

韮崎市,  山梨県 
Japan
http://www.pnp.co.jp
  • 小間番号3022


半導体電気特性測定装置「Tera Evaluator」を出展します。 皆様のご来場を心よりお待ちしております。

 出展製品

  • 半導体電気特性測定装置「TeraEvaluator」
    非破壊・非接触で、パワー半導体の電気特性を計測...

    • 4インチ・6インチウェーハの電気特性の計測を非破壊・非接触で実現しました。原理的には、全ての半導体材料へ適応可能です。
    テラヘルツ分光測定にエリプソメトリの技術を導入した新しいテラヘルツ分光装置です。
    反射光学系の採用により、不透明な材料の測定に最適です。

Categories

203 装置、検査及び測定
  • 分光計：フーリエ変換赤外分光（FTIR)/減衰全反射FTIR(ATR-FTIR)/オージェ電子(AES)/SIMS
  • 膜厚：厚さ/均一性測定/エリプソメーター
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