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TOPPAN

文京区,  東京都 
Japan
  • 小間番号2129

今回、TOPPAN グループブースでは、設計やフォトマスクといった半導体製造の前工程で使用される部材から、FC BGA 基板、次世代半導体パッケージといった後工程で使われる部材など、幅広い製品やソリューションを紹介します。


 出展製品

  • FC-BGAサブストレート
    大型/高多層の半導体パッケージ基板...

  • FC-BGA(Flip Chip-Ball Grid Array)サブストレートは、LSIチップの高速化、多機能化を可能にする高密度半導体パッケージ基板です。TOPPANは、ビルドアップ配線技術を独自に発展させた超高密度配線構造のサブストレートを開発、半導体プロセスの微細化に対応した製品を提供しています。サーバー、AI、ネットワーク機器向けのハイエンドプロセッサをはじめ、幅広い用途向けLSIの多彩な要求に対し、設計から製造までお客さまのニーズをトータルにサポートします。

  • 有機インターポーザー
    ・パネルレベルでデュアルダマシンプロセスを適用した微細配線基板 ・低CTEコアレスインターポーザーを業界最大クラスのパネルサイズで形成...

  • 微細配線基板

    ラージサイズのガラスパネルをキャリアとし、デュアルダマシンプロセスを用いて、L/S=2/2の微細配線を形成します。ラージサイズパネルでの製造により高い生産性を有し、製品サイズの大型化に対応します。またラージサイズパネルに対して半導体前工程に由来するダマシンプロセスの適用に成功し、今後さらなる微細化も期待されます。この技術は、大型サイズの有機RDLへの適用を予定しています。

    T-RECS

    T-RECS(TOPPAN RDL Embedded Coreless Substrate)は、再配線層に低膨張係数(CTE)の有機材料を使用したコアレス構造の有機インターポーザーです。L/S=2/2umのRDLを低CTE・高弾性有機絶縁樹脂(EMC、Laminates)で補強する構造により、チップとFC-BGA間のCTEミスマッチを低減させ、RDL単独での電気検査保証も可能です。業界最大クラスのラージサイズパネルでの製造に成功し、高い生産性と100mmを超える大型インターポーザーにも対応します。

  • ガラスパネル基板
    TGVと異なる深さのキャビティを混在させたラージサイズのガラスパネル基板...

  • TOPPAN独自のガラス加工技術を活かして、TGVと異なる深さの部品搭載用キャビティを形成します。ラージサイズパネルでの製造により高い生産性を有し、製品サイズの大型化にも対応します。FC-BGAサブストレートのコア基材やガラスインターポーザーへの活用で次世代半導体パッケージの実現を目指します。

  • LSIデザインサービス及びターンキーサービス、パワー半導体ターンキーサービス及びポーティングサービス
    LSIデザインパートナーとして50年以上の実績のあるTOPPANデバイスソリューションに、国内ファンダリメーカーとの協業によるパワー半導体向けターンキーサービスが加わりました。...

  • LSIデザインサービス
    TOPPANは、約50年にわたりLSIの開発・設計サービスを提供しています。
    アナログ、メモリ、LCD、LEDドライバ、マイコンロジックなど幅広い分野の開発実績があります。
    特にRF、アナログ・ミックスドシグナル開発では、電源回路、増幅回路、高周波LSI、システムLSIのデジタル混載マクロなど豊富な技術を蓄積、業界トップクラスのノウハウを誇ります。

    LSIターンキーサービス・試作サービス
    お客さまの要求仕様に基づき、回路設計からLSI試作・量産までをトータルに提供するソリューションサービスです。
    アナログ系では、無線通信技術、高速伝送技術、センサー回路、電源回路に、デジタル系では低消費電力技術に強みがあります。
    特徴あるパートナーと連携してお客さまのカスタムLSIのご要望を実現します。

    パワー半導体ターンキーサービス・ポーティングサービス
    ウェハ製造キャパシティの確保が困難な車載・産業機器・ファクトリーオートメーション向けをはじめとするパワー半導体を対象として、パワー半導体のターンキーサービスを提供しています。
    設計からパッケージング・量産までのトータルソリューションサービスだけではなく、ウェハ製造の受託も可能です。
    また、デバイスメーカーが保有するウェハ製造プロセスのポーティングや、部分加工の受託サービスも展開しています。
    本サービスを利用することで、多品種小ロット品の安定供給が可能となります。
  • EUVフォトマスク
    フォトマスクは半導体製造で使われる回路原版で、高精度の石英のプレート上に回路パターンが描かれています。半導体の微細化が進む中、7nmノード以細の次世代露光技術として短波長13.5nmのEUV(Extreme UltraViolet)光が使用されています。EUVフォトマスクは、次世代の半導体デバイスの高性能化や微細化において、不可欠な要素となっています。...

  • EUVフォトマスクは、極端紫外線(EUV)露光技術で使用される特殊なフォトマスクです。このフォトマスクは、半導体製造プロセスにおいて微細な回路パターンをシリコンウェハに転写するために使用されます。従来のフォトマスクは主に193nm~365nmの露光波長を使用してますが、EUV光はより短波長の13.5nmの露光波長です。7nmノード以細からEUV光が適用されています。
    EUVフォトマスクは、以下の特徴を持ちます。
    • マスク構造: EUVフォトマスクは、反射型マスクであり、反射率の高い金属層で構成されています。この金属層は、光を効果的に反射し、パターンを形成します。
    • 高解像度: EUV技術は、従来の光リソグラフィよりも短波長を使用するため、はるかに小さなパターンを描くことができ、回路の微細化を促進します。これにより、次世代の半導体デバイスの製造が可能になります。
    EUVマスクは、次世代の半導体デバイスの高性能化や微細化において、不可欠な要素となっています。