日本セミラボ株式会社
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※半導体検査測定装置の販売及び技術サービスをご提供しています。
| ・ キャリア ライフタイム測定装置 |
・ Epi（エピ）膜厚測定装置 |
・ パワーデバイス |
・ COMS イメージャー |
| ・ 分光エリプソメーター |
・ キャリア移動度測定装置 |
・ 量子ドット |
・ メモリー |
| ・ 結晶欠陥検査装置 |
・ DLTSシステム |
・ NAND |
・ 抵抗率 |
| ・ トレンチ溝評価装置 |
・ 結晶欠陥可視化装置 |
・ SAWフィルタ |
・ BAWフィルタ |
| ・ 全自動拡がり抵抗測定装置 |
・ イオン注入プロセスモニター |
・ キャリア濃度 |
| ・ キャリア濃度測定装置 |
・ ラマン分光 |
| ・ 水銀プローブCV-IV測定装置 |
・ フォトルミネッセンス |
| ・ 金属汚染評価装置 |
・ エピ抵抗率測定装置 |
| ・ 非接触CV測定装置 |
・ SiC GaN HEMT InP化合物向け |