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タカノ

千代田区神田須田町,  東京都 
Japan
https://www.takano-net.co.jp/portal/field/image_inspection/
  • 小間番号W1053


出展内容をご覧いただきまして、誠にありがとうございます。

1987年に独自ブランドの画像処理検査装置を発売して以来、機能向上と用途の拡大を図り、ウェーハ検査装置、フィルム検査装置、ICパッケージ検査システム、FPD検査装置などの製品をラインナップ。様々な業界の品質管理にソリューションを提供しています。


 プレスリリース

  • タカノ株式会社(本社:長野県上伊那郡宮田村、代表取締役社長:鷹野 雅央)は、2025年12月17日(水)~19日(金)に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2025」に出展いたします。

    今回の出展では、デバイスメーカー、装置メーカー、材料メーカー、ウェーハメーカーなどに向けた、半導体製造工程向けの最新検査装置を紹介いたします。

    ウェーハ表面検査装置WMシリーズの最新モデル「WM-7SR+/WM-10R+」や、WLP向けバンプ検査で定評のある「ALTAXシリーズ」を更に進化させ、PLP向け角基板、ガラスコアにも対応可能な2D検査と3D検査を高度に融合したNew「ALTAX」 をご覧いただけます。

    ぜひこの機会に弊社ブースへお立ち寄りいただき、最新モデルの性能や詳細な仕様を実際にご確認ください。

    出展内容のご案内

    ウェーハ表面検査装置 WM+シリーズ

    WM-10R+
    WM-7SR+

    半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせないウェーハ表面検査装置WMシリーズの最新モデル「WM-7SR+/WM-10R+」をリリースいたします。


    WMシリーズはナノレベルのパーティクル(異物)検出が可能で、国内外の半導体メーカーや材料メーカーで広くご使用いただいております。光源には半導体レーザーを採用し、ランニングコストの低減にも貢献します。

    WM-7SR+/WM-10R+ は国際的な安全認証を取得済みで、かつ構成部材の見直しを行い長期使用に対応した信頼性を確保。安心して長期間ご利用いただける設計となっております。

    詳しくはこちらから

    URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/

    ウェーハ外観検査装置 Viシリーズ

    Vi-4207/Vi-4307
    Vi-5301

    ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、5種類のラインナップからご提案できます。

    Viシリーズ 検出欠陥例

    詳しくはこちらから

    URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/

    マイクロバンプ全面測定装置 ALTAX-300EX

    マイクロバンプ検査装置ALTAX-300EX

    自社開発の高速カメラを搭載し、マイクロバンプの高さを高速で全数検査可能です。
    独自アルゴリズムを搭載したハード処理とバンプ数に影響を受けない高速性を弊社ブースにてご確認ください。

    詳しくはこちらから

    URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax-300ex/

    2D 3D検査装置 ALTAX

    2D 3D検査装置 ALTAX

    業界最速3D検査に、2D外観検査を搭載。1台で2D+3D検査を網羅し、PKG基板のみならず、ガラス基板やウェハまで拡張可能。高スループットで品質とコストの両立を実現し、次世代ラインの多様なニーズに応えます。

    詳しくはこちらから

    URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/

    フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ

    無地高速微細画像検査装置システム Hawkeyes one

    Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。

    自社製高性能カメラと新開発の画像処理ユニットの採用により、業界最速クラスの検査速度を実現しました。高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能の設定が可能です。また、複数処理を並列化し、多彩な欠陥検出も行えます。

    詳しくはこちらから

    URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/one/

    PSL粒子塗布ウェーハ

    PSL粒子 ※イメージ

    半導体装置管理に欠かせない PSL粒子塗布ウェーハ は、検査装置の校正や評価に使用され、検出感度や精度の確保に重要な役割を果たします。粒径はご要望に応じて調整可能です。

    製造プロセスの異物管理や装置性能維持、歩留まり向上に貢献します。詳細はタカノブースにてご相談ください。

    タカノについて

    「製造業から『創造業』へ」
    ばねの製造に始まり、オフィス家具、エクステリア製品へ。そして先進のエレクトロニクス製品、さらには医療・福祉関連製品、臨床検査薬へとタカノは次々に新分野への参入を実現し、常に新しい製品の開発にチャレンジしてきました。この展開力こそがタカノの特色であり、発展の源です。
    「常に高い志を持ち、社会のルールを守り、世の中の変化を見すえ、持続的成長・発展を通じ、豊かな社会の実現に貢献する」という経営基本理念にのっとり、これからもあらゆる角度から可能性を追求し、未踏の領域に挑戦していきます。

    【会社概要】
    会社名 : タカノ株式会社
    東京証券取引所スタンダード市場上場(証券コード:7885)
    所在地 : 長野県上伊那郡宮田村137
    代表者 : 代表取締役社長 鷹野 雅央
    創業  : 1941年7月1日
    設立  : 1953年7月18日
    URL   : https://www.takano-net.co.jp
    事業内容: 事務用椅子、その他椅子等のオフィス家具、ばね、エクステリア製品、エレクトロニクス関連製品 (画像処理検査装置、電磁アクチュエータ)、医療・福祉機器の製造ならびに販売


 出展製品

  • ウェーハ表面検査装置 WM+シリーズ
    WMシリーズは、ノンパターンウェーハ表面のパーティクルを高感度で検出可能なハイコストパフォーマンス装置です。レーザー散乱技術を用いた光学式検査により、工程管理や装置管理用途として業界で幅広くご利用いただいています。...

  • 半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせないウェーハ表面検査装置WMシリーズの最新モデル「WM-7SR+/WM-10R+」をリリースいたします。

    WMシリーズはナノレベルのパーティクル(異物)検出が可能で、国内外の半導体メーカーや材料メーカーで広くご使用いただいております。光源には半導体レーザーを採用し、ランニングコストの低減にも貢献します。

    WM-7SR+/WM-10R+ は国際的な安全認証を取得済みで、かつ構成部材の見直しを行い長期使用に対応した信頼性を確保。安心して長期間ご利用いただける設計となっております。

    詳しくはこちらから

    URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/

  • ウェーハ外観検査装置(Viシリーズ)
    ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などの製品外観を高速、高精度に検査します。...

  • ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、5種類のラインナップからご提案できます。

    詳しくはこちらから

    URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/

  • マイクロバンプ全面測定装置 ALTAX-300EX
    通常、高倍率でのウェーハ全面検査には検査時間が長くかかってしまうため、全数検査をするには検査装置を複数台購入する必要があり、検査工程に今まで以上にコストがかかってしまう懸念がありました。 タカノのALTAX-300EX では新たに開発した自社製高速カメラを用いることで、直径10μm、ピッチ20μmまでのマイクロバンプを高速で全数検査ができるようになりました。...

  • 自社開発の高速カメラを搭載し、マイクロバンプの高さを高速で全数検査可能です。
    独自アルゴリズムを搭載したハード処理とバンプ数に影響を受けない高速性を弊社ブースにてご確認ください。

    詳しくはこちらから

    URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax-300ex/

  • 2D 3D検査装置 ALTAX
    半導体ウェーハやBGA,CSPなどのパッケージ基板上に形成されたバンプの高さ、径およびコプラナリティを高速かつ高精度に測定します。独自に改良を重ねた光学系とデータ処理方法(Time Delay Scanning)の採用により、これまでの光切断方式にない高精度測定が可能となりました。...

  • 業界最速3D検査に、2D外観検査を搭載。1台で2D+3D検査を網羅し、PKG基板のみならず、ガラス基板やウェハまで拡張可能。高スループットで品質とコストの両立を実現し、次世代ラインの多様なニーズに応えます。

    詳しくはこちらから

    URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/

  • PSL粒子塗布ウェーハ
    半導体装置管理に欠かせない PSL粒子塗布ウェーハ は、検査装置の校正や評価に使用され、検出感度や精度の確保に重要な役割を果たします。粒径はご要望に応じて調整可能です。 製造プロセスの異物管理や装置性能維持、歩留まり向上に貢献します。...

  • 半導体装置管理に欠かせない PSL粒子塗布ウェーハ は、検査装置の校正や評価に使用され、検出感度や精度の確保に重要な役割を果たします。粒径はご要望に応じて調整可能です。

    製造プロセスの異物管理や装置性能維持、歩留まり向上に貢献します。詳細はタカノブースにてご相談ください。