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双程科技股份有限公司

http://www.se-group.com
  • Booth: K2382

Welcome to Hall 1 ，1 F，K2382 SE TECHNOLOGIES CORP.

Overview

Advanced equipment, Timely Support

Originated from engineers, seeing test requirements from an engineer's perspective~~

SE strives to provide customers with more complete advanced equipment and professional services .

About SE 

Founded on Jan. 1st, 1993, SE originated from engineers and understands the needs of engineers.

From RF/Microwave, Semiconductors, High Precision Electronics, and Opto-Electronics torecent MEMS and Nano Technologies, SE introduces the world's leading solutions to the Greater China area engineers.Finding the best tools to help engineers become successful has been SE's mission and honor for 30 years. SE Technologies isthe world's leading solution provider in the fields of RF/Microwave, Semiconductors, Optoelectronics and Electronics. 

SE Provision

■  Wafer-level high-precision probe station and related peripheral devices

■  Micro-nano pitch probe, probe card, locator (probe holder)

■  PCB signal integrity test and high-frequency probe

■  ESD electrostatic discharge test equipment

■   Advanced channel simulator (simulator)

■  Ground and satellite wireless system RF link analogy

■  RF/microwave test fixture, PCB test fixture

Contact SE

HsinChu

   TEL：+886-3-579-9029               FAX：+886-3-579-9030

   Mail：[email protected]

  Press Releases

  • PurePulse - 靈活高效的ESD測試

    先進雙針技術/在片, 封裝, ESD測試

    提供TDR, TDR-O, TDR-S, TDRT和TDT配置，以滿足高壓配件和MEMS等特定測試需求

    PurePulse是一款靈活高效率ESD測試儀，能夠測試器件和晶圓;
    PurePulse HBM測試系統包括Signatone ChechMate系列半自動探針台和FP100飛行探針;

    PurePulse靜電放電測試系統採用了模組化設計, 可依照客戶的測試需要做系統組態,並可滿足低寄生效應的靜電放電(ESD)測試需求。
    PurePulse系統的雙針式測試(2-pin test)把寄生效應降到最低，不需要定製待測件固定夾具便可以自動測試有成千上萬個待測管腳/焊盤(Pins)的待測件，而且可捕獲波形資料。

    ◢選擇PurePulse的理由

      ■ 雙針式測試

         所有ESD波形均採用雙針方式, 支援最新的ESD測試標準

     ■ 模組化設計

        人體模型(HBM) , 機器模型(MM) , 傳輸線脈衝(TLP) , 極快傳輸線脈衝(VF-TLP, UF-TLP) , 人體金屬模型(HMM)

     ■ 晶圓級測試

        封裝前檢測,節省時間與成本

     ■ 無待測件管腳/焊盤(Pins)數限制

        PurePulse系統採用飛針技術；100x100mm 範圍內按照用戶的需求測試無限制數量的Pins

     ■ 系統擴展/升級和定製​

       依照用戶測試需求配置目前需要的系統，未來可增加脈衝產生器, 自動化和/或新的測試專案滿足需求

    PurePulse HBM測試系統包括Signatone ChechMate系列半自動探針台和FP100飛行探針

    歡迎來電/來函谘詢 +886-3-579-9029/ [email protected]

    SE TECHNOLOGIES See Your Needs!

  • 高功率半導體測試探針台

    為電力電子行業提供全方位的大功率探測解決方案

    美國SIGNATONE 公司研發生產 的PowerPro系列探針台系統與解決方案，可與各大廠家的大功率測試儀錶及測試機整合做大功率半導體晶圓針測，

    專有的高壓探針（HVP）和大電流探針（HCP）的設計滿足功率器件特性在晶圓級的挑戰。

    ■ 手動、半自動 4寸、6寸、8寸、12寸

    ■ 溫度範圍：常溫 ~ 200℃, 300℃

    ■ 卡盤（Chuck）承載：

       電壓：3 KV 三軸, 10 KV雙軸, 20 KV 單芯

       電流：100A ~ 500A 脈衝，10A 直流

    ■ 大電壓探針：1KV , 3KV, 10KV , 20KV

    ◢ 導通(On-state)器件測量

      ■大電壓探頭具三軸能力, 提供最佳的大電壓和低電流測量的整合

      ■大電流和大電壓探頭都採用了可更換探針的設計，以降低長期使用成本與減少測量中斷時間

      ■PowerPro系列各型號探針台晶片卡盤；專為大功率針測安全考慮或低雜訊針測設計

    ◢ 聯鎖安全放電箱(ISDB, Interlock Safety Discharge Box)

       ■強化晶片卡盤在高電壓偏置、接地、浮接(Floating)狀態間轉換的安全性與操作的方便性

       ■抗電弧/防打火、聯鎖安全放電一體化、測試環境遮罩。

    SE Technologies,  See Your Needs！

    歡迎來函/來電諮詢

    [email protected]/ (03)579-9029

  • 半導體檢測探針台

    晶片/封裝/模塊測量

    手動, 半自動,  4吋,  6吋,  8吋,  12吋/精密DC/ RF探針台

    ■  直流參數, 高頻參數

    ■  高壓, 大電流測試, IV,  CV測試

    ■  負載牽引,  噪聲參數

    ■  失效分析,  可靠性測試

    特征

    ■  溫度範圍: -65℃~600℃

    ■  低漏電: fA

    ■  頻率範圍: 直流~太赫茲

    ■  奈米解析度探針座

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    歡迎來函/來電諮詢

    [email protected]/ (03)579-9029

  • 四點探針電阻率測量系統

    SIGNATONE自1968年以來已經開始提供四點探針電阻率測量系統

    ◆Pro4系列手動四點探針台

      提供了簡易方便測量 -----

      片電阻率 (Sheet Resistivity)

      體電阻率 (Bulk Resistivity)

    ◆Pro4電腦軟體系統

    自動控制Keithley 2450/2600系列----

    逐步執行多個電流設定以找到準確讀數的理想電流,進行V/I測量並記錄

    QuadProII 自動電阻率測量系統

    QuadProII是專為滿足矽片、薄膜、太陽能電池和各種應用的研究需求而設計的;通常用於幫助確定薄膜沉積過程，沉積在晶圓或襯底上的薄膜和厚薄膜可以被精確地映射

    ◢QuadProII 電阻率測量系統提供：

    ■測量電阻、電阻率或厚度

    ■ 報告平均、標準最小偏差，最大和1Sigma資料集

    ■ 溫度係數電阻值(TCR)綜合測量，溫控chuck 和source meter

    ■ 自動2D彩色等高線圖，3D和橫截面映射

    ■ 採用雙重標準配置測試改進的方法具準確性和可重複性

    ■ 測試樣品10mm至300mm

    ■ P/N Typing &Comparative Mapping

    更多產品資訊--

    歡迎來函/來電諮詢

    [email protected] / +886-3-579-9029

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  • 微米級和納米級探測 /極細間距參數探針卡

    微凸塊(MicroBump) / 小晶片(Chiplet)

    Xallent Inc. 是精細間距探測領域的全球領導者, 設計, 開發, 製造和銷售；用於微米和奈米級探測測量的先進硬體和軟體工具。
    Xallent 的專利細間距探針卡和測試系統用於晶片,先進封裝和薄膜材料最精密的測試應用。

    微米級和奈米級探測----實現可重複, 準確且快速的測量

    細間距探測技術提供新材料開發和晶片製造過程中所需的早期可行見解

    細間距四點探針Fine Pitch Four Point Probe

    •  微凸塊(MicroBump)
    •  小晶片(Chiplet)
    •  測量薄膜材料/電阻, 薄層電阻和電阻率
    •  奈米級分辨率(低至800奈米間距)
    •  奈米級間距的客製化四點探針

    規格

    •  探針寬度：5 µm ±1 µm
    •  間距：10 µm
    •  漏電流：~500 pA @ 5 V
    •  電流承載能力：100mA

    參數探針Parametric Probes/客製化探針及更多…

    細間距參數探針探測減少了製造成本

    Xallent參數探針大大減少了探針寬度, 間距和尖端表面積, 使每個測試晶片能夠容納更多的DUT

    •  傳輸線測量(TLM)
    •  薄層電阻
    •  Kelvin電阻
    •  直流/高頻測試

    歡迎來電/來函谘詢 +886-3-579-9029/ [email protected]

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  Products

  • Semiconductor Detection Probe Station
    堅持超過50年工匠精神 專業 .高品質. 探針台設備製造商
    SIGNATONE 為世界各地半導體製造商的積體電路故障分析和驗證提供必要的解決方案
    探針台是半導體（包括積體電路、分立器件、光電器件、感測器）行業重要的檢測裝備之一
    其廣泛應用於複雜、高速器件的精密電氣測量，旨在確保品質及可靠性，並縮減研發時間和器件製造工藝的成本...

    • 半導體 檢測探針台

    探針台是半導體（積體電路，分立器件，光電器件，感測器）行業重要的檢測裝備之一；

    其廣泛應用於複雜,高速器件的精密電氣測量,旨在確保品質及可靠性，並縮減研發時間和器件製造工藝的成本。

    通過與測試儀器的配合，探針台將參數特性不符合要求的晶片記錄下來，在進入後序工序前予以剔除，大大降低器件的製造成本。

    探針台主要用於晶圓製造環節的晶圓檢測，晶片研發和故障分析等應用；

    半導體電性測量/晶片/封裝/ 模塊測量

    手動, 半自動, 4吋, 6吋, 8吋, 12吋/精密DC/RF 探針台

    ◆ 應用

    ■  直流參數,  高頻參數                              ■  高壓, 大電流測試 ,  IV,  CV測試 
    ■  負載牽引,  噪聲參數                              ■  失效分析, 可靠性測試

    ◆  特徵

    ■  溫度範圍： -65 ℃ ~ 600 ℃                 ■  低  漏  電：fA 
    ■  頻率範圍：直流~太赫茲                       ■  奈米解析度探針座

    堅持超過50年工匠精神 專業 .高品質. 探針台設備製造商

    SIGNATONE 公司為專業.高品質.探針台設備製造商,行業應用---半導體、電子、電路板、光子學

    SIGNATONE的使命是繼續為世界各地半導體製造商的積體電路故障分析和驗證提供必要的解決方案

    先進設備 盡在雙程

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    歡迎來函/來電谘詢

    [email protected]/ (03)579-9029

  • ESD Test Solution
    PurePulse - 靈活高效的ESD測試
    先進雙針技術/在片, 封裝, ESD測試;
    提供TDR, TDR-O, TDR-S, TDRT和TDT配置，以滿足高壓配件和MEMS等特定測試需求
    PurePulse靜電放電測試系統採用了模組化設計, 可依照客戶的測試需要做系統組態，並可滿足低寄生效應的靜電放電
    (ESD)測試需求；此測試系統可配置成對封裝好的器件進行測試，也可配置成對晶片（Wafer, Chip, Die）進行測試。...

    • PurePulse - 靈活高效的ESD測試

    先進雙針技術/在片, 封裝, ESD測試

    提供TDR, TDR-O, TDR-S, TDRT和TDT配置，以滿足高壓配件和MEMS等特定測試需求

    ◢選擇PurePulse的理由

           ▄ 雙針式測試

              不需要固定裝置，所有ESD波形均採用2針方式，支援最新的ESD測試標準

           ▄ 模組化設計

              人體模型(HBM)、機器模型(MM)、傳輸線脈衝(TLP)、極快傳輸線脈衝(VF-TLP、UF-TLP)、人體金屬模型(HMM)

           ▄ 晶圓級測試

              封裝前檢測，節省時間和費用。

          ▄ 無待測件管腳/焊盤(Pins)數限製

              PurePulse系統採用飛針技術。可在100x100mm範圍內按照用戶的需要測試無限數量的管腳(Pins)

          ▄ 系統擴展/升級和定製

             根據使用者測試需求配置目前需要的系統；日後可增加脈衝發生器、自動化和/或新的測試專案，以滿足未來的需求

    Grund Technical Solutions (GTS) is now PurePulse ESD

    Lucas-Signatone Corp (Signatone) is pleased to announce the creation of the PurePulse ESD Division.

    Signatone has worked closely with Grund Technical Solutions (GTS) for many years.

    Together, we have advanced 2-pin technology in ESD testing of Package Devices and wafer level circuits

    with Signatone probing equipment and GTS PurePulse ESD testing modules with Maestro software.

    At the end of 2024, with the GTS founder, Evan Grund retiring, Lucas-Signatone purchased GTS in its entirety. All GTS products, services and personnel are now the PurePulse ESD Division of Lucas Signatone.

    The PurePulse ESD division will continue to be the leader in 2-pin testing of 300mm wafers. In the immediate future, new offerings in 2-pin package device testing and advances in VF-TLP will be introduced. We look forward to working with customers and the ESD society to advance ESD testing technology.

    歡迎來電/來函谘詢 +886-3-579-9029/ [email protected]

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  • Resistivity Measurement System
    自1968年以來，Lucas-SIGNATONE設計並製造了用於測量半導體片電阻率的四點探測設備,四點探針測量系統已應用於各種材料研究應用，測量各種襯底上的薄膜。
    Pro4 四點探針電阻率測量系統為薄膜和體電阻率測量提供了簡單的答案, 為了進行測量, 用戶將四點探針頭降低到樣品上, 然後搭配選擇軟體中的測試按鈕, 電腦自動控製儀器, 並逐步通過一些電流設置, 以找到準確讀數的理想電流, 進行V/I測量並記錄;
    QuadProII是專為滿足矽片、薄膜、太陽能電池和各種應用的研究需求而設計的;...

    • 四點探針電阻率測量系統

    膜厚/電阻率/電阻溫度係數

    自1968年以來，Lucas-SIGNATONE設計並製造了用於測量半導體片電阻率的四點探測設備,四點探針測量系統已應用於各種材料研究應用，測量各種襯底上的薄膜。

    ◆Pro4系列手動四點探針台

      提供了簡易方便測量 -----片電阻率 (Sheet Resistivity)   、體電阻率 (Bulk Resistivity)

    ◆QuadProII是專為滿足矽片、薄膜、太陽能電池和各種應用的研究需求而設計的;

    此外，QuadProII通常用於幫助確定薄膜沉積過程，沉積在晶圓或襯底上的薄膜和厚薄膜可以被精確地映射; 

    ◢QuadProII 電阻率測量系統提供：

    ■測量電阻、電阻率或厚度

    ■ 報告平均、標準最小偏差，最大和1Sigma資料集

    ■ 溫度係數電阻值(TCR)綜合測量，溫控chuck 和source meter

    ■ 自動2D彩色等高線圖，3D和橫截面映射

    ■ 採用雙重標準配置測試改進的方法具準確性和可重複性

    ■ 測試樣品10mm至300mm

    ■ P/N Typing &Comparative Mapping

    更多電阻率測量系統相關訊息

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  • High Power Semiconductor Testing
    SIGNATONE 研發生產 的PowerPro系列探針台系統與解決方案，可與各大廠家的大功率測試儀錶及測試機整合做大功率半導體晶圓針測；專有的高壓探針（HVP）和大電流探針（HCP）的設計滿足功率器件特性在晶圓級的挑戰...

    • 高功率半導體測試

    專有的高壓探針（HVP）和大電流探針（HCP）的設計滿足功率器件特性在晶圓級的挑戰

    多年以來，半導體科學家與工程師通常在大功率器件封裝之後才能開始做器件的測量與表徵工作；

    雖然器件封裝是一項成熟的技術，但是表徵器件需要先封裝這事總是需要額外的成本與時間。

    SIGNATONE 研發生產 的PowerPro系列探針台系統與解決方案，可與各大廠家的大功率測試儀錶及測試機整合做大功率半導體晶圓針測，專有的高壓探針（HVP）和大電流探針（HCP）的設計滿足功率器件特性在晶圓級的挑戰。

    ◢ 針測晶圓能力可達

       ■3kV三軸 / 10kV 同軸 / 20KV單芯                                ■500A脈衝／10A直流

    ◢ 導通(On-state)器件測量

      ■大電壓探頭具三軸能力, 提供最佳的大電壓和低電流測量的整合

      ■大電流和大電壓探頭都採用了可更換探針的設計，以降低長期使用成本與減少測量中斷時間

      ■PowerPro系列各型號探針台晶片卡盤；專為大功率針測安全考慮或低雜訊針測設計

    ◢ 聯鎖安全放電箱(ISDB, Interlock Safety Discharge Box)

       ■強化晶片卡盤在高電壓偏置、接地、浮接(Floating)狀態間轉換的安全性與操作的方便性

       ■抗電弧/防打火、聯鎖安全放電一體化、測試環境遮罩。

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  • Micro and Nanoscale Probing Measurements
    Xallent Inc. 是精細間距探測領域的全球領導者, 設計, 開發, 製造和銷售
    用於微米和奈米級探測測量的先進硬體和軟體工具。
    Xallent 的專利細間距探針卡和測試系統用於晶片,先進封裝和薄膜材料最精密的測試應用。...

    • 微米級和納米級探測 /極細間距參數探針卡

    微凸塊(MicroBump) / 小晶片(Chiplet)

    Xallent Inc. 是精細間距探測領域的全球領導者, 設計, 開發, 製造和銷售
    用於微米和奈米級探測測量的先進硬體和軟體工具。
    Xallent 的專利細間距探針卡和測試系統用於晶片,先進封裝和薄膜材料最精密的測試應用。

    Xallent四點探針可直接測量薄膜材料的薄層電阻和電阻率

    Xallent的四點探針幫助材料研究人員解決了關鍵問題

    ◢ 特點：

        ● 無需樣品製備：

       消除了在進行電測試之前使用昂貴且破壞性的光刻、蝕刻和沉積技術在薄膜上圖案化和沉積金屬電極的需要

    ● 易於接觸有效測試：

     小尺寸的探針為在微奈米尺度上快速有效地測試材料開闢了新的領域。

    ● 解析度：

     Xallent的細間距四點探頭提供了必要的空間解析度，以揭示材料的表面導電性分佈，從而實現可靠性和產量 的目標優化。

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產品種類

200 Equipment, Assembly
  • Package Handling; Conveying Equipment
  • Package Simulation; Characterization Equipment
    • 203 Equipment, Inspection & Measurement
  • CV (capacitance-to-voltage) Probe systems
  • Instruments; Bench Top Test
  • Microscopes: Optical Microscopes
  • Resistivity Measurement; 4 point probe; Sheet resistance
    • 207 Equipment, Process
  • Wafer Identification; Marking Equipment
    • 208 Equipment, Test
  • Burn-In Systems
  • ESD; EMS and Latch-up Systems
  • Failure Analysis Systems
  • Functional Test Systems
  • Handlers; Positioner Systems
  • Logic Test Systems
  • Parametric Test Systems
  • Probing Equipment incl. Analytical; Circuit; Manual; E-Beam; Optical; Wafer Probers
  • Test Contactor Cleaning; Conditioning Systems
    • 309 Materials, Test
  • Probe Cards; DUT boards and other probing accessories (incl Ceramic and Special Purpose Probe Cards)
    • 402 PV Systems
  • Measurement and Control Technology
    • 601 Design Software
  • EDA - Electronic Design Automation; Circuit Design
    • 603 Simulation, Analysis; Modeling Software
  • Simulation; Characterization; Verification Software
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