佳測新技股份有限公司

台灣新竹縣湖口鄉, 新竹縣
Taiwan
https://xtestek.com

Booth: T9143

Welcome to Xtreme Testek Inc.

Overview

佳測新技：引領高功率半導體量測的創新先鋒

佳測新技是第三代半導體量測領域的技術領航者。我們專注於 SiC（碳化矽）與 GaN（氮化鎵）等半導體電子特性分析，憑藉自主研發的頂尖平台，完美整合高電流、高電壓、高頻率及高溫等嚴苛測試條件，能精準執行 SiC 與 GaN 的靜、動態特性量測。

為滿足客戶的多元發展，我們提供靈活的商業模式，包含專業的「委外代測服務」與高效的「測試平台銷售」，致力成為您在研發與生產上的最佳後盾。

我們的核心技術不僅止於量測。憑藉在高功率與無線高頻領域的深厚積累，我們成功將專業延伸至尖端應用市場，為低軌衛星及無人通訊（無人機、機器人）提供高效能的功率放大器模組（PA module）與智慧天線；同時，我們也為智慧電表、智慧瓦斯表及綠能監控系統，提供穩定可靠的系統解決方案。

佳測新技，不僅是量測專家，更是您邁向高效能世代的合作夥伴。

Press Releases

化合物半導體測試與無線通訊共伴佳測新技營運起飛(經濟日報) (May 13, 2026)

化合物半導體測試與無線通訊共伴佳測新技營運起飛

2025/06/13 15:42:50

經濟日報翁永全

佳測新技開發第三代化合物半導體測試機台，推出XTK三溫SLT批次式量測系統、XTK多功能測試系統(Smart Chamber)、XTK WBG 量測系統等高效檢測平台，適用於氮化鎵(GaN)及碳化矽(SiC)元件量測，通過多家大廠認證，營收站在起飛階段。

總經理洪嘉鈞表示，佳測新技也提供代測服務，在AI伺服器、電動車充電及再生能源高速發展的帶動下，前景看好。副總經理張勝榮表示，化合物半導體具有高電壓、高電流、高頻及高溫特性，基於安全性要求，測試要求比消費性產品更嚴格，佳測新技整合AIoT技術，設備的準確性高於市場水準為最大優勢，藉由美商國家儀器（NI）的技術支援，在全球「去中化」浪潮及國家產業政策支持下，業務飛躍成長。

佳測新技團隊成員在物聯網及半導體測試領域具有超過10年以上經驗，持續研發創新，專精無線通訊模組，已開發許多應用領域。洪嘉鈞表示，受惠於台電推動家戶改裝智慧電表及能源署的智慧瓦斯桶計劃，佳測新技的通訊模組是兩者的核心，經多年布局，已供應國內智慧電表大廠。全台1,800萬家庭將陸讀安裝智慧電表，目前台電已安裝300萬戶，未來速度將加快，可望貢獻可靠的營收。

佳測新技的無線通訊模組持續深耕產業，擴大應用市場，在數位電表的無線介面通訊卡(Network Interface Card)相關的AMR/AMI平台做最佳整合，實現智慧化EMS管理系統，可穩定控制能源設備運作，精準掌握用電狀態，提供電網公司調控需求。此外，也積極投入無線遠端傳輸技術開發，結合AI技術，2025年將完成無線遠端圖傳模組產品。

洪嘉鈞強調，佳測新技看中以既有技術開發新的應用，解決工作及生活上的需求。2021年成立，度過四年的蹲馬步階段，今年營收將倍增並可望損益平衡。隨著兩大事業部步入起飛期，樂觀看待未來，具有翻倍成長的實力。

Products

XTK-005 Smart Chamber

1. 自動測試三溫爐・
2. 配置測試機可程式化電壓變換輸出・
3. 抽屜式獨立寬溫腔體設計・
4. 腔體數可自由搭配・
5. SOC, CPO, WBG 三溫工程驗證・
6. 出貨前三溫可靠度量產測試用・
7. 可有效節省人力、空間、能源・
8. 即時遠端監控及提供測試報告・... More Info Less Info

1. Automatic Tri-Temp. test oven.

2. Configurable ATE with programmable voltage conversion output.

3. Drawer-style independent Tri-Temp. chamber design.

4. Flexible number of chambers.

5. Tri-Temp. engineering verification for SOC, CPO, and WBG.

6. Monitor Burn-in in mass production testing.

7. Effectively saves manpower, space, and energy.

8. Real-time remote monitoring and test report provision.

XTK-006 WBG Test Bench

高壓高流專用測試機
1.內建模組：
-動態測試模組。
-靜態測試模組。
-熱阻測試模組。

2.支援新器件測試項目：
-工程參數測試。
-數據/參數測試。
-動態可靠性測試。

3.支持量產測試項目：
-晶圓測試。
-KGD功能測試。
-獨立器件功能測試。
-AI/車用電源模組測試。... More Info Less Info

High Voltage and High Current Tester.

1. Build in Module :

-Dynamic measurement (AC) module.

-Static measurement (DC) module.

-Thermal Resistance (FB) module .

2. Support New Device Test Items :

-Engineering Parameter Test.

-Data sheet parametric measurement.

-Dynamic Reliability Test.

3. Support Mass Production Test Items :

-Wafer CP Test.

-KGD Function Test.

-Discrete Package Function Test.

-AI/Automotive Power Module Test.

NITP - Non Invasive Test Program 非侵入式量測

由於碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 的工作電壓、頻率和溫度遠高於傳統矽，因此如果使用不當，標準測試技術很容易損壞它們。針對碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 裝置的非侵入式測試 (NIT) 程序，可以在不永久性地改變或損壞晶片的情況下評估半導體的品質和可靠性。這些測試流程可以篩選隱藏缺陷、評估效能退化情況，並在產品銷售前剔除不合格晶片。... More Info Less Info

Because SiC and GaN operate at much higher voltages, frequencies, and temperatures than traditional silicon, standard testing techniques can easily destroy them if misapplied.A Non-Invasive Test (NIT) Program for Silicon Carbide (SiC) and Gallium Nitride (GaN) devices evaluates semiconductor quality and reliability without permanently altering or damaging the chip. These test flows screen for hidden defects, evaluate degradation, and filter out weak dies before they are sold.

智慧能源監控系統、無線通訊產品設計服務

我們的核心技術不僅止限於量測。憑藉在高功率與無線高頻領域的深厚積累，我們成功將專業延伸至尖端應用市場，為低軌衛星及無人通訊（無人機、機器人）提供高效能的功率放大器模組（PA module）與智慧天線；同時，我們也為智慧電表、智慧瓦斯表及綠能監控系統，提供穩定可靠的系統解決方案。... More Info Less Info

Our core expertise extends beyond just measurement. By leveraging our deep knowledge accumulated in the high-power and high-frequency wireless domains, we have successfully expanded our proficiency into cutting-edge application markets. We provide high-performance Power Amplifier (PA) modules and smart antennas for Low Earth Orbit (LEO) satellites and unmanned communications (drones, robots). Concurrently, we also deliver stable and reliable system solutions for smart electricity meters, smart gas meters, and green energy monitoring systems.

XTK-008 晶元級矽電容(Si Cap / DTC) 測試機

專為晶圓級矽電容（Si Capacitor / DTC）量測與測試所設計的多通道量產測試平台，可整合 SMU、LCR Meter、高壓隔離電路及切換控制模組，支援電容量、品質因數（Q）、ESR、ESL、漏電流（I.R.）及耐電壓等關鍵電性參數測試。

系統採用多通道並行測試DUT架構，可依量產需求彈性擴充測試通道，客製化軟體整合database，並搭配 Probe Card、Fixture 及自動化晶圓測試設備，提升測試效率與 UPH，適用於晶圓級矽電容的研發驗證、工程測試及量產應用。... More Info Less Info

產品特色：

準確量測：支援電容、Q、ESR、ESL、I.R.、耐電壓等測試

快速測試：多通道架構，有效提升量產 UPH

多點並測：支援 Multi-DUT 並行測試

彈性整合：可搭配 Probe Card、Fixture 與自動化設備

量產導向：適合晶圓級測試與自動化生產線整合

客製化設計：依 DUT、測試規格及產線需求彈性配置