Shanghai CheYiTian Technology Ltd.

上海,  上海市 
China
http://www.cheyitian.com
  • Booth: 4344

Overview

上海车仪田科技专注于研发制造半导体设备专用光电控制子系统,公司团队成员拥有多年的半导体产品产业化经验,是国内半导体设备龙头公司的光电类供应商战略合作伙伴。

公司在工艺光谱分析、高精度温度测量及控制、气体液体浓度分析等技术领域提供在线检测式零部件和子系统,检测半导体设备上参与关键工艺流程。应用领域几乎覆盖半导体芯片制造的全部制作工艺,包括刻蚀去胶工艺、薄膜沉积外延工艺、热处理工艺、清洗工艺等。


  Products

  • OES终点检测系统
    OES(Optical Emission Spectroscopy)光学发射光谱法终点检测系统通过分析刻蚀过程中反应物或生成物的特征光谱强度变化来判断是否到达刻蚀终点。系统包含采集光谱变化趋势的逻辑和判断终点的算法,集成到等离子体刻蚀设备上,作为监测和控制工艺过程的关键手段。...

  • 光谱范围:200nm~800nm

    光谱分辨率:<1.5nm

    暗噪声:<20RMS@100ms

    积分时间:1ms~30s

  • RTC原位测量系统
    RTC(Reflectance Temperature and Curvature)原位测量系统通过光电转换模块采集晶圆上特定波段的辐射信号,进行温度、反射率和翘曲的计算和分析,并兼备异常报警功能和实时热力图功能,能够直观并实时地监测机台的工艺过程。...

  • 温度测量范围:400℃~2000℃(可定制);

    温度分辨率:0.1℃

    温度重复性:1℃

    温度精度:±1℃

  • NDIR气体浓度仪
    NDIR(Non-Dispersive Infrared)气体浓度仪是一种非色散红外光谱吸收仪器,根据朗伯比尔吸收定律,通过检测清洗工艺过程中氟化物或者其他特定气体的浓度变化,来判断是否清洗干净。在机台上安装使用,有效防止清洗不干净和过度清洗。...

  • 气体:SiF4、WF6、CF4、TiF4(可定制)     

    重复性:±0.5% F.S.

    零点噪声:±0.5% F.S.(3σ)

    零点漂移:±1% F.S./day